ZHCSQC0C June 2022 – April 2025 ADC12DJ5200-SP
PRODUCTION DATA
SYSREF 窗口化块用于首先检测 SYSREF 相对于 CLK± 上升沿的位置，然后选择所需的 SYSREF 采样实例（该实例是 CLK± 的延迟版本），以最大程度地提高建立和保持时序裕度。在很多情况下，单个 SYSREF 采样位置 SYSREF_SEL 足以满足所有系统（器件间的差异）和条件（温度和电压差异）的时序要求。但是，系统也可以使用此功能来扩展计时窗口（方法是在工作条件发生变化时跟踪 SYSREF 的移动），或者在生产测试时消除系统间的差异（方法是为每个系统在标称条件下寻找唯一的更优值）。
本部分介绍了 SYSREF 窗口化块的正确用法。首先，将器件时钟和 SYSREF 应用于器件。SYSREF 相对于器件时钟周期的位置将被确定并存储在 SYSREF 采集位置寄存器的 SYSREF_POS 位中。ADC12DJ5200-SP 必须看到至少 3 个 SYSREF 上升沿，SYSREF_POS 输出才会有效。SYSREF_POS 的每个位代表一个潜在的 SYSREF 采样位置。如果 SYSREF_POS 中的位设置为 1，则相应的 SYSREF 采样位置可能存在建立或保持时间违例。确定有效的 SYSREF 采样位置（SYSREF_POS 的位置设置为 0）后，可以通过将时钟控制寄存器 0 中的 SYSREF_SEL 设置为对应于该 SYSREF_POS 位置的值来选择所需的采样位置。通常，选择两个建立和保持实例之间的中间采样位置。理想情况下，SYSREF_POS 和 SYSREF_SEL 在系统的标称工作条件（温度和电源电压）下执行，以便提供最大裕度来适应工作条件的变化。此过程可在最终测试中执行，并且可存储更优 SYSREF_SEL 设置，以便在每次系统上电时使用。此外，SYSREF_POS 可用于通过扫描系统温度和电源电压来表征系统工作条件下 CLK± 和 SYSREF± 之间的偏斜。对于 CLK± 到 SYSREF± 偏斜有较大变化的系统，此表征可用于在系统工作条件发生变化时跟踪更优 SYSREF 采样位置。通常，可以找到满足匹配良好的系统在所有条件下的时序要求的单个值，例如 CLK± 和 SYSREF± 来自单个时钟器件的条件。
使用自动 SYSREF 校准时，SYSREF_SEL 必须设置为 0；请参阅自动 SYSREF 校准 部分。
每个 SYSREF_POS 采样位置之间的步长可使用 SYSREF_ZOOM 进行调整。当 SYSREF_ZOOM 设置为 0 时，延迟步长较粗。当 SYSREF_ZOOM 设置为 1 时，延迟步长较细。请参阅开关特性 表，了解当 SYSREF_ZOOM 被启用和禁用时的延迟步长。通常，建议在 fCLK = 3GHz 以上时使用 SYSREF_ZOOM = 1，在 fCLK = 3GHz 以下时使用 SYSREF_ZOOM = 0。SYSREF_POS 的位 0 和 23 始终设置为 1，因为没有足够的信息来确定这些设置是否接近时序违例，尽管实际有效窗口可以扩展到这些采样位置之外。编程到 SYSREF_SEL 中的值是表示 SYSREF_POS 中所需位位置的十进制数。表 6-6 列出了一些 SYSREF_POS 读数示例和更优 SYSREF_SEL 设置。尽管 SYSREF_POS 状态寄存器提供了 24 个采样位置，但 SYSREF_SEL 仅允许选择前 16 个采样位置，对应于 SYSREF_POS 位 0 至 15。附加的 SYSREF_POS 状态位仅用于提供 SYSREF 有效窗口的额外信息。通常，由于电源电压的延迟变化，选择较低的 SYSREF_SEL 值，但在第四个示例中，值 15 可提供额外裕度，因此可以选择该值。
| SYSREF_POS[23:0] | 更优 SYSREF_SEL 设置 | ||
|---|---|---|---|
| 0x02E[7:0] （最大延迟） | 0x02D[7:0](1) | 0x02C[7:0](1) （最小延迟） | |
| b10000000 | b01100000 | b00011001 | 8 或 9 |
| b10011000 | b00000000 | b00110001 | 12 |
| b10000000 | b01100000 | b00000001 | 6 或 7 |
| b10000000 | b00000011 | b00000001 | 4 或 15 |
| b10001100 | b01100011 | b00011001 | 6 |