ZHCSJ15C November   2018  – March 2025 ADC12DJ3200QML-SP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性：直流规格
    6. 5.6  电气特性：功耗
    7. 5.7  电气特性：交流规格（双通道模式）
    8. 5.8  电气特性：交流规格（单通道模式）
    9. 5.9  时序要求
    10. 5.10 开关特性
    11. 5.11 时序图
    12. 5.12 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 模拟输入
        1. 6.3.1.1 模拟输入保护
        2. 6.3.1.2 满量程电压 (VFS) 调整
        3. 6.3.1.3 模拟输入失调电压调整
      2. 6.3.2 ADC 内核
        1. 6.3.2.1 ADC 工作原理
        2. 6.3.2.2 ADC 内核校准
        3. 6.3.2.3 ADC 超范围检测
        4. 6.3.2.4 误码率 (CER)
      3. 6.3.3 时间戳
      4. 6.3.4 时钟
        1. 6.3.4.1 无噪声孔径延迟调节（tAD 调节）
        2. 6.3.4.2 孔径延迟斜坡控制 (TAD_RAMP)
        3. 6.3.4.3 用于多器件同步和确定性延迟的 SYSREF 采集
          1. 6.3.4.3.1 SYSREF 位置检测器和采样位置选择（SYSREF 窗口）
          2. 6.3.4.3.2 自动 SYSREF 校准
      5. 6.3.5 数字下变频器（仅限双通道模式）
        1. 6.3.5.1 数控振荡器和复频混频器
          1. 6.3.5.1.1 NCO 快速跳频 (FFH)
          2. 6.3.5.1.2 NCO 选择
          3. 6.3.5.1.3 基本 NCO 频率设置模式
          4. 6.3.5.1.4 合理 NCO 频率设置模式
          5. 6.3.5.1.5 NCO 相位偏移设置
          6. 6.3.5.1.6 NCO 相位同步
        2. 6.3.5.2 抽取滤波器
        3. 6.3.5.3 输出数据格式
        4. 6.3.5.4 抽取设置
          1. 6.3.5.4.1 抽取因子
          2. 6.3.5.4.2 DDC 增益提升
      6. 6.3.6 JESD204B 接口
        1. 6.3.6.1 传输层
        2. 6.3.6.2 扰频器
        3. 6.3.6.3 链路层
          1. 6.3.6.3.1 代码组同步 (CGS)
          2. 6.3.6.3.2 初始通道对齐序列 (ILAS)
          3. 6.3.6.3.3 8b、10b 编码
          4. 6.3.6.3.4 帧和多帧监控
        4. 6.3.6.4 物理层
          1. 6.3.6.4.1 串行器/解串器预加重功能
        5. 6.3.6.5 JESD204B 启用
        6. 6.3.6.6 多器件同步和确定性延迟
        7. 6.3.6.7 在子类 0 系统中运行
      7. 6.3.7 报警监控
        1. 6.3.7.1 NCO 翻转检测
        2. 6.3.7.2 时钟翻转检测
      8. 6.3.8 温度监测二极管
      9. 6.3.9 模拟基准电压
