第一阶段是利用内置的环回模式确定相位测量的基准值。该基准能够消除器件中的任何相位偏移,仅测量负载的相位。该测量值仅针对通道 1 与通道 3。通道 2 将利用通道 1 的结果进行计算。通道 4 将利用通道 3 的结果进行计算。依次测量通道 1 与通道 3,不能同时测量。
对于环回延迟检测,请使用以下测试程序:
BTL 模式
- 将 AC_DIAGS_LOOPBACK 位(寄存器 0x16 第 7 位)设置为 1,以便启用环回模式
- 在寄存器 0x2A 中设置适当的测试频率,默认值为 18.75kHz
- 对于通道 1,将寄存器 0x15 第 3 位设置为 1。对于通道 3,将寄存器 0x15 第 1 位设置为 1
- 读取十六进制值的 AC_LDG_Phase1 值。寄存器 0x1B 存储高字节(MSB),寄存器 0x1C 存储低字节(LSB)
- 对于通道 1,将寄存器 0x15 第 3 位设置为 0。对于通道 3,将寄存器 0x15 第 1 位设置为 0
PBTL 模式
- 将 AC_DIAGS_LOOPBACK 位(寄存器 0x16 第 7 位)设置为 1,以便启用 AC 环回模式
- 将 PBTL CH12 与 PBTL CH34 位(寄存器 0x00 第 5 与 4 位)设置为 0。必须在器件处于待机状态时执行该操作,以便进入 BTL 模式,仅进行负载诊断
- 在寄存器 0x2A 中设置适当的测试频率,默认值为 18.75kHz
- 对于通道 1,将寄存器 0x15 第 3 位设置为 1。对于通道 3,将寄存器 0x15 第 1 位设置为 1
- 读取十六进制值的 AC_LDG_Phase1 值。寄存器 0x1B 存储高字节(MSB),寄存器 0x1C 存储低字节(LSB)
- 设置 PBTL CH12 与 PBTL CH34 位(寄存器 0x00 第 5 与 4 位)为 1,以便返回 PBTL 模式,进行负载诊断
- 对于通道 1,将寄存器 0x15 第 3 位设置为 0。对于通道 3,将寄存器 0x15 第 1 位设置为 0
测试完成后,通道报告寄存器(0x0F)将指示从交流诊断模式到高阻态的状态变化。当器件转换为高阻态时,检测到的基准相位将存储在相应的 I2C 寄存器中。