ZHCSJ15C November   2018  – March 2025 ADC12DJ3200QML-SP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性：直流规格
    6. 5.6  电气特性：功耗
    7. 5.7  电气特性：交流规格（双通道模式）
    8. 5.8  电气特性：交流规格（单通道模式）
    9. 5.9  时序要求
    10. 5.10 开关特性
    11. 5.11 时序图
    12. 5.12 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 模拟输入
        1. 6.3.1.1 模拟输入保护
        2. 6.3.1.2 满量程电压 (VFS) 调整
        3. 6.3.1.3 模拟输入失调电压调整
      2. 6.3.2 ADC 内核
        1. 6.3.2.1 ADC 工作原理
        2. 6.3.2.2 ADC 内核校准
        3. 6.3.2.3 ADC 超范围检测
        4. 6.3.2.4 误码率 (CER)
      3. 6.3.3 时间戳
      4. 6.3.4 时钟
        1. 6.3.4.1 无噪声孔径延迟调节（tAD 调节）
        2. 6.3.4.2 孔径延迟斜坡控制 (TAD_RAMP)
        3. 6.3.4.3 用于多器件同步和确定性延迟的 SYSREF 采集
          1. 6.3.4.3.1 SYSREF 位置检测器和采样位置选择（SYSREF 窗口）
          2. 6.3.4.3.2 自动 SYSREF 校准
      5. 6.3.5 数字下变频器（仅限双通道模式）
        1. 6.3.5.1 数控振荡器和复频混频器
          1. 6.3.5.1.1 NCO 快速跳频 (FFH)
          2. 6.3.5.1.2 NCO 选择
          3. 6.3.5.1.3 基本 NCO 频率设置模式
          4. 6.3.5.1.4 合理 NCO 频率设置模式
          5. 6.3.5.1.5 NCO 相位偏移设置
          6. 6.3.5.1.6 NCO 相位同步
        2. 6.3.5.2 抽取滤波器
        3. 6.3.5.3 输出数据格式
        4. 6.3.5.4 抽取设置
          1. 6.3.5.4.1 抽取因子
          2. 6.3.5.4.2 DDC 增益提升
      6. 6.3.6 JESD204B 接口
        1. 6.3.6.1 传输层
        2. 6.3.6.2 扰频器
        3. 6.3.6.3 链路层
          1. 6.3.6.3.1 代码组同步 (CGS)
          2. 6.3.6.3.2 初始通道对齐序列 (ILAS)
          3. 6.3.6.3.3 8b、10b 编码
          4. 6.3.6.3.4 帧和多帧监控
        4. 6.3.6.4 物理层
          1. 6.3.6.4.1 串行器/解串器预加重功能
        5. 6.3.6.5 JESD204B 启用
        6. 6.3.6.6 多器件同步和确定性延迟
        7. 6.3.6.7 在子类 0 系统中运行
      7. 6.3.7 报警监控
        1. 6.3.7.1 NCO 翻转检测
        2. 6.3.7.2 时钟翻转检测
      8. 6.3.8 温度监测二极管
      9. 6.3.9 模拟基准电压
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 双通道模式
      2. 6.4.2 单通道模式（DES 模式）
      3. 6.4.3 JESD204B 模式
        1. 6.4.3.1 JESD204B 输出数据格式
        2. 6.4.3.2 双 DDC 和冗余数据模式
      4. 6.4.4 断电模式
      5. 6.4.5 测试模式
        1. 6.4.5.1 串行器测试模式详细信息
        2. 6.4.5.2 PRBS 测试模式
        3. 6.4.5.3 斜坡测试模式
        4. 6.4.5.4 近程和远程传输测试模式
          1. 6.4.5.4.1 近程传输测试模式
          2. 6.4.5.4.2 远程传输测试模式
        5. 6.4.5.5 D21.5 测试模式
        6. 6.4.5.6 K28.5 测试模式
        7. 6.4.5.7 重复 ILA 测试模式
        8. 6.4.5.8 修改的 RPAT 测试模式
      6. 6.4.6 校准模式和修整
        1. 6.4.6.1 前台校准模式
        2. 6.4.6.2 后台校准模式
        3. 6.4.6.3 低功耗后台校准 (LPBG) 模式
      7. 6.4.7 偏移校准
      8. 6.4.8 修整
      9. 6.4.9 偏移滤波
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 使用串行接口
        1. 6.5.1.1 SCS
        2. 6.5.1.2 SCLK
        3. 6.5.1.3 SDI
        4. 6.5.1.4 SDO
        5. 6.5.1.5 流模式
    6. 6.6 寄存器映射
      1. 6.6.1 寄存器说明
      2. 6.6.2 SYSREF 校准寄存器（0x2B0 至 0x2BF）
      3. 6.6.3 警报寄存器 (0x2C0至0x2C2)
  8. 7 应用信息免责声明
    1. 7.1 应用信息
      1. 7.1.1 模拟输入
      2. 7.1.2 模拟输入带宽
      3. 7.1.3 时钟
      4. 7.1.4 辐射环境建议
        1. 7.1.4.1 单粒子闩锁 (SEL)
        2. 7.1.4.2 单粒子功能中断 (SEFI)
        3. 7.1.4.3 单粒子翻转 (SEU)
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 设计要求
      2. 7.2.2 详细设计过程
        1. 7.2.2.1 射频输入信号路径
        2. 7.2.2.2 计算交流耦合电容的值
      3. 7.2.3 应用曲线
    3. 7.3 初始化设置
    4.     电源相关建议
      1. 7.4.1 电源时序
    5. 7.4 布局
      1. 7.4.1 布局指南
      2. 7.4.2 布局示例
  9. 8 器件和文档支持
    1. 8.1 器件支持
      1. 8.1.1 开发支持
    2. 8.2 文档支持
      1. 8.2.1 相关文档
    3. 8.3 第三方产品免责声明
    4. 8.4 接收文档更新通知
    5. 8.5 支持资源
    6. 8.6 商标
    7. 8.7 静电放电警告
    8. 8.8 术语表
  10. 9 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