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 双通道模式
      2. 6.4.2 单通道模式（DES 模式）
      3. 6.4.3 JESD204B 模式
        1. 6.4.3.1 JESD204B 输出数据格式
        2. 6.4.3.2 双 DDC 和冗余数据模式
      4. 6.4.4 断电模式
      5. 6.4.5 测试模式
        1. 6.4.5.1 串行器测试模式详细信息
        2. 6.4.5.2 PRBS 测试模式
        3. 6.4.5.3 斜坡测试模式
        4. 6.4.5.4 近程和远程传输测试模式
          1. 6.4.5.4.1 近程传输测试模式
          2. 6.4.5.4.2 远程传输测试模式
        5. 6.4.5.5 D21.5 测试模式
        6. 6.4.5.6 K28.5 测试模式
        7. 6.4.5.7 重复 ILA 测试模式
        8. 6.4.5.8 修改的 RPAT 测试模式
      6. 6.4.6 校准模式和修整
        1. 6.4.6.1 前台校准模式
        2. 6.4.6.2 后台校准模式
        3. 6.4.6.3 低功耗后台校准 (LPBG) 模式
      7. 6.4.7 偏移校准
      8. 6.4.8 修整
      9. 6.4.9 偏移滤波
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 使用串行接口
        1. 6.5.1.1 SCS
        2. 6.5.1.2 SCLK
        3. 6.5.1.3 SDI
        4. 6.5.1.4 SDO
        5. 6.5.1.5 流模式
    6. 6.6 寄存器映射
      1. 6.6.1 寄存器说明
      2. 6.6.2 SYSREF 校准寄存器（0x2B0 至 0x2BF）
      3. 6.6.3 警报寄存器 (0x2C0至0x2C2)
  8. 7 应用信息免责声明
    1. 7.1 应用信息
      1. 7.1.1 模拟输入
      2. 7.1.2 模拟输入带宽
      3. 7.1.3 时钟
      4. 7.1.4 辐射环境建议
        1. 7.1.4.1 单粒子闩锁 (SEL)
        2. 7.1.4.2 单粒子功能中断 (SEFI)
        3. 7.1.4.3 单粒子翻转 (SEU)
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 设计要求
      2. 7.2.2 详细设计过程
        1. 7.2.2.1 射频输入信号路径
        2. 7.2.2.2 计算交流耦合电容的值
      3. 7.2.3 应用曲线
    3. 7.3 初始化设置
    4.     电源相关建议
      1. 7.4.1 电源时序
    5. 7.4 布局
      1. 7.4.1 布局指南
      2. 7.4.2 布局示例
  9. 8 器件和文档支持
    1. 8.1 器件支持
      1. 8.1.1 开发支持
    2. 8.2 文档支持
      1. 8.2.1 相关文档
    3. 8.3 第三方产品免责声明
    4. 8.4 接收文档更新通知
    5. 8.5 支持资源
    6. 8.6 商标
    7. 8.7 静电放电警告
    8. 8.8 术语表
  10. 9 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

