ZHDU116G January 2018 – June 2024 CC1312PSIP , CC1312R , CC1352P , CC1352R , CC2642R , CC2642R-Q1 , CC2652P , CC2652PSIP , CC2652R , CC2652RB , CC2652RSIP , CC2662R-Q1
在 CC13x2 和 CC26x2 器件平台中,调试子系统采用两种用于调试和测试的 IEEE 标准:
调试子系统还实现了防火墙,用于防止未经授权访问调试/测试端口。图 7-1 显示了调试子系统的框图。
图 7-1 顶层调试系统IEEE 1149.1 TAP 使用以下信号来支持操作:
TRST 没有专用的 I/O 引脚。调试子系统通过系统级复位和上电复位来进行复位。
TAP 控制器是一种状态机,它的转换由 TMS 信号控制,用于控制 JTAG 系统的行为。图 7-2 展示了 JTAG 的状态转换图。
图 7-2 JTAG 状态机每个状态都有两个退出条件,因此所有转换都可由在 TCK 上采样的单个 TMS 信号进行控制。两条主路径允许进行设置或从器件的数据寄存器 (DR) 或指令寄存器 (IR) 检索信息。数据寄存器取决于加载到指令寄存器中的值。