ZHCAB61 November   2020 AWR1843 , AWR2243

 

  1.   商标
  2.   摘要
  3. 1引言
    1. 1.1 背景 – 简单的单芯片应用
  4. 2级联不一致性来源及缓解策略
    1. 2.1 PCB 布线不平衡与器件工艺
    2. 2.2 温度漂移
    3. 2.3 安排运行时校准
  5. 3实现级联一致性和改进的相位性能
    1. 3.1 简要总结
      1. 3.1.1 建议步骤的序列和介绍性流程图
    2. 3.2 保存客户工厂的 RF INIT 校准结果
      1. 3.2.1 LODIST 校准说明
      2. 3.2.2 在客户工厂执行 TX 移相器校准并保存结果
    3. 3.3 客户工厂处基于角反射器的失调测量
      1. 3.3.1 基于角反射器的通道间不平衡
      2. 3.3.2 基于角反射器的 TX 移相器误差
    4. 3.4 现场恢复工厂校准结果
      1. 3.4.1 现场恢复 RF INIT 校准结果
      2. 3.4.2 现场恢复 TX 相移校准结果
    5. 3.5 基于主机的现场温度校准
      1. 3.5.1 禁用 AWR 器件的自主运行时校准
      2. 3.5.2 实现基于主机的通道间不平衡温度校准
      3. 3.5.3 切换 DSP 不平衡数据
      4. 3.5.4 实现 TX 移相器基于主机的温度校准
        1. 3.5.4.1 估算任何温度下的 TX 相移值
        2. 3.5.4.2 AWR1843TX 移相器的温度校正 LUT
        3. 3.5.4.3 AWR2243 TX 移相器的温度校正 LUT
        4. 3.5.4.4 恢复 TX 相移值 – 格式转换
        5. 3.5.4.5 恢复 TX 相移值 – 转换时序和限制
        6. 3.5.4.6 典型校准后 TX 移相器精度
        7. 3.5.4.7 在不同相位设置之间进行扫描时的温漂校正
        8. 3.5.4.8 不同移相器设置下的振幅稳定性
        9. 3.5.4.9 客户 PCB 20GHz 同步路径衰减对 TX 移相器的影响
      5. 3.5.5 环境温度与器件温度
  6. 4概念展示
  7. 5其他（干扰、增益变化、采样抖动）
    1. 5.1 处理现场干扰
    2. 5.2 关于 TX 功率和 RX 增益漂移与温度间关系的信息
    3. 5.3 线性调频脉冲开始与 ADC 采样开始之间的抖动
  8. 6结论
  9.   A 附录
    1.     A.1 术语
    2.     A.2 参考文献
    3.     A.3 级联一致性拟议方案的流程图
    4.     A.4 用于降低 TX 移相器温漂的 LUT
    5.     A.5 TX 移相器校准数据保存和恢复 API 的循环移位

3.4.1 现场恢复 RF INIT 校准结果

在现场上电时，传感器中的主机处理器可以将每个器件恢复到与客户工厂中相同的 RF INIT 校准状态。这可以按照以下程序来实现。它与正常的 RF INIT 调用和启动序列略有不同。

  1. 从传感器的非易失性存储器恢复每个器件的 RF INIT 校准结果。
    • 使用 AWR CAL DATA RESTORE SB 来完成此步骤。
    • 这是正常启动序列之外的一个额外步骤。
  2. 将所有 RF INIT 校准配置为禁用。
    • 使用 AWR RF INIT CALIBRATION CONF SB 来完成此步骤。
    • 这是正常启动序列之外的一个额外步骤。
  3. 触发 RF INIT。
    • 使用 AWR RF INIT SB 来完成此步骤。

上述恢复操作不包含 TX 相移校准和数字延迟补偿设置。

上述过程中所有校准都处于禁用状态，因此校准报告 API 消息 (AWR AE RF INITCALIBSTATUS SB) 也会将校准状态报告为 0。强制校准（例如将 PLL 保持锁定）会在没有主机控制的情况下完成。与工厂校准期间以非叠加式向所有级联的器件发出 RF INIT API 并保存的时间限制（以避免互干扰）不同，恢复阶段不存在特殊的时间限制（因为这里校准测量实际上处于禁用状态）。