ZHCU108B June   2015  – March 2025

 

  1.   1
  2.   说明
  3.   资源
  4.   特性
  5.   应用
  6.   6
  7. 1 系统说明
    1. 1.1 设计概述
    2. 1.2 模拟正弦/余弦增量编码器
      1. 1.2.1 正弦/余弦编码器输出信号
      2. 1.2.2 正弦/余弦编码器电气参数示例
    3. 1.3 通过正弦/余弦编码器计算高分辨率位置的方法
      1. 1.3.1 理论方法
        1. 1.3.1.1 概述
        2. 1.3.1.2 粗略分辨率角度计算
        3. 1.3.1.3 精确分辨率角度计算
        4. 1.3.1.4 插值高分辨率角度计算
        5. 1.3.1.5 非理想同步条件下的实际实施情况
        6. 1.3.1.6 分辨率、精度和速度注意事项
    4. 1.4 正弦/余弦编码器参数对模拟电路规范的影响
      1. 1.4.1 相位插值的模拟信号链设计注意事项
      2. 1.4.2 增量计数的比较器功能系统设计
  8. 2 设计特性
    1. 2.1 正弦/余弦编码器接口
    2. 2.2 主机处理器接口
    3. 2.3 评估固件
    4. 2.4 电源管理
    5. 2.5 EMC 抗扰度
  9. 3 方框图
  10. 4 电路设计和元件选型
    1. 4.1 模拟信号链
      1. 4.1.1 带有 16 位双路采样 ADC 的高分辨率信号路径
        1. 4.1.1.1 元件选型
        2. 4.1.1.2 输入信号端接与保护
        3. 4.1.1.3 差分放大器 THS4531A 和 16 位 ADC ADS8354
      2. 4.1.2 面向嵌入式 ADC 的 MCU 的单端输出模拟信号路径
      3. 4.1.3 数字信号 A、B 和 R 的比较器子系统
        1. 4.1.3.1 具有迟滞功能的同相比较器
    2. 4.2 电源管理
      1. 4.2.1 24V 输入转换为 6V 中间电压轨
      2. 4.2.2 编码器电源
      3. 4.2.3 信号链电源 5V 和 3.3V
    3. 4.3 主机处理器接口
      1. 4.3.1 信号描述
      2. 4.3.2 采用具有串行输出的 16 位双路 ADC ADS8354 的高分辨率路径
        1. 4.3.2.1 ADS8354 输入满标量程输出数据格式
        2. 4.3.2.2 ADS8354 串行接口
        3. 4.3.2.3 ADS8354 转换数据读取
        4. 4.3.2.4 ADS8354 寄存器配置
    4. 4.4 编码器连接器
    5. 4.5 设计升级
  11. 5 软件设计
    1. 5.1 概述
    2. 5.2 C2000 Piccolo 固件
    3. 5.3 用户界面
  12. 6 入门
    1. 6.1 TIDA-00176 PCB 概览
    2. 6.2 连接器和跳线设置
      1. 6.2.1 连接器和跳线概述
      2. 6.2.2 默认跳线配置
    3. 6.3 设计评估
      1. 6.3.1 先决条件
      2. 6.3.2 硬件设置
      3. 6.3.3 软件设置
      4. 6.3.4 用户界面
  13. 7 测试结果
    1. 7.1 模拟性能测试
      1. 7.1.1 高分辨率信号路径
        1. 7.1.1.1 编码器连接器至 ADS8354 输入端的模拟路径波德图
        2. 7.1.1.2 整个高分辨率信号路径的性能曲线图 (DFT)
        3. 7.1.1.3 ADC 交流性能定义的背景信息
      2. 7.1.2 差分转单端模拟信号路径
      3. 7.1.3 带数字输出信号 ATTL、BTTL 和 RTTL 的比较器子系统
    2. 7.2 电源测试
      1. 7.2.1 24V DC/DC 输入电源
        1. 7.2.1.1 负载-线路调整
        2. 7.2.1.2 输出电压纹波
        3. 7.2.1.3 开关节点和开关频率
        4. 7.2.1.4 效率
        5. 7.2.1.5 波特图
        6. 7.2.1.6 热像图
      2. 7.2.2 编码器电源输出电压
      3. 7.2.3 5V 和 3.3V 负载点
    3. 7.3 系统性能
      1. 7.3.1 正弦/余弦编码器输出信号仿真
        1. 7.3.1.1 一个周期（增量相位）测试
        2. 7.3.1.2 最大速度时机械旋转一周的测试
    4. 7.4 正弦/余弦编码器系统测试
      1. 7.4.1 零索引标记 R
      2. 7.4.2 功能性系统测试
    5. 7.5 EMC 测试结果
      1. 7.5.1 测试设置
      2. 7.5.2 IEC-61000-4-2 ESD 测试结果
      3. 7.5.3 IEC-61000-4-4 EFT 测试结果
      4. 7.5.4 IEC-61000-4-5 浪涌测试结果
  14. 8 设计文件
    1. 8.1 原理图
    2. 8.2 物料清单
    3. 8.3 PCB 布局指南
      1. 8.3.1 PCB 层图
    4. 8.4 Altium 工程
    5. 8.5 Gerber 文件
    6. 8.6 软件文件
  15. 9 参考资料
  16. 10作者简介
    1.     致谢
  17. 11修订历史记录

7.5.2 IEC-61000-4-2 ESD 测试结果

图 6-1 展示了 ESD 测试设置。对 SubD-15 插座屏蔽层施加 ESD 冲击。屏蔽层同时接地，正弦/余弦编码器通过 1m 屏蔽双绞线电缆进行连接。

TIDA-00176 TIDA-00176 的 IEC61000-4-2 ESD 测试设置图 7-38 TIDA-00176 的 IEC61000-4-2 ESD 测试设置

表 7-10显示了不同电压等级下完整的 ESD 接触放电或空气放电测试结果，此类结果均超出了 IEC618000-3 规定的要求。我们对此进行了相应标记。

表 7-10 TIDA-00176 的 IEC-61000-4-2 ESD 测试结果
现象基本标准等级TIDA-00176 连接器所达到的性能标准(1)注释
ESDIEC61000-4-2±4-kV 接触放电SubD-15B
ESDIEC61000-4-2±6-kV 接触放电SubD-15BIEC61800-3 未要求
ESDIEC61000-4-2±8kV 接触放电SubD-15BIEC61800-3 未要求
ESDIEC61000-4-2±8-kV 空气放电SubD-15B
ESDIEC61000-4-2±15-kV 空气放电SubD-15BIEC61800-3 未要求
(1) 至少达到 B 类，因为在 ESD 测试过程中所测得的任何角度相对于参考角度的偏离均未超过 0.1 度。该值小于增量线数分辨率。各范围内的角度误差列于表 7-9中。欲了解 A 类、请参见表 7-7，注 1。
表 7-11 整个测试过程中 IEC-61000-4-2 ESD 角度误差分布
误差计数器角度误差范围（度）发生次数
@ 4kV CD		发生次数
@ 6kV CD		发生次数
@ 8kV CD
误差范围 1>1.0000
误差范围 20.18 ≤ 误差 < 1.0000
误差范围 30.1 ≤ 误差 < 0.18000
误差范围 40.01 ≤ 误差 < 0.1123
误差范围 50.001 ≤ 误差 < 0.010131878

ESD 测试前后的角度相差不超过 0.0005 度，处于固定角度正态分布范围内。例如，6kV CD ESD 测试之前的角度为 80.0272 度，ESD 测试之后的角度为 80.0274 度，处于固定角度标准分布范围内。