ZHCAB61 November   2020 AWR1843 , AWR2243

 

  1.   商标
  2.   摘要
  3. 1引言
    1. 1.1 背景 – 简单的单芯片应用
  4. 2级联不一致性来源及缓解策略
    1. 2.1 PCB 布线不平衡与器件工艺
    2. 2.2 温度漂移
    3. 2.3 安排运行时校准
  5. 3实现级联一致性和改进的相位性能
    1. 3.1 简要总结
      1. 3.1.1 建议步骤的序列和介绍性流程图
    2. 3.2 保存客户工厂的 RF INIT 校准结果
      1. 3.2.1 LODIST 校准说明
      2. 3.2.2 在客户工厂执行 TX 移相器校准并保存结果
    3. 3.3 客户工厂处基于角反射器的失调测量
      1. 3.3.1 基于角反射器的通道间不平衡
      2. 3.3.2 基于角反射器的 TX 移相器误差
    4. 3.4 现场恢复工厂校准结果
      1. 3.4.1 现场恢复 RF INIT 校准结果
      2. 3.4.2 现场恢复 TX 相移校准结果
    5. 3.5 基于主机的现场温度校准
      1. 3.5.1 禁用 AWR 器件的自主运行时校准
      2. 3.5.2 实现基于主机的通道间不平衡温度校准
      3. 3.5.3 切换 DSP 不平衡数据
      4. 3.5.4 实现 TX 移相器基于主机的温度校准
        1. 3.5.4.1 估算任何温度下的 TX 相移值
        2. 3.5.4.2 AWR1843TX 移相器的温度校正 LUT
        3. 3.5.4.3 AWR2243 TX 移相器的温度校正 LUT
        4. 3.5.4.4 恢复 TX 相移值 – 格式转换
        5. 3.5.4.5 恢复 TX 相移值 – 转换时序和限制
        6. 3.5.4.6 典型校准后 TX 移相器精度
        7. 3.5.4.7 在不同相位设置之间进行扫描时的温漂校正
        8. 3.5.4.8 不同移相器设置下的振幅稳定性
        9. 3.5.4.9 客户 PCB 20GHz 同步路径衰减对 TX 移相器的影响
      5. 3.5.5 环境温度与器件温度
  6. 4概念展示
  7. 5其他（干扰、增益变化、采样抖动）
    1. 5.1 处理现场干扰
    2. 5.2 关于 TX 功率和 RX 增益漂移与温度间关系的信息
    3. 5.3 线性调频脉冲开始与 ADC 采样开始之间的抖动
  8. 6结论
  9.   A 附录
    1.     A.1 术语
    2.     A.2 参考文献
    3.     A.3 级联一致性拟议方案的流程图
    4.     A.4 用于降低 TX 移相器温漂的 LUT
    5.     A.5 TX 移相器校准数据保存和恢复 API 的循环移位

3.5.4.3 AWR2243 TX 移相器的温度校正 LUT

假定 Tfactory = 25°C，“附录”部分中的表格 9 提供了 Tpresent = -40°C、25°C、85°C、130°C 条件下 AWR2243 的温度校正 LUT (Tpresent)。图 3-4 中以图表形式提供了相同的信息。这些都是在 TI 实验室中对几个基于标称流程的器件进行评估而得到的。 评估是在通过波导环回将 TX 连接到 RX 的雷达系统上执行的。这里分别针对 TX1 的 76GHz 至 77GHz 频段和 77GHz 至 81GHz 频段提供了 LUT，以便捕获不同射频频率之间的细微差异。所有温度的 LUT 都使用 0 至 63 建立索引，对应于 6 位相移指数，而输出为所需的相位角校正值。如有需要，可以通过线性内插/外推来得出其他温度下的对应值。下图所示的数据是在一次一个 TX 处于开启状态下测得的。如果多个 TX 同时处于打开状态，Tx-Tx 天线耦合可能会对相位造成次级影响。

GUID-78DAB954-8042-483D-8D13-35186CF43668-low.jpg图 3-4 AWR2243 的 TX 相移误差温度校正1
  1. 假定在 25°C 下进行客户工厂校准，y 轴为相位误差，单位为度，而 x 轴为相移指数，单位 = 360̊/64。