建议在处于最坏的器件功耗情况下执行系统级热仿真。
| 编号 |
参数 |
说明 |
℃/W(1)(2) |
气流(m/s)(3) |
| T1 |
RΘJC |
结点到外壳 |
1.2 |
不适用 |
| T2 |
RΘJB |
结点到电路板 |
3.8 |
不适用 |
| T3 |
RΘJA |
结点到环境空气 |
14.4 |
0 |
| T4 |
结至流动空气 |
10.0 |
1 |
| T5 |
8.9 |
2 |
| T6 |
8.3 |
3 |
| T7 |
ΨJT |
结至封装顶部 |
0.46 |
0 |
| T8 |
0.47 |
1 |
| T9 |
0.48 |
2 |
| T10 |
0.49 |
3 |
| T11 |
ΨJB |
结点到电路板 |
3.7 |
0 |
| T12 |
3.3 |
1 |
| T13 |
3.2 |
2 |
| T14 |
3.2 |
3 |
(1) 以上值基于 JEDEC 定义的 2S2P 系统(基于 JEDEC 定义的 1S0P 系统的 Theta JC [RΘJC] 值除外),将随环境和应用的变化而更改。有关更多信息,请参阅以下 EIA/JEDEC 标准:
•JESD51-2, Integrated Circuits Thermal Test Method Environment Conditions - Natural Convection (Still Air)
• JESD51-3, Low Effective Thermal Conductivity Test Board for Leaded Surface Mount Packages
• JESD51-6, Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental Conditions - Forced Convection (Moving Air)
• JESD51-7, High Effective Thermal Conductivity Test Board for Leaded Surface Mount Packages
• JESD51-9, Test Boards for Area Array Surface Mount Packages
(2) °C/W = 摄氏度/瓦
(3) m/s = 米/秒