ZHCSQC0C June   2022  – April 2025 ADC12DJ5200-SP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性：直流规格
    6. 5.6  电气特性：功耗
    7. 5.7  电气特性：交流规格（双通道模式）
    8. 5.8  电气特性：交流规格（单通道模式）
    9. 5.9  时序要求
    10. 5.10 开关特性
    11. 5.11 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1  器件比较
      2. 6.3.2  模拟输入
        1. 6.3.2.1 模拟输入保护
        2. 6.3.2.2 满量程电压 (VFS) 调整
        3. 6.3.2.3 模拟输入失调电压调整
      3. 6.3.3  ADC 内核
        1. 6.3.3.1 ADC 工作原理
        2. 6.3.3.2 ADC 内核校准
        3. 6.3.3.3 模拟基准电压
        4. 6.3.3.4 ADC 超范围检测
        5. 6.3.3.5 误码率 (CER)
      4. 6.3.4  温度监测二极管
      5. 6.3.5  时间戳
      6. 6.3.6  时钟
        1. 6.3.6.1 无噪声孔径延迟调节（tAD 调节）
        2. 6.3.6.2 孔径延迟斜坡控制 (TAD_RAMP)
        3. 6.3.6.3 用于多器件同步和确定性延迟的 SYSREF 采集
          1. 6.3.6.3.1 SYSREF 位置检测器和采样位置选择（SYSREF 窗口）
          2. 6.3.6.3.2 自动 SYSREF 校准
      7. 6.3.7  可编程 FIR 滤波器 (PFIR)
        1. 6.3.7.1 双通道均衡
        2. 6.3.7.2 单通道均衡
        3. 6.3.7.3 时变滤波器
      8. 6.3.8  数字下变频器 (DDC)
        1. 6.3.8.1 舍入和饱和
        2. 6.3.8.2 数控振荡器和复频混频器
          1. 6.3.8.2.1 NCO 快速跳频 (FFH)
          2. 6.3.8.2.2 NCO 选择
          3. 6.3.8.2.3 基本 NCO 频率设置模式
          4. 6.3.8.2.4 合理 NCO 频率设置模式
          5. 6.3.8.2.5 NCO 相位偏移设置
          6. 6.3.8.2.6 NCO 相位同步
        3. 6.3.8.3 抽取滤波器
        4. 6.3.8.4 输出数据格式
        5. 6.3.8.5 抽取设置
          1. 6.3.8.5.1 抽取因子
          2. 6.3.8.5.2 DDC 增益提升
      9. 6.3.9  JESD204C 接口
        1. 6.3.9.1 传输层
        2. 6.3.9.2 扰频器
        3. 6.3.9.3 链路层
        4. 6.3.9.4 8B/10B 链路层
          1. 6.3.9.4.1 数据编码 (8B/10B)
          2. 6.3.9.4.2 多帧和本地多帧时钟 (LMFC)
          3. 6.3.9.4.3 代码组同步 (CGS)
          4. 6.3.9.4.4 初始通道对齐序列 (ILAS)
          5. 6.3.9.4.5 帧和多帧监控
        5. 6.3.9.5 64B/66B 链路层
          1. 6.3.9.5.1 64B/66B 编码
          2. 6.3.9.5.2 多块、扩展多块和本地扩展多块时钟 (LEMC)
          3. 6.3.9.5.3 使用同步报头的模块、多块和扩展多块对齐
            1. 6.3.9.5.3.1 循环冗余校验 (CRC) 模式
            2. 6.3.9.5.3.2 正向纠错 (FEC) 模式
          4. 6.3.9.5.4 初始通道对齐
          5. 6.3.9.5.5 模块、多块和扩展多块对齐监控
        6. 6.3.9.6 物理层
          1. 6.3.9.6.1 串行器/解串器预加重功能
        7. 6.3.9.7 JESD204C 启用
        8. 6.3.9.8 多器件同步和确定性延迟
        9. 6.3.9.9 在子类 0 系统中运行
      10. 6.3.10 报警监控
        1. 6.3.10.1 时钟翻转检测
        2. 6.3.10.2 FIFO 翻转检测
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 双通道模式
      2. 6.4.2 单通道模式（DES 模式）
      3. 6.4.3 双输入单通道模式（双 DES 模式）
      4. 6.4.4 JESD204C 模式
        1. 6.4.4.1 JESD204C 工作模式表
        2. 6.4.4.2 JESD204C 模式（续）
        3. 6.4.4.3 JESD204C 传输层数据格式
        4. 6.4.4.4 64B/66B 同步报头流配置
      5. 6.4.5 断电模式
      6. 6.4.6 测试模式
        1. 6.4.6.1 串行器测试模式详细信息
        2. 6.4.6.2 PRBS 测试模式
        3. 6.4.6.3 时钟图形模式
        4. 6.4.6.4 斜坡测试模式
        5. 6.4.6.5 近程和远程传输测试模式
          1. 6.4.6.5.1 近程传输测试模式
        6. 6.4.6.6 D21.5 测试模式
        7. 6.4.6.7 K28.5 测试模式
        8. 6.4.6.8 重复 ILA 测试模式
        9. 6.4.6.9 修改的 RPAT 测试模式
      7. 6.4.7 校准模式和修整
        1. 6.4.7.1 前台校准模式
        2. 6.4.7.2 后台校准模式
        3. 6.4.7.3 低功耗后台校准 (LPBG) 模式
      8. 6.4.8 偏移校准
      9. 6.4.9 修整
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 使用串行接口
        1. 6.5.1.1 SCS
        2. 6.5.1.2 SCLK
        3. 6.5.1.3 SDI
        4. 6.5.1.4 SDO
        5. 6.5.1.5 流模式
    6. 6.6 SPI 寄存器映射
  8. 7 应用信息免责声明
    1. 7.1 应用信息
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 宽带射频采样接收器
        1. 7.2.1.1 设计要求
          1. 7.2.1.1.1 输入信号路径
          2. 7.2.1.1.2 时钟
        2. 7.2.1.2 详细设计过程
          1. 7.2.1.2.1 计算交流耦合电容的值
      2. 7.2.2 可重新配置的双通道 5 GSPS 或单通道 10 Gsps 示波器
        1. 7.2.2.1 设计要求
          1. 7.2.2.1.1 输入信号路径
          2. 7.2.2.1.2 时钟
          3. 7.2.2.1.3 ADC12DJ5200-SP 示波器应用
    3. 7.3 初始化设置
    4. 7.4 电源相关建议
      1. 7.4.1 电源时序
    5. 7.5 布局
      1. 7.5.1 布局指南
      2. 7.5.2 布局示例
  9. 8 器件和文档支持
    1. 8.1 器件支持
      1. 8.1.1 开发支持
    2. 8.2 文档支持
      1. 8.2.1 相关文档
    3. 8.3 接收文档更新通知
    4. 8.4 支持资源
    5. 8.5 商标
    6. 8.6 静电放电警告
    7. 8.7 术语表
  10. 9 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.1 概述

