产品详情

Resolution (Bits) 10 Number of DAC channels 4 Interface type I2C, SPI Output type Buffered Current, Buffered Voltage Settling time (µs) 25 Features Small Size, Smart DAC Reference type Ext, Int Architecture String Rating Catalog Output range (max) (mA/V) 5.5 Output range (min) (mA/V) 0 Sample/update rate (Msps) 0.25 Power consumption (typ) (mW) 1 Operating temperature range (°C) -40 to 125
Resolution (Bits) 10 Number of DAC channels 4 Interface type I2C, SPI Output type Buffered Current, Buffered Voltage Settling time (µs) 25 Features Small Size, Smart DAC Reference type Ext, Int Architecture String Rating Catalog Output range (max) (mA/V) 5.5 Output range (min) (mA/V) 0 Sample/update rate (Msps) 0.25 Power consumption (typ) (mW) 1 Operating temperature range (°C) -40 to 125
WQFN (RTE) 16 9 mm² 3 x 3
  • 集成式比例积分 (PI) 控制
    • 从非易失性存储器 (NVM) 中独立运行
    • 可编程的比例和积分增益
    • 适合输出钳位的比较器输入
    • 适合输出的可编程最小值、最大值和共模值
    • 可编程的环路-相位反转
  • AFE639D2
    • 为外部数字温度传感器接口提供了 I 2C 控制器
    • 12 位 DAC 输出:4-LSB DNL,1-LSB DNL
  • AFE539A4
    • 10 位 ADC 输入:2-LSB INL,1-LSB DNL
    • 10 位 DAC 输出:1-LSB INL 和 DNL
  • AFE439A2
    • 8 位 ADC 输入:1-LSB INL 和 DNL
    • 7 位占空比 PWM 输出
  • 使用可编程比较器进行故障管理
  • VDD 关闭时 DAC 通道上具有高阻抗输出
  • 自动检测 I 2C 或 SPI
    • 1.62V V IH (V DD = 5.5V)
  • VREF/MODE 引脚可在编程模式和独立模式之间进行选择
  • 用户可编程 NVM
  • 采用内部基准、外部基准或电源作为基准
  • 宽工作范围
    • 电源:1.8V 至 5.5V
    • 温度范围:-40˚C 至 +125˚C
  • 微型封装:16 引脚 WQFN (3mm × 3mm)
  • 集成式比例积分 (PI) 控制
    • 从非易失性存储器 (NVM) 中独立运行
    • 可编程的比例和积分增益
    • 适合输出钳位的比较器输入
    • 适合输出的可编程最小值、最大值和共模值
    • 可编程的环路-相位反转
  • AFE639D2
    • 为外部数字温度传感器接口提供了 I 2C 控制器
    • 12 位 DAC 输出:4-LSB DNL,1-LSB DNL
  • AFE539A4
    • 10 位 ADC 输入:2-LSB INL,1-LSB DNL
    • 10 位 DAC 输出:1-LSB INL 和 DNL
  • AFE439A2
    • 8 位 ADC 输入:1-LSB INL 和 DNL
    • 7 位占空比 PWM 输出
  • 使用可编程比较器进行故障管理
  • VDD 关闭时 DAC 通道上具有高阻抗输出
  • 自动检测 I 2C 或 SPI
    • 1.62V V IH (V DD = 5.5V)
  • VREF/MODE 引脚可在编程模式和独立模式之间进行选择
  • 用户可编程 NVM
  • 采用内部基准、外部基准或电源作为基准
  • 宽工作范围
    • 电源:1.8V 至 5.5V
    • 温度范围:-40˚C 至 +125˚C
  • 微型封装:16 引脚 WQFN (3mm × 3mm)

