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产品详细信息

参数

Resolution (Bits) 18 Number of input channels 1 Sample rate (Max) (kSPS) 1000 Interface Enhanced SPI, SPI Architecture SAR Input type Differential Multi-channel configuration Rating Catalog Reference mode Ext Input range (Max) (V) 5 Input range (Min) (V) -5 Features Daisy-Chainable, Oscillator Operating temperature range (C) -40 to 125 Power consumption (Typ) (mW) 21 Analog voltage AVDD (Min) (V) 3 SNR (dB) 102.5 Analog voltage AVDD (Max) (V) 5.5 INL (Max) (+/-LSB) 1.5 Digital supply (Min) (V) 1.65 Digital supply (Max) (V) 5.5 Approx. price (US$) 10.53 | 1ku open-in-new 查找其它 精密 ADCs (<=10MSPS)

封装|引脚|尺寸

VQFN (RGE) 24 16 mm² 4 x 4 open-in-new 查找其它 精密 ADCs (<=10MSPS)

特性

  • 分辨率:18 位
  • 无延迟输出的高采样率:
    • ADS8910B:1MSPS
    • ADS8912B:500kSPS
    • ADS8914B:250kSPS
  • 集成 LDO 支持单电源操作
  • 无压降的低功耗基准缓冲器
  • 出色的交流和直流性能:
    • SNR:102.5dB,THD:–125dB
    • INL:±0.5LSB
    • DNL:±0.2LSB、18 位、无丢失码
  • 宽输入范围:
    • 单极差分输入范围:±VREF
    • VREF 输入范围:2.5V 至 5V
  • 单电源低功耗运行
    (包括内部基准缓冲器和 LDO)
    • ADS8910B:1MSPS 时为 21mW
    • ADS8912B:500kSPS 时为 16mW
    • ADS8914B:250kSPS 时为 14mW
  • 增强型 SPI 数字接口
    • 接口 SCLK:1MSPS 时为 20MHz。
    • 可配置数据奇偶校验输出
  • 扩展温度范围:-40°C 至 +125°C
  • 小型封装:4mm × 4mm 超薄四方扁平无引线 (VQFN) 封装

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描述

ADS8910B、ADS8912B 和 ADS8914B (ADS891xB) 属于引脚对引脚兼容的高速、单通道、高精度、基于 18 位逐次逼近型寄存器 (SAR) 的模数转换器 (ADC) 系列,且带有集成式基准缓冲器和集成式低压差稳压器 (LDO)。该器件系列包括 ADS890xB(20 位)和 ADS892xB(16 位)这两种分辨率型号。

借助 TI 的增强型 SPI 特性,ADS891xB 可提高模拟性能,同时保持高分辨率数据传输。增强型 SPI 支持 ADS89xxB 以较低时钟速度实现高吞吐量,从而简化板布局并降低系统成本。增强型 SPI 也简化了数据计时,从而使器件成为 FPGA、DSP 等应用的 理想选择。ADS89xxB 兼容标准 SPI 接口。

ADS891xB 具有内部数据奇偶校验功能,可以将其附加到 ADC 数据输出。主机使用奇偶校验位进行的 ADC 数据验证提高了系统可靠性。

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技术文档

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类型 标题 下载最新的英文版本 发布
* 数据表 具有集成式基准缓冲器和增强性能的 ADS891xB 18 位,高速 SAR ADC 特性 数据表 (Rev. B) 下载英文版本 (Rev.B) 2018年 3月 2日
应用手册 高电压电池监控器电路:±20V、0–10kHz、18 位全差分 (Rev. A) 下载英文版本 (Rev.A) 2019年 6月 17日
应用手册 高电流电池监控器电路:0-10A、0-10kHz、18 位 下载英文版本 2019年 4月 25日
应用手册 Attenuator amplifier design to maximize differential ADCs input voltage 2018年 6月 14日
应用手册 Improving Input Settling for High-Speed, High-Resolution SAR ADCs 2017年 12月 12日
应用手册 Optimizing Data Transfer on High-Resolution, High-Throughput SAR ADCs 2017年 12月 12日
应用手册 Enhanced SPI Tech Note 2017年 12月 11日
白皮书 Enabling Faster, Smarter and Robust Solutions for TI SAR ADCs With multiSPI 2016年 11月 8日
用户指南 ADS8910BEVM-PDK User's Guide 2016年 7月 1日
更多文献资料 ADS8910EVM-PDK Quick Start Guide 2016年 3月 16日
应用手册 所选封装材料的热学和电学性质 2008年 10月 16日
应用手册 模数规格和性能特性术语表 (Rev. A) 下载最新的英文版本 (Rev.B) 2008年 10月 16日
应用手册 高速数据转换 下载英文版本 2008年 10月 16日

设计与开发

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硬件开发

评估板 下载
说明

ADC-INPUT-CALC 是一种在线工具,可为设计模数转换器 (ADC) 的输入缓冲器提供支持。它提供 24 种不同的基于运算放大器的缓冲器电路,这些电路可用于驱动 ADC 输入。可用拓扑涵盖差分单端和变压器耦合输入设计。支持交流耦合和直流耦合设计以及单电源和双电源拓扑。提供两种模式:初学者模式和专家模式。在初学者模式中,设计人员先回答一系列问题,然后会看到解决方案原理图,在某些情况下,还会看到解决方案的可选版本。在专家模式下,设计人员会看到用方框图形式显示的所有 24 种可能的解决方案,只需点击所需拓扑,即可直接看到解决方案原理图。原理图附带了关键设计方面的简要说明,在某些情况下,还会链接到另一个可进一步细化组件选择的内置实用工具。