ADC12DJ5200-SP 器件是一款射频采样千兆采样模数转换器 (ADC)，可对从直流到 10GHz 以上的输入频率进行直接采样。在双通道模式下，器件的采样率高达 5.2GSPS，在单通道模式下，器件的采样率高达 10.4GSPS。通道数（双通道模式）和奎斯特带宽（单通道模式）的可编程交换功能可用于开发灵活的硬件，以满足高通道数或宽瞬时信号带宽应用的需求。8GHz 的全功率输入带宽 (–3dB)，可用频率在双通道和单通道模式下均超过 –3dB，可对频率捷变系统的 L、S、C 和 X 带进行直接射频采样。

该器件采用具有多达 16 个串行通道和 1 子类兼容性的高速 JESD204C 输出接口，可实现确定性延迟和多器件同步。串行输出通道支持高达 17.16Gbps 的比特率，并可进行配置，在比特率和通道数之间进行权衡。支持 8B/10B 以及 64B/66B 数据编码方案。64B/66B 编码方案支持前向纠错 (FEC)，来改善误码率。使用 8B/10B 编码模式时、JESD204C 接口向后兼容 JESD204B 接收器。

拥有无噪声孔径延迟 (tAD) 调节和 SYSREF 窗口化等多种同步特性，可简化多通道系统的系统设计。孔径延迟调节可用于简化 SYSREF 采集，在多个 ADC 之间对齐采样实例，或对前端跟踪保持 (T&H) 放大器输出的适当位置进行采样。SYSREF 窗口化提供了一种简单的方法，来测量 SYSREF 相对于器件时钟的无效时序区域，然后选择理想采样位置。双边沿采样 (DES) 在单通道模式下实现，以降低应用于 ADC 的最大时钟速率，从而支持各种时钟源，并放宽 SYSREF 采集的设置和保持时序。

该器件提供增益、偏移和静态线性误差的前台和后台校准选项。前台校准在系统启动时或在 ADC 离线且不向逻辑器件发送数据的指定时间运行。后台校准允许 ADC 在内核在后台校准的同时持续运行，使系统不会出现停机情况。校准例程还用于匹配子 ADC 内核之间的增益和偏移，以更大限度地减少时间交错产生的杂散伪影。