ZHDU116G January 2018 – June 2024 CC1312PSIP , CC1312R , CC1352P , CC1352R , CC2642R , CC2642R-Q1 , CC2652P , CC2652PSIP , CC2652R , CC2652RB , CC2652RSIP , CC2662R-Q1
CC13x2 及 CC26x2 器件使用 IEEE 1149.1 JTAG 标准下定义的标准边界扫描。每个 DIO 都有一个专用的边界扫描单元,其中包含六个寄存器(其中各有两个用于输出引脚,双向控制引脚和输入引脚),如图 7-13 所示。
图 7-13 边界扫描单元在六个寄存器中,三个是移位寄存器,其他三个是更新寄存器。移位寄存器位于扫描链中,连接在所有 DIO 之间。每个边界扫描寄存器单元内都有几个多路复用器,用于在测试数据和功能数据之间进行选择。边界扫描实现旨在涵盖直流参数测试及 IODFT 测试。CC13x2 和 CC26x2 器件中提供的 32 个 DIO 根据测试引脚多路复用以及测试仪接触式和非接触式 I/O 分为不同的组。有关跨不同软件包的边界扫描 I/O 的详细信息,请参阅表 7-25。
| 引脚名称 | Tap 接口 | 组 |
|---|---|---|
| TCK | TAP_SCAN_CLOCK | |
| TMS | TAP_SCAN_MODE | |
| DIO0 | grp1 | |
| DIO1 | grp1 | |
| DIO2 | grp1 | |
| DIO3 | grp1 | |
| DIO4 | grp1 | |
| DIO5 | grp1 | |
| DIO6 | grp1 | |
| DIO7 | grp1 | |
| DIO8 | grp1 | |
| DIO9 | grp1 | |
| DIO10 | grp1 | |
| DIO11 | grp1 | |
| DIO12 | grp1 | |
| DIO13 | grp1 | |
| DIO14 | grp1 | |
| DIO15 | grp1 | |
| DIO16 | TAP_SCAN_OUT | grp3 |
| DIO17 | TAP_SCAN_IN | grp3 |
| DIO18 | grp1 | |
| DIO19 | grp1 | |
| DIO20 | grp1 | |
| DIO21 | grp1 | |
| DIO22 | grp1 | |
| DIO23 | grp2 | |
| DIO24 | grp2 | |
| DIO25 | grp1 | |
| DIO26 | grp1 | |
| DIO27 | grp1 | |
| DIO28 | grp1 | |
| DIO29 | grp1 | |
| DIO30 | grp1 |
使用对每个 DIO 的边界扫描访问来测试直流参数。
要测试 IIH 和 IIL,需要执行前面讨论的步骤。但是,必须测量电流,而不是电压。要测试状态输出的 VIL 和 VIH,请选择另一个 DIO 作为状态输出,屏蔽所有其他引脚,并重复测试。该功能在边界扫描实现中未包含,但可以使用 DIO 的存储器映射控制来实现。
要测试 IOH 和 IOL,需要执行前面讨论的相同步骤。但是,必须测量电流,而不是电压。要测试 VOL 和 VOH,请测试状态输出,选择另一个 DIO 并重复测试。该功能在边界扫描实现中未包含,但可以使用 DIO 的存储器映射控制来实现。