8 位 AFE439A2、10 位 AFE539A4 和 12 位 AFE639D2 ( AFE39xx) 是使用电压或 PWM 输出进行热电冷却 (TEC) 控制的智能模拟前端 (AFE)。 AFE639D2 支持使用 I 2C 控制器接口连接外部数字温度传感器。 AFE639D2 和 AFE539A4 支持电压输出, AFE439A2 支持 PWM 输出。 AFE39xx 支持用于故障管理的比较器通道。这些器件还支持高阻态断电模式,并且在断电期间支持 DAC 通道上的高阻态输出。这些器件具有已预编程为比例积分 (PI) 控制器的集成状态机。 AFE39xx 非常适合用于 TEC 控制、温度控制和动态余量控制应用。 AFE39xx 集成了高级功能、内部基准和 NVM,使这款智能 AFE 能够用于 无处理器 的应用并支持重用设计。

8 位 AFE439A2、10 位 AFE539A4 和 12 位 AFE639D2 ( AFE39xx) 是使用电压或 PWM 输出进行热电冷却 (TEC) 控制的智能模拟前端 (AFE)。 AFE639D2 支持使用 I 2C 控制器接口连接外部数字温度传感器。 AFE639D2 和 AFE539A4 支持电压输出, AFE439A2 支持 PWM 输出。 AFE39xx 支持用于故障管理的比较器通道。这些器件还支持高阻态断电模式,并且在断电期间支持 DAC 通道上的高阻态输出。这些器件具有已预编程为比例积分 (PI) 控制器的集成状态机。 AFE39xx 非常适合用于 TEC 控制、温度控制和动态余量控制应用。 AFE39xx 集成了高级功能、内部基准和 NVM,使这款智能 AFE 能够用于 无处理器 的应用并支持重用设计。

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技术文档

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设计和开发

如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。

评估板

AFE539A4EVM — AFE539A4 评估模块

AFE539A4EVM 是一个易于使用的平台,用于评估 AFE539A4 的功能和性能。AFE539A4EVM 具有板载控制器,可轻松与 GUI 连接。AFE539A4EVM 硬件针对常见的器件应用(热电冷却控制)进行配置。

用户指南: PDF | HTML
英语版: PDF | HTML
评估模块 (EVM) 用 GUI

SMART-DAC-EVM-GUI Smart DAC and smart AFE evaluation module software

This GUI interfaces with the on board controller of the smart DAC and smart AFE EVM ecosystem.
lock = 需要出口许可(1 分钟)
支持的产品和硬件

