ZHCU948B September 2020 – May 2022 BQ76952
类别 | 子类别 | 名称 | 类型 | 最小值 | 最大值 | 默认值 | 单位 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Permanent Fail | CUDEP | Delay | U1 | 0 | 255 | 2 | s |
说明:当电芯过度放电严重时,会发生铜沉积,从而导致非常高的阻抗。通常,在电芯达到此低电压之前器件会关闭,但在某些配置中,器件可能会在连接充电器时被唤醒。如果此时导通 FET,电压会急剧上升,并且由于流过较高的充电电流,电芯看起来状况良好。启用时,铜沉积检查会保持 FET 关闭,直到电压大于等于 Permanent Fail:CUDEP:Threshold Permanent Fail:CUDEP:Delay 秒。如果电压低于 Permanent Fail:CUDEP:Threshold Permanent Fail:CUDEP:Delay 秒,则触发 CUDEP 永久失效。