ZHCU948B September 2020 – May 2022 BQ76952
15 | 14 | 13 | 12 | 11 | 10 | 9 | 8 |
RSVD_0 | RSVD_0 | RSVD_0 | RSVD_0 | RSVD_0 | RSVD_0 | RSVD_0 | RSVD_0 |
7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
OTPW_EN | PF_EN | PDSG_TEST | FET_EN | RSVD_0 | DSG_TEST | CHG_TEST | PCHG_TEST |
说明:提供在制造过程中使用的标志。
位 | 字段 | 说明 |
---|---|---|
7 | OTPW_EN | 该位在正常操作期间可以启用或禁用对 OTP 的写入。当发生 PF 或保险丝熔断时,该器件对 OTP 中的位进行编程,以在完全复位后保持状态。它还可以根据请求对 MANU_DATA 进行编程(如果处于 FULLACCESS 模式)。该位使器件能够将此运行时数据编程到 OTP 中。仅当电池组电压和温度处于允许的范围内时才会进行编程。如果没有设置该位,可能仍会在 CONFIG_UPDATE 模式下完成编程。 0 = 器件在正常运行期间不会对 OTP 进行编程 1 = 器件可能会在正常运行期间对 OTP 进行编程 |
6 | PF_EN | 该位可以启用或禁用永久失效检查。清除此位可防止触发永久失效,这在制造过程中很有用。 0 = 禁用永久失效检查 1 = 启用永久失效检查 |
5 | PDSG_TEST | 该位指示 PDSG FET 是否在 FET 测试模式下启用。使用 PDSGTEST() 子命令控制该位。 0 = PDSG FET 未在 FET 测试模式下启用 1 = PDSG FET 在 FET 测试模式下启用 |
4 | FET_EN | 该位可以启用或禁用 FET 检测模式。在 FET 测试模式下,FET 状态由 FET 测试子命令控制。这通常是在制造过程中用于测试 FET 电路。请注意,在 FET 测试模式下,安全检查仍可能强制 FET 关断(或对体二极管保护而导通)。 0 = 禁用正常 FET 控制。FET 测试模式已启用。除非 FET 测试子命令指示器件开启 FET,否则器件不会开启 FET 1 = 启用正常 FET 控制。FET 测试模式已禁用。器件将忽略 FET 测试子命令 |
2 | DSG_TEST | 该位指示 DSG FET 是否在 FET 测试模式下启用。使用 DSGTEST() 子命令控制该位。 0 = DSG FET 未在 FET 测试模式下启用 1 = DSG FET 在 FET 测试模式下启用 |
1 | CHG_TEST | 该位指示 CHG FET 是否在 FET 测试模式下启用。使用 CHGTEST() 子命令控制该位。 0 = CHG FET 未在 FET 测试模式下启用 1 = CHG FET 在 FET 测试模式下启用 |
0 | PCHG_TEST | 该位指示 PCHG FET 是否在 FET 测试模式下启用。使用 PCHGTEST() 子命令控制该位。 0 = PCHG FET 未在 FET 测试模式下启用 1 = PCHG FET 在 FET 测试模式下启用 |