ADS8910B
- 分辨率：18 位
- 无延迟输出的高采样率：
- ADS8910B：1MSPS
- ADS8912B：500kSPS
- ADS8914B：250kSPS
- 集成 LDO 支持单电源操作
- 无压降的低功耗基准缓冲器
- 出色的交流和直流性能：
- SNR：102.5dB，THD：–125dB
- INL：±0.5LSB
- DNL：±0.2LSB、18 位、无丢失码
- 宽输入范围：
- 单极差分输入范围：±VREF
- VREF 输入范围：2.5V 至 5V
- 单电源低功耗运行
（包括内部基准缓冲器和 LDO）- ADS8910B：1MSPS 时为 21mW
- ADS8912B：500kSPS 时为 16mW
- ADS8914B：250kSPS 时为 14mW
- 增强型 SPI
数字接口
- 接口 SCLK：1MSPS 时为 20MHz。
- 可配置数据奇偶校验输出
- 扩展温度范围：-40°C 至 +125°C
- 小型封装：4mm × 4mm 超薄四方扁平无引线 (VQFN) 封装
ADS8910B、ADS8912B 和 ADS8914B (ADS891xB) 属于引脚对引脚兼容的高速、单通道、高精度、基于 18 位逐次逼近型寄存器 (SAR) 的模数转换器 (ADC) 系列，且带有集成式基准缓冲器和集成式低压差稳压器 (LDO)。该器件系列包括 ADS890xB（20 位）和 ADS892xB（16 位）这两种分辨率型号。
借助 TI 的增强型 SPI 特性，ADS891xB 可提高模拟性能，同时保持高分辨率数据传输。增强型 SPI 支持 ADS89xxB 以较低时钟速度实现高吞吐量，从而简化板布局并降低系统成本。增强型 SPI 也简化了数据计时，从而使器件成为 FPGA、DSP 等应用的 理想选择。ADS89xxB 兼容标准 SPI 接口。
ADS891xB 具有内部数据奇偶校验功能，可以将其附加到 ADC 数据输出。主机使用奇偶校验位进行的 ADC 数据验证提高了系统可靠性。
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功能优于比较器件，可直接替换。
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| 更多文献资料 | ADS8910EVM-PDK Quick Start Guide | 2016-3-16 |
设计与开发
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评估板
ADS8900BEVM-PDK — ADS8900B 全差分输入、20 位 SAR ADC EVM 性能演示套件 (PDK)
ADS8900B 评估模块 (EVM) 性能演示套件 (PDK) 是一个用于评估 ADS8900B 逐次逼近型寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC) 性能的平台，该模数转换器是一款全差动输入、20 位、1-MSPS 器件。ADS8900BEVM-PDK 包括 ADS8900B EVM 板和支持随附计算机软件的精密主机接口 (PHI) 控制器板。
支持软件
SBAC183 — Source Files for SBAA267
仿真模型
±50mA to ±10A, 0V to 75V Common-Mode TINA-TI Spice Model
SBAM340.ZIP (136 KB) - TINA-TI Spice 模型
计算工具
ANALOG-ENGINEER-CALC — PC software analog engineer's calculator
模拟工程师计算器旨在加快模拟电路设计工程师经常运用的许多重复性计算。该基于 PC 的工具提供图形界面，其中显示各种常见计算列表，从使用反馈电阻器设置运算放大器增益到选择合适的电路设计元件，以稳定模数转换器 (ADC) 驱动器缓冲器电路。
除了可用作独立工具之外，该计算器还能很好地与模拟工程师口袋参考中所述的概念配合使用。
设计工具
ADC-DAC-TO-VREF-SELECT-DESIGN-TOOL — The ADC-TO-VREF-SELECT tool enables the pairing of TI ADCs, DACs, and series voltage references.
The ADC-TO-VREF-SELECT tool enables the pairing of TI analog-to-digital converters (ADCs) and series voltage references. Users can select an ADC device and the desired reference voltage, and the tool will list up to two voltage reference recommendations.
参考设计
TIDA-01050 — 适用于 18 位 SAR 数据转换器的优化模拟前端 DAQ 系统参考设计
TIDA-01050 参考设计旨在改善通常与自动测试设备相关的集成、功耗、性能以及时钟问题。该设计适用于所有 ATE 系统，尤其适合需要大量输入通道的系统。
参考设计
TIDA-01051 — 针对自动测试设备优化 FPGA 利用率和数据吞吐量的参考设计
TIDA-01051 参考设计用于演示超高通道数的数据采集 (DAQ) 系统（如用在自动测试设备 (ATE) 中的系统）经过优化的通道密度、集成、功耗、时钟分配和信号链性能。利用串行器（如 TI DS90C383B）将多个同步采样 ADC 输出与多个 LVDS 线路相结合，可显著减少主机 FPGA 必须处理的引脚数量。 因此，单个 FPGA 可处理的 DAQ 通道数量显著增加，而且电路板布线的复杂度大幅降低。
参考设计
TIDA-01052 — 使用负电源输入改进满量程 THD 的 ADC 驱动器参考设计
TIDA-01052 参考设计旨在突显在模拟前端驱动器放大器而不是接地上使用负电压轨系统性能提高。此概念与所有模拟前端相关，但此设计专门针对自动测试设备。
参考设计
TIDA-060017 — 通过 LVDS 接口传输 SPI 信号的参考设计
该参考设计展示了如何解决和优化信号完整性难题，通常在嘈杂环境中在同一个 PCB 上沿较长的距离发送 SPI 信号或从一个 PCB 向另一个电路板发送 SPI 信号（通过 LVDS 接口传输 SPI 信号）时会遇到这些难题。该概念具有高噪声抗扰性、更低的 EMI 发射和更宽的共模输入容差。
参考设计
TIPD211 — 用于测试和测量应用的 20 位、1MSPS、4 通道小巧外形设计参考设计
混合信号 SOC 测试仪、存储器测试仪、电池测试仪、液晶显示屏 (LCD) 测试仪、台式设备、高密度数字卡、高密度电源卡、X 射线、MRI 等终端设备需要多个快速、同步采样通道，并具有出色的直流和交流性能，但需要低功耗和小布板空间。此设计中建议的解决方案采用高性能 SAR ADC (ADS8910B)、精密放大器 (OPA2625) 和精密电压基准 (REF5050)。
| 封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
|---|---|---|
| VQFN (RGE) | 24 | Ultra Librarian |
订购和质量
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