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高速 ADC (≥10MSPS)

ADS5517

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11 位、200MSPS 模数转换器 (ADC)

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Sample rate (max) (Msps) 200 Resolution (Bits) 11 Number of input channels 1 Interface type Parallel CMOS Analog input BW (MHz) 700 Features Low Power Rating Catalog Peak-to-peak input voltage range (V) 2 Power consumption (typ) (mW) 1230 Architecture Pipeline SNR (dB) 67.1 ENOB (Bps) 10.8 SFDR (dB) 86 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Input buffer No
Sample rate (max) (Msps) 200 Resolution (Bits) 11 Number of input channels 1 Interface type Parallel CMOS Analog input BW (MHz) 700 Features Low Power Rating Catalog Peak-to-peak input voltage range (V) 2 Power consumption (typ) (mW) 1230 Architecture Pipeline SNR (dB) 67.1 ENOB (Bps) 10.8 SFDR (dB) 86 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Input buffer No
VQFN (RGZ) 48 49 mm² 7 x 7
  • Maximum Sample Rate: 200 MSPS
  • 11-Bit Resolution
  • No Missing Codes
  • Total Power Dissipation 1.23 W
  • Internal Sample and Hold
  • 67-dBFS SNR at 70-MHz IF
  • 84-dBc SFDR at 70-MHz IF, 0-dB Gain
  • High Analog Bandwidth up to 800 MHz
  • Double Data Rate (DDR) LVDS and Parallel CMOS Output Options
  • Programmable Gain up to 6 dB for SNR/SFDR Trade-Off at High IF
  • Reduced Power Modes at Lower Sample Rates
  • Supports Input Clock Amplitude Down to 400 mVPP
  • Clock Duty Cycle Stabilizer
  • No External Reference Decoupling Required
  • Internal and External Reference Support
  • Programmable Output Clock Position to Ease Data Capture
  • 3.3-V Analog and Digital Supply
  • 48-QFN Package (7 mm × 7 mm)
  • APPLICATIONS
    • Wireless Communications Infrastructure
    • Software Defined Radio
    • Power Amplifier Linearization
    • 802.16d/e
    • Test and Measurement Instrumentation
    • High Definition Video
    • Medical Imaging
    • Radar Systems
  • Maximum Sample Rate: 200 MSPS
  • 11-Bit Resolution
  • No Missing Codes
  • Total Power Dissipation 1.23 W
  • Internal Sample and Hold
  • 67-dBFS SNR at 70-MHz IF
  • 84-dBc SFDR at 70-MHz IF, 0-dB Gain
  • High Analog Bandwidth up to 800 MHz
  • Double Data Rate (DDR) LVDS and Parallel CMOS Output Options
  • Programmable Gain up to 6 dB for SNR/SFDR Trade-Off at High IF
  • Reduced Power Modes at Lower Sample Rates
  • Supports Input Clock Amplitude Down to 400 mVPP
  • Clock Duty Cycle Stabilizer
  • No External Reference Decoupling Required
  • Internal and External Reference Support
  • Programmable Output Clock Position to Ease Data Capture
  • 3.3-V Analog and Digital Supply
  • 48-QFN Package (7 mm × 7 mm)
  • APPLICATIONS
    • Wireless Communications Infrastructure
    • Software Defined Radio
    • Power Amplifier Linearization
    • 802.16d/e
    • Test and Measurement Instrumentation
    • High Definition Video
    • Medical Imaging
    • Radar Systems

ADS5517 is a high performance 11-bit, 200-MSPS A/D converter. It offers state-of-the art functionality and performance using advanced techniques to minimize board space. With high analog bandwidth and low jitter input clock buffer, the ADC supports both high SNR and high SFDR at high input frequencies. It features programmable gain options that can be used to improve SFDR performance at lower full-scale analog input ranges.

In a compact 48-pin QFN, the device offers fully differential LVDS DDR (Double Data Rate) interface while parallel CMOS outputs can also be selected. Flexible output clock position programmability is available to ease capture and trade-off setup for hold times. At lower sampling rates, the ADC can be operated at scaled down power with no loss in performance. The ADS5517 includes an internal reference, while eliminating the traditional reference pins and associated external decoupling. The device also supports an external reference mode.

The device is specified over the industrial temperature range (–40°C to 85°C).

ADS5517 is a high performance 11-bit, 200-MSPS A/D converter. It offers state-of-the art functionality and performance using advanced techniques to minimize board space. With high analog bandwidth and low jitter input clock buffer, the ADC supports both high SNR and high SFDR at high input frequencies. It features programmable gain options that can be used to improve SFDR performance at lower full-scale analog input ranges.

In a compact 48-pin QFN, the device offers fully differential LVDS DDR (Double Data Rate) interface while parallel CMOS outputs can also be selected. Flexible output clock position programmability is available to ease capture and trade-off setup for hold times. At lower sampling rates, the ADC can be operated at scaled down power with no loss in performance. The ADS5517 includes an internal reference, while eliminating the traditional reference pins and associated external decoupling. The device also supports an external reference mode.

The device is specified over the industrial temperature range (–40°C to 85°C).
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设计和开发

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软件编程工具

HSADC-SPI-UTILITY — 高速 ADC SPI 编程工具

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支持软件

DATACONVERTERPRO-SW — High Speed Data Converter Pro 软件

此高速数据转换器专业 GUI 是一款 PC 程序（兼容 Windows® XP/7/10），旨在帮助评估大多数 TI 高速数据转换器和模拟前端 (AFE) 平台。DATACONVERTERPRO-SW 支持整个 TSW14xxx 系列的数据采集和模式生成卡，为分析时域和频域中的数据转换器提供了快速强大的解决方案以及单音调、多音调和调制信号支持。此 GUI 还兼容用于快速合成单音调、多音调和调制信号的 TI 模式生成 GUI。

用户可以为 DATACONVERTERPRO-SW 提供定制模式，以加载到 TI 数模转换器 (DAC)。支持从模数转换器 (ADC) 采集内导出 CSV (...)

用户指南: PDF | HTML
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计算工具

JITTER-SNR-CALC — 用于 ADC 的抖动和 SNR 计算器

JITTER-SNR-CALC 可用于根据输入频率和时钟抖动来计算 ADC 的理论信噪比 (SNR) 性能。
下载
模拟工具

PSPICE-FOR-TI — 适用于 TI 设计和模拟工具的 PSpice®

PSpice® for TI 可提供帮助评估模拟电路功能的设计和仿真环境。此功能齐全的设计和仿真套件使用 Cadence® 的模拟分析引擎。PSpice for TI 可免费使用，包括业内超大的模型库之一，涵盖我们的模拟和电源产品系列以及精选的模拟行为模型。

借助 PSpice for TI 的设计和仿真环境及其内置的模型库，您可对复杂的混合信号设计进行仿真。创建完整的终端设备设计和原型解决方案，然后再进行布局和制造，可缩短产品上市时间并降低开发成本。

在 PSpice for TI 设计和仿真工具中，您可以搜索 TI (...)
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  • 认证摘要
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