封装选项

请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。

机械数据 (封装 | 引脚)
  • NWE|196
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

5.10 开关特性

典型值条件为 TA = 25°C，标称电源电压，默认满量程电压 (FS_RANGE_A = FS_RANGE_B = 0xA000)，单通道模式下应用至 INA± 的输入信号，fIN = 347 MHz，AIN = –1dBFS，fCLK = 最大额定时钟频率，滤波 1-VPP 正弦波时钟，JMODE = 1，以及后台校准（除非另外指明）；最小值和最大值条件为建议运行条件 表中提供的标称电源电压和工作温度范围
参数测试条件子组(1)最小值典型值最大值单位
器件（采样）时钟（CLK+、CLK-）
tAD从 CLK±上升沿（双通道模式）或上升沿和下降沿（单通道模式）到采样时刻的采样（孔径）延迟TAD_COARSE = 0x00、TAD_FINE = 0x00 且 TAD_INV = 0350ps
tAD(MAX)最大 tAD 调整可编程延迟，不包括时钟反转 (TAD_INV = 0)粗调 (TAD_COARSE = 0xFF)289ps
精细调整 (TAD_FINE = 0xFF)4.9
tAD(STEP)tAD 调整可编程延迟步长粗调 (TAD_COARSE)1.13ps
微调 (TAD_FINE)19
tAJ孔径抖动，rms最小 tAD 调整粗调设置（TAD_COARSE = 0x00、TAD_INV = 0）56fs
最大 tAD 调整粗调设置 (TAD_COARSE = 0xFF)，不包括 TAD_INV (TAD_INV = 0)68(4)
串行数据输出（DA[7:0]+、DA[7:0]–、DB[7:0]+、DB[7:0]–）
fSERDES串行输出比特率最大输出比特率[9、10、11]12.8Gbps
最小输出比特率1Gbps
UI串行输出单位间隔最小输出单位间隔[9、10、11]78.125ps
最大输出单位间隔1000ps
tTLH低电平到高电平转换时间（差分）20% 至 80%，PRBS-7 测试模式，12.8Gbps，SER_PE = 0x0427ps
tTHL高电平到低电平转换时间（差分）20% 至 80%，PRBS-7 测试模式，12.8Gbps，SER_PE = 0x0427ps
DDJ数据相关抖动峰峰值PRBS-7 测试模式，12.8Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 211.7ps
RJ随机抖动，RMSPRBS-7 测试模式，12.8Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 20.8ps
TJ总抖动峰峰值，高斯部分根据 BER = 1e-15 (Q = 7.94) 定义PRBS-7 测试模式，12.8Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 0、224ps
PRBS-7 测试模式，6.4Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 1、320
PRBS-7 测试模式，8Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 4、5、6、731
PRBS-7 测试模式，8Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 932
PRBS-7 测试模式，8Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 10、1135
PRBS-7 测试模式，3.2Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 1224
PRBS-7 测试模式，8Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 13、1435
PRBS-7 测试模式，8Gbps，SER_PE = 0x04，JMODE = 15、1631
ADC 内核延迟
tADC从对参考样本进行采样的 CLK± 边沿到对 SYSREF 转换为高电平进行采样的 CLK± 边沿的确定性延迟时间(2)JMODE = 0-8.5tCLK 周期数
JMODE = 1-20.5
JMODE = 2-9
JMODE = 3-21
JMODE = 4-4.5
JMODE = 5-24.5
JMODE = 6-5
JMODE = 7-25
JMODE = 960
JMODE = 10140
JMODE = 11136
JMODE = 12120
JMODE = 13232
JMODE = 14232
JMODE = 15446
JMODE = 16430
JMODE = 17-48.5
JMODE = 18-49
JESD204B 和串行器延迟
tTX从对 SYSREF 高电平进行采样的 CLK± 上升沿到 JESD204B 串行输出通道上对应 tADC 参考样本的多帧的第一位的延迟时间(3)JMODE = 072(5)84(5)tCLK 周期数
JMODE = 1119(5)132(5)
JMODE = 272(5)84(5)
JMODE = 3119(5)132(5)
JMODE = 467(5)80(5)
JMODE = 5106(5)119(5)
JMODE = 667(5)80(5)
JMODE = 7106(5)119(5)
JMODE = 9106(5)119(5)
JMODE = 1067(5)80(5)
JMODE = 11106(5)119(5)
JMODE = 12213(5)225(5)
JMODE = 1367(5)80(5)
JMODE = 14106(5)119(5)
JMODE = 1567(5)80(5)
JMODE = 16106(5)119(5)
JMODE = 17195(5)208(5)
JMODE = 18195(5)208(5)
串行编程接口 (SDO)
t(OZD)在读取操作期间从第 16 个 SCLK 周期的下降沿到 SDO 从三态转换至数据生效的延迟时间1(5)ns
t(ODZ)从 SCS 上升沿到 SDO 从数据生效转换至三态的延迟时间10(5)ns
t(OD)在读操作期间从 SCLK 的下降沿到 SDO 生效的延迟时间[4、5、6]110ns
(1) 有关子组定义，请参阅表 5-1。
(2) tADC 是精确的、未四舍五入的确定性延迟时间。如果在 SYSREF 高电平采集点之后对参考样本进行采样，则延迟时间可能为负，在这种情况下，总延迟小于 tTX 给出的延迟。
(3) 为 tTX 指定的值包括确定性延迟时间和非确定性延迟时间。该延迟会随工艺、温度和电压而变化。在子类 1 模式下运行时，JESD204B 会考虑这些变化，从而实现确定性延迟。必须选择适当的接收器 RBD 值，使弹性缓冲器释放点不会出现在本地多帧时钟 (LMFC) 周期的无效区域内。
(4) tAJ 会因为内部时钟路径上的额外衰减而增加。
(5) 此参数根据设计指定，而未经生产测试