ZHCU677C June   2019  – July 2022

 

  1.   说明
  2.   资源
  3.   特性
  4.   应用
  5.   5
  6. 1系统说明
    1. 1.1 关键系统规格
  7. 2系统概述
    1. 2.1 方框图
    2. 2.2 重点产品
      1. 2.2.1  UCC21530
      2. 2.2.2  AMC1311
      3. 2.2.3  AMC3302
      4. 2.2.4  AMC3306M05
      5. 2.2.5  LM76003
      6. 2.2.6  LMZ31707
      7. 2.2.7  OPA320
      8. 2.2.8  ISO7721
      9. 2.2.9  SN6501
      10. 2.2.10 SN6505B
      11. 2.2.11 TMP235
      12. 2.2.12 LMT87
      13. 2.2.13 TL431
      14. 2.2.14 LMV762
      15. 2.2.15 TMS320F280049 C2000 MCU
      16. 2.2.16 TMDSCNCD280049C
    3. 2.3 系统设计原理
      1. 2.3.1 具有电源系统的双有源电桥模拟
      2. 2.3.2 双有源电桥 - 开关序列
      3. 2.3.3 双有源电桥 - 零电压开关 (ZVS)
      4. 2.3.4 双有源电桥 - 设计注意事项
        1. 2.3.4.1 漏电感器
        2. 2.3.4.2 电感对电流的影响
        3. 2.3.4.3 移相
        4. 2.3.4.4 电容器选型
        5. 2.3.4.5 软开关范围
        6. 2.3.4.6 开关频率
        7. 2.3.4.7 变压器选型
        8. 2.3.4.8 SiC MOSFET 选型
      5. 2.3.5 损耗分析
        1. 2.3.5.1 设计方程式
        2. 2.3.5.2 SiC MOSFET 和二极管损耗
        3. 2.3.5.3 变压器损耗
        4. 2.3.5.4 电感器损耗
        5. 2.3.5.5 栅极驱动器损耗
        6. 2.3.5.6 效率
        7. 2.3.5.7 散热注意事项
  8. 3电路说明
    1. 3.1 功率级
    2. 3.2 直流电压检测
      1. 3.2.1 初级侧直流电压检测
      2. 3.2.2 次级侧直流电压检测
    3. 3.3 电流检测
    4. 3.4 功率结构
      1. 3.4.1 辅助电源
      2. 3.4.2 检测电路的隔离式电源
    5. 3.5 栅极驱动器
      1. 3.5.1 栅极驱动器电路
      2. 3.5.2 栅极驱动器偏置电源
      3. 3.5.3 栅极驱动器分立式电路 - 短路检测和两级关断
  9. 4硬件、软件、测试要求和测试结果
    1. 4.1 所需的硬件和软件
      1. 4.1.1 硬件
      2. 4.1.2 软件
        1. 4.1.2.1 软件入门
        2. 4.1.2.2 引脚配置
        3. 4.1.2.3 PWM 配置
        4. 4.1.2.4 高分辨率相移配置
        5. 4.1.2.5 ADC 配置
        6. 4.1.2.6 ISR 结构
    2. 4.2 测试设置
    3. 4.3 PowerSUITE GUI
    4. 4.4 实验
      1. 4.4.1 实验 1
      2. 4.4.2 实验 2
      3. 4.4.3 实验 3
      4. 4.4.4 实验 4
      5. 4.4.5 实验 5
    5. 4.5 测试结果
      1. 4.5.1 开环性能
      2. 4.5.2 闭环性能
  10. 5设计文件
    1. 5.1 原理图
    2. 5.2 物料清单
    3. 5.3 PCB 布局建议
      1. 5.3.1 布局图
    4. 5.4 Altium 项目
    5. 5.5 Gerber 文件
    6. 5.6 装配图
  11. 6相关文档
    1. 6.1 商标
  12. 7术语
  13. 8作者简介
  14. 9修订历史记录

4.4.1 实验 1

从 PowerSUITE GUI 的“Project Options”（项目选项）下拉菜单中选择 实验 1: Open Loop （开环）PWM，对项目进行编译。此实验旨在验证 PWM 输出，并可以使用 TIDA-010054 HW 或者使用带扩展坞的 F2804X 控制卡直接检查。

通过点击 CCS 中的绿色运行按钮，运行项目。

GUID-20210818-SS0I-VN1H-KCZC-ZVHDLLRW0NMV-low.png图 4-10 运行 CCS

通过在脚本控制台中加载 javascript“setupdebugenv_lab1.js”，在“Watch”（观察）窗口中填充所需的变量。

GUID-20210818-SS0I-R0PH-HXTH-PBNSRTDGXMZT-low.png图 4-11 加载实验
GUID-20210818-SS0I-72LX-CH1N-JFN4P0HPXMNQ-low.png图 4-12 选择实验
  1. 运行该脚本后，在“Watch”（观察）窗口中填充图 4-13 中所示的变量。
    GUID-20210818-SS0I-3LJZ-MGXR-07FPZMT7CQSS-low.png图 4-13 观察窗口
  2. 通过将“1”写入 DAB_clearTrip 变量，启用 PWM。（此变量在写入后及正常工作期间复位为零）
  • 实验1 的通过标准

    连接 PWM1A (Q1)、PWM1B (Q2)、PWM3A(Q5) 和 PWM3B (Q6) 上的探针。

    1A 和 1B 为互补对，3A 与具有指定相移的 1A 同步，且相移由变量 DAB_pwmPhaseShiftPrimSecRef_pu 控制。

    请检查以下各项：

    1. 频率为 100kHz
      GUID-20210818-SS0I-2XRQ-WGNV-DCRVLKJ75WCK-low.png图 4-14 100 kHz PWM
    2. 现在将相移更改为 0.05ns → 500ns，以查看更多可观察的相移
      GUID-20210818-SS0I-CW2H-QNR5-DJ1SGPQPNNJJ-low.png图 4-15 相移 500ns
    3. 相移与示波器上的变量所指定的相移匹配。检查非时钟节拍（即 10ns 以下的相移内部）来验证高分辨率操作。在图 4-16 和图 4-17 中，相移由示波器测量，其中对于 500ns 设定点，相称大概为 500ns，对于 502ns 设定点，相移大概为 502ns，小幅抖动大概为 1ns 至 2ns 的小幅抖动可能，可以是测量误差。
      警告： 不建议在 0.45pu 以上运行相移。
      GUID-20210818-SS0I-T8RF-NGMG-DDBNSCTRNBHV-low.png图 4-16 高分辨率相移 500ns（抖动误差为 1ns）
      GUID-20210818-SS0I-TFJV-RZDH-XF9FQN26XFXX-low.png图 4-17 高分辨率相移 502ns
    4. 将 PWM 探针更改为 PWM1A、PWM1B、PWM2A 和 PWM2B。
      • 验证 PWM1A 和 2B 是否同步且同相
      • 验证 PWM1B 和 2A 是否同步且同相
      GUID-20210818-SS0I-CHQ3-MH7V-6NXTCF85CM06-low.png图 4-18 PWM 同步
    5. 当次级侧 PWM 的相移发生改变时，验证它们是否保持同步且同相：
      GUID-20210818-SS0I-RT6C-H3ZM-PWM3LW4FQBSP-low.png图 4-19 PWM 同步但存在相移