ZHCAEO9 November 2024 CSD13303W1015 , CSD16301Q2 , CSD16321Q5 , CSD16322Q5 , CSD16323Q3 , CSD16325Q5 , CSD16327Q3 , CSD16340Q3 , CSD16342Q5A , CSD16401Q5 , CSD16403Q5A , CSD16404Q5A , CSD16406Q3 , CSD16407Q5 , CSD16408Q5 , CSD16409Q3 , CSD16410Q5A , CSD16411Q3 , CSD16412Q5A , CSD16413Q5A , CSD16414Q5 , CSD16415Q5 , CSD16556Q5B , CSD17301Q5A , CSD17302Q5A , CSD17303Q5 , CSD17304Q3 , CSD17305Q5A , CSD17306Q5A , CSD17307Q5A , CSD17308Q3 , CSD17309Q3 , CSD17310Q5A , CSD17311Q5 , CSD17312Q5 , CSD17313Q2 , CSD17322Q5A , CSD17327Q5A , CSD17381F4 , CSD17501Q5A , CSD17505Q5A , CSD17506Q5A , CSD17507Q5A , CSD17510Q5A , CSD17522Q5A , CSD17527Q5A , CSD17551Q3A , CSD17551Q5A , CSD17552Q3A , CSD17552Q5A , CSD17553Q5A , CSD17555Q5A , CSD17556Q5B , CSD17559Q5 , CSD18501Q5A , CSD18502KCS , CSD18502Q5B , CSD18503KCS , CSD18503Q5A , CSD18504KCS , CSD18504Q5A , CSD18531Q5A , CSD18532KCS , CSD18532NQ5B , CSD18532Q5B , CSD18533KCS , CSD18533Q5A , CSD18534KCS , CSD18534Q5A , CSD18537NKCS , CSD18537NQ5A , CSD18563Q5A , CSD22202W15 , CSD25211W1015 , CSD25213W10 , CSD75207W15 , CSD86311W1723 , CSD86330Q3D , CSD86350Q5D , CSD86360Q5D , CSD87312Q3E , CSD87330Q3D , CSD87331Q3D , CSD87350Q5D , CSD87351Q5D , CSD87351ZQ5D , CSD87352Q5D , CSD87353Q5D , CSD87381P , CSD87588N
绝对最大 VGS 额定值可以是单个值,也可以是单独的正值和负值,具体取决于栅极结构。如您的 MOSFET 包含哪种类型的 ESD 保护?技术文章中所述,TI FET 可以具有单端、背对背栅极 ESD 保护或无栅极 ESD 保护。采用单端 ESD 结构的 FET 的绝对最大 VGS 只有一个值。施加极性相反的电压会使栅源 ESD 二极管正向偏置,从而允许电流流入栅极,并将 VGS 钳位在结压降处。可以添加一个外部栅极电阻器,以限制栅极电流并防止损坏 FET。
具有背对背 ESD 保护或无 ESD 保护的器件具有单独的正负绝对最大 VGS 值,这些值可以是对称的(即 ±20V)或非对称的(即 -12V/+16V)。切勿在 VGS 超过绝对最大规格的情况下运行 FET,否则 FET 可能会损坏。
表 4-1、表 4-2 和表 4-3 展示了以下 TI N 沟道 MOSFET 的绝对最大额定值示例:
| TA = 25°C | 值 | 单位 | |
|---|---|---|---|
| VDS | 漏源电压 | 30 | V |
| VGS | 栅源电压 | ±20 | V |
| ID | 持续漏极电流(受封装限制) | 60 | A |
| 持续漏极电流(受芯片限制),TC = 25°C 时测得 | 123 | ||
| 持续漏极电流 | 24 | ||
| IDM | 脉冲漏极电流 | 256 | A |
| PD | 功率耗散 | 3.1 | W |
| 功率耗散,TC = 25°C | 83 | ||
| TJ、 Tstg |
工作结温和贮存温度 | -55 至 150 | °C |
| EAS | 雪崩能量,单脉冲 ID = 39A,L = 0.1mH,RG = 25Ω |
76 | mJ |
| TA = 25°C 时测得,除非另有说明 | 值 | 单位 | |
|---|---|---|---|
| VDS | 漏源电压 | 30 | V |
| VGS | 栅源电压 | 12 | V |
| ID | 持续漏极电流,TA = 25°C | 3.1 | A |
| IDM | 脉冲漏极电流,TA = 25°C | 12 | A |
| IG | 持续栅极钳位电流 | 35 | mA |
| 脉冲栅极钳位电流 | 350 | ||
| PD | 功率耗散 | 500 | mW |
| ESD 等级 | 人体放电模型 (HBM) | 4 | kV |
| 组件充电模式 (CDM) | 2 | kV | |
| TJ、 Tstg |
运行结温和储存温度范围 | -55 至 150 | °C |
| EAS | 雪崩能量,单脉冲 ID = 7.4A, L = 0.1mH,RG = 25Ω |
2.7 | mJ |
| TA = 25°C | 值 | 单位 | |
|---|---|---|---|
| VDS | 漏源电压 | 25 | V |
| VGS | 栅源电压 | -12 至 16 | V |
| ID | 持续漏极电流(受封装限制) | 100 | A |
| 持续漏极电流(受芯片限制),TC = 25°C 时测得 | 261 | ||
| 持续漏极电流 | 38 | ||
| IDM | 脉冲漏极电流,TA = 25°C | 200 | A |
| PD | 功率耗散 | 3.2 | W |
| 功率耗散,TC = 25°C | 156 | ||
| TJ, Tstg |
工作结温和贮存温度 | -55 至 150 | °C |
| EAS | 雪崩能量,单脉冲 ID = 100A,L = 0.1mH,RG = 25Ω |
500 | mJ |