封装选项

请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。

机械数据 (封装 | 引脚)
  • NWE|196
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.3.2.3 ADC 超范围检测

为了确保系统增益管理具有尽可能短的响应时间，加入了一个低延迟可配置的超范围功能。超范围功能的工作原理是监视 ADC 上已转换的 12 位样本，以快速检测 ADC 是否接近饱和或已经处于超范围状态。根据两个可编程阈值 OVR_T0 和 OVR_T1 检查 ADC 数据高 8 位的绝对值。这些阈值适用于双通道模式下的通道 A 和通道 B。表 6-1 列出了如何将 ADC 样本转换为绝对值以进行阈值比较。

表 6-1 转换 ADC 样本，进行超范围比较
ADC 样本
（偏移二进制）		ADC 样本
（二进制补码）		绝对值用于比较的高 8 位
1111 1111 1111 (4095)0111 1111 1111 (+2047)111 1111 1111 (2047)1111 1111 (255)
1111 1111 0000 (4080)0111 1111 0000 (+2032)111 1111 0000 (2032)1111 1110 (254)
1000 0000 0000 (2048)0000 0000 0000 (0)000 0000 0000 (0)0000 0000 (0)
0000 0001 0000 (16)1000 0001 0000 (-2032)111 1111 0000 (2032)1111 1110 (254)
0000 0000 0000 (0)1000 0000 0000 (-2048)111 1111 1111 (2047)1111 1111 (255)

如果绝对值的高 8 位在监控期间等于或超过 OVR_T0 或 OVR_T1 阈值，则与阈值关联的超范围位将被设置为 1，否则超范围位为 0。在双通道模式下，可以在通道 A 的 ORA0 和 ORA1 引脚以及通道 B 的 ORB0 和 ORB1 引脚上监控超范围状态，其中 ORx0 对应于 OVR_T0 阈值，ORx1 对应于 OVR_T1 阈值。在单通道模式下，OVR_T0 阈值的超范围状态通过监控 ORA0 和 ORB0 输出来确定，而 OVR_T1 阈值通过监控 ORA1 和 ORB1 输出来确定。在单通道模式下，每个阈值的两个输出必须一起进行“或”运算，以确定是否发生了超范围情况。OVR_N 可用于设置上次超范围事件的输出脉冲持续时间。表 6-2 列出了各种 OVR_N 设置的超范围脉冲长度（请参阅超范围配置寄存器）。在抽取模式下（仅在 表 6-18 中 CS = 1 的 JMODE 下），超范围状态也嵌入到输出数据样本中。对于复数抽取模式，OVR_T0 阈值状态作为为 LSB 连同每个复数 I 样本的高 15 位嵌入，而 OVR_T1 阈值状态作为为 LSB 连同每个复数 Q 样本的高 15 位嵌入。对于实数抽取模式，OVR_T0 阈值状态作为每个偶数样本的 LSB 嵌入，而 OVR_T1 阈值状态作为每个奇数样本的 LSB 嵌入。表 6-3 列出了输出、相关数据样本、阈值设置和监控周期公式。如果相关通道在通过 OVR_N 设置的监控周期内超过相关的超范围阈值，则嵌入式超范围位会变为高电平。使用表 6-3 来计算监控周期。

表 6-2 ORA0、ORA1、ORB0 和 ORB1 输出的超范围监控周期
OVR_N自上次超范围事件以来的超范围脉冲长度（DEVCLK 周期）
08
116
232
364
4128
5256
6512
71024
表 6-3 双通道抽取模式下嵌入式超范围指示器的阈值和监控周期
超范围指示器相关阈值抽取类型嵌入了超范围状态监控周期
（ADC 样本）
ORA0OVR_T0实数抽取 (JMODE 9)通道 A 偶数样本2OVR_N+1(1)
复数降压转换（JMODE 10-16，JMODE 12 除外）通道 A 同相 (I) 样本2OVR_N(1)
ORA1OVR_T1实数抽取 (JMODE 9)通道 A 奇数样本2OVR_N+1(1)
复数降压转换（JMODE 10-16，JMODE 12 除外）通道 A 正交 (Q) 样本2OVR_N(1)
ORB0OVR_T0实数抽取 (JMODE 9)通道 B 偶数样本2OVR_N+1(1)
复数降压转换（JMODE 10-16，JMODE 12 除外）通道 B 同相 (I) 样本2OVR_N(1)
ORB1OVR_T1实数抽取 (JMODE 9)通道 B 奇数样本2OVR_N+1(1)
复数降压转换（JMODE 10-16，JMODE 12 除外）通道 B 正交 (Q) 样本2OVR_N(1)
(1) OVR_N 是监控周期寄存器设置。

通常，OVR_T0 阈值可设置为接近满量程值（例如 228）。触发该阈值后，典型的系统可关闭系统增益以避免削波。可以将 OVR_T1 阈值设置为低得多的值。例如，OVR_T1 阈值可以设置为 64（−12 dBFS 的峰值输入电压）。如果输入信号较强、则偶尔会触发 OVR_T1 阈值。如果输入非常弱、则永远不会触发阈值。下游逻辑器件会监控 OVR_T1 位。如果 OVR_T1 长时间保持低电平，则可以增大系统增益，直到偶尔触发阈值（意味着信号的峰值电平高于 −12 dBFS）。