支持的产品和硬件

产品
精密 DAC (≤10MSPS)
AFE539A4 具有 PID/TEC 控制功能的四通道 10 位智能模拟前端 (AFE),具有内置 ADC 和 DAC DAC43204 具有 I²C、SPI 且在断电期间处于高阻态输出的四通道 8 位 VOUT 和 IOUT 智能 DAC DAC53001 具有 I²C、SPI 和 PWM 的超低功耗单通道 10 位智能 DAC DAC53002 具有 I²C、SPI 和 PWM 的超低功耗 2 通道 10 位智能 DAC DAC53004 具有 I²C、SPI 和 PWM 的超低功耗 4 通道 10 位智能 DAC DAC53004W 采用 Wafer Chip Scale Package 且具有 I²C、SPI 和 PWM 的超低功耗四通道 10 位智能 DAC DAC53202 具有 I²C、SPI 且在断电期间处于高阻态输出的双通道 12 位 VOUT 和 IOUT 智能 DAC DAC53204 具有 I²C、SPI 且在断电期间处于高阻态输出的四通道 10 位 VOUT 和 IOUT 智能 DAC DAC53204-Q1 具有 I2C、SPI 且在断电期间处于高阻态输出的汽车类 4 通道 10 位 VOUT 和 IOUT 智能 DAC DAC53204W 采用 Wafer Chip Scale Package 且具有 I²C、SPI 和高阻态输出的四通道、10 位、VOUT 和 IOUT 智能 DAC DAC63001 具有 I²C、SPI 和 PWM 的超低功耗单通道 12 位智能 DAC DAC63002 具有 I²C、SPI 和 PWM 的超低功耗双通道 12 位智能 DAC DAC63004 具有 I²C、SPI 和 PWM 的超低功耗四通道 12 位智能 DAC DAC63004W 采用 Wafer Chip Scale Package 且具有 I²C、SPI 和 PWM 的超低功耗四通道 12 位智能 DAC DAC63204 具有 I²C、SPI 且在断电期间处于高阻态输出的四通道 12 位 VOUT 和 IOUT 智能 DAC DAC539G2-Q1 汽车类两通道 10 位智能 DAC,用于通过自动检测 I²C 或 SPI 进行 GPI 至 PWM 转换 AFE539F1-Q1 具有 PWM 有源放电控制的汽车级单通道十位智能 AFE AFE43902-Q1 具有多斜率热折返控制和内置 ADC 的汽车级双通道 8 位智能 DAC AFE53902-Q1 具有多斜率热折返控制和内置 ADC 的汽车级双通道 10 位智能 DAC DAC539E4W 采用 WCSP 封装、具有 IF-THEN-ELSE 控制功能的四通道 10 位智能模拟前端 (AFE)
硬件开发
评估板
DAC63204EVM DAC63204 四通道、12 位、VOUT 和 IOUT 智能 DAC 评估模块 AFE532A3WEVM AFE532A3W 8 位和 10 位 300mA 电流源 DAC 评估模块 AFE539A4EVM AFE539A4 评估模块 DAC63004WCSP-EVM DAC63004W 采用 Wafer Chip Scale Package (WCSP) 封装的四通道 12 位智能 DAC 评估模块 SMARTDAC-DIY-EVM 智能 DAC 器件的自制评估模块
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ANALOG-ENGINEER-CALC — 模拟工程师计算器

模拟工程师计算器旨在加快模拟电路设计工程师经常使用的许多重复性计算。该基于 PC 的工具提供图形界面,其中显示各种常见计算的列表(从使用反馈电阻器设置运算放大器增益到为稳定模数转换器 (ADC) 驱动器缓冲器电路选择合适的电路设计元件)。除了可用作单独的工具之外,该计算器还能够很好地与模拟工程师口袋参考书中所述的概念配合使用。
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PSPICE-FOR-TI — 适用于 TI 设计和模拟工具的 PSpice®

PSpice® for TI 可提供帮助评估模拟电路功能的设计和仿真环境。此功能齐全的设计和仿真套件使用 Cadence® 的模拟分析引擎。PSpice for TI 可免费使用,包括业内超大的模型库之一,涵盖我们的模拟和电源产品系列以及精选的模拟行为模型。

借助 PSpice for TI 的设计和仿真环境及其内置的模型库,您可对复杂的混合信号设计进行仿真。创建完整的终端设备设计和原型解决方案,然后再进行布局和制造,可缩短产品上市时间并降低开发成本。

在 PSpice for TI 设计和仿真工具中,您可以搜索 TI (...)
模拟工具

TINA-TI — 基于 SPICE 的模拟仿真程序

TINA-TI 提供了 SPICE 所有的传统直流、瞬态和频域分析以及更多。TINA 具有广泛的后处理功能,允许您按照希望的方式设置结果的格式。虚拟仪器允许您选择输入波形、探针电路节点电压和波形。TINA 的原理图捕获非常直观 - 真正的“快速入门”。

TINA-TI 安装需要大约 500MB。直接安装,如果想卸载也很容易。我们相信您肯定会爱不释手。

TINA 是德州仪器 (TI) 专有的 DesignSoft 产品。该免费版本具有完整的功能,但不支持完整版 TINA 所提供的某些其他功能。

如需获取可用 TINA-TI 模型的完整列表,请参阅:SpiceRack - 完整列表 

需要 HSpice (...)

用户指南: PDF
英语版 (Rev.A): PDF
封装 引脚 下载
WQFN (RTE) 16 查看选项

订购和质量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息:
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

推荐产品可能包含与 TI 此产品相关的参数、评估模块或参考设计。

支持和培训

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