评估板 下载
document-generic 用户指南
$149.00
说明

ADS8910B 评估模块 (EVM) 性能演示套件 (PDK) 是一个用于评估 ADS8910B 逐次逼近型寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC) 性能的平台。ADS8910EVM-PDK 包括 ADS8910B EVM 板和支持随附计算机软件的精密主机接口 (PHI) 控制器板。

特性
  • 包括对 ADS8910B ADC 进行诊断测试以及精确性能评估所需的硬件和软件
  • USB 供电,无需外部电源
  • PHI 控制器提供可通过 USB 2.0(或更高版本)方便地连接至 ADS8910B ADC 的通信接口,以实现电力输送以及数字输入和输出
  • 适用于 Microsoft® Windows® 7/8/10 操作系统的易用评估软件
  • 软件套件包含可用于以下方面的图形工具:
    • 数据采集
    • 直方图分析
    • 光谱分析
    • 线性分析
    • 基准稳定分析
  • 可以对软件套件进行配置,以将数据导出到文本文件供后期处理

软件开发

支持软件 下载
SBAC183.ZIP (103 KB)

设计工具和仿真

仿真模型 下载
SBAM275.ZIP (22 KB) - IBIS Model
仿真模型 下载
SBAM276.TSM (24 KB) - TINA-TI Spice Model
仿真模型 下载
SBAM277.TSC (7079 KB) - TINA-TI Reference Design
仿真模型 下载
SBAM340.ZIP (136 KB) - TINA-TI Spice Model
仿真工具 下载
document-generic 用户指南 document-generic 下载英文版本 (Rev.A)
计算工具 下载
模拟工程师计算器
ANALOG-ENGINEER-CALC — 模拟工程师计算器旨在加快模拟电路设计工程师经常使用的许多重复性计算。该基于 PC 的工具提供图形界面,其中显示各种常见计算的列表(从使用反馈电阻器设置运算放大器增益到为稳定模数转换器 (ADC) 驱动器缓冲器电路选择合适的电路设计元件)。除了可用作单独的工具之外,该计算器还能够很好地与模拟工程师口袋参考书中所述的概念配合使用。
特性
  • 通过模数转换器 (ADC) 和数模转换器 (DAC) 加快电路设计
    • 噪声计算
    • 常见单位转换
  • 解决常见的放大器电路设计问题
    • 使用标准电阻器进行增益选择
    • 滤波器配置
    • 常见放大器配置的总噪声
  • 执行 PCB 寄生计算(例如 R、L 和 C)
  • 查找常见传感器的传感器输出值(例如 RTD、热电偶)
  • 解决常见无源电路问题(例如使用无源组件的分压器)

参考设计

参考设计 下载
通过 LVDS 接口传输 SPI 信号参考设计
TIDA-060017 — 该 TI 设计演示了如何解决和优化信号完整性难题,通常在嘈杂环境中的同一 PCB 上或通过 PCB 向另一块板远距离发送 SPI 信号(通过 LVDS 接口传输 SPI 信号)时会遇到这些难题。此概念具有高抗噪性能、更低的 EMI 辐射和更宽的共模输入范围。
document-generic 原理图 document-generic 用户指南 document-generic 下载英文版本
参考设计 下载
优化 FPGA 利用率和自动测试设备数据吞吐量的参考设计
TIDA-01051 — TIDA-01051 参考设计用于演示极高通道数数据采集 (DAQ) 系统(如用在自动测试设备 (ATE) 中的系统)经过优化的通道密度、集成、功耗、时钟分配和信号链性能。利用串行器(如 TI DS90C383B)将多个同步采样 ADC 输出与几个 LVDS 线结合,可显著减少主机 FPGA 必须处理的引脚数量。因此,单个 FPGA 可处理的 DAQ 通道数量大幅增加,而且电路板布线的复杂性也大大降低。
document-generic 原理图 document-generic 用户指南
参考设计 下载
适用于 18 位 SAR 数据转换器的模拟前端优化型 DAQ 系统参考设计
TIDA-01050 — TIDA-01050 参考设计是为了改善通常与自动测试设备相关的集成、功耗、性能和时钟问题。该设计适用于任何 ATE 系统,但还是最适用于需要大量输入通道的系统。
document-generic 原理图 document-generic 用户指南
参考设计 下载
使用负电源输入改进满标量程 THD 的 ADC 驱动器参考设计
TIDA-01052 — TIDA-01052 参考设计旨在突显在模拟前端驱动器放大器上使用负电压轨而不是接地所致的系统性能提升。此概念与所有模拟前端有关,但此设计专门针对自动测试设备。
document-generic 原理图 document-generic 用户指南
参考设计 下载
适用于测试与测量应用的 20 位、1MSPS、4 通道小外形尺寸设计参考设计
TIPD211 — 混合信号 SOC 测试仪、存储器测试仪、电池测试仪、液晶显示器 (LCD) 测试仪、台式设备、高密度数码卡、高密度电源卡、X 射线和 MRI 等终端设备需要多个快速同步采样通道,以低功耗和较小电路板空间提供卓越的直流和交流性能。此设计中的建议解决方案使用的是高性能 SAR ADC (ADS8910B)、精密放大器 (OPA2625) 和精密电压基准 (REF5050)。
document-generic 原理图 document-generic 用户指南

CAD/CAE 符号

封装 引脚 下载
VQFN (RGE) 24 视图选项

订购与质量

支持与培训

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