ZHCAB61 November 2020 AWR1843 , AWR2243
即使在使用本文档前面所述的方法降低 TX 相移误差中的过程变化影响后,仍可能会存在由温漂导致的残留 TX 相移误差。下面介绍了一种用于减少该残留误差的典型策略,该策略是工作人员在 TI 实验室中在不同温度条件下评估多个器件(AWR1843 和 AWR2243,标称流程)而得出的。
按照下列步骤操作:
后续几节对此进行了说明。