ZHCSYH1A June 2025 – December 2025 AFE10004-EP
PRODUCTION DATA
在完成 EEPROM 加载序列之前,器件会执行 CRC 错误检查。CRC 多项式为 x12 + x11 + x3 + x2 + x + 1。CRC 检查结果通过 EECRC 位进行报告。如果检测到 CRC 错误,则操作存储器值会受到影响;请重置器件或再次刻录 EEPROM 以实现正常运行。
为了提高稳健性,我们将基于汉明码的单错校正和双错检测 (SECDED) 电路添加到 LUT 页面(第 4 页和第 5 页)的数据中。SECDED 电路使用四个汉明码位和一个奇偶校验位。交错式汉明和 LUT 数据存储在 EEPROM 中,表 6-10 展示了这些位。
| 数据和位的位置 | 15 | 14 | 13 | 12 | 11 | 10 | 9 | 8 | 7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 操作存储器中的数据和汉明码位 | P | H3 | H2 | H1 | H0 | X | X | X | D7 | D6 | D5 | D4 | D3 | D2 | D1 | D0 | |||||||
| 数据和汉明码交错位 | X | X | X | D7 | D6 | D5 | D4 | H3 | D3 | D2 | D1 | H2 | D0 | H1 | H0 | P | |||||||
SECDED 电路会检查每次 LUT 寄存器访问时的数据完整性。如果相关 LUT 数据寄存器中没有错误,则 HAMM 寄存器中的奇偶校验位 (P) 和四个汉明码位 (H[3:0]) 等于全零。如果 P = 1,则检测到并纠正了单个错误。H[3:0] 位中的值表示位错误相对于交错位的位置。例如,如果 P = 1 且 H[3:0] = 0x5,则表示在 D1 中检测到错误并进行纠正。
如果 P = 0 且 H[3:0] ≠ 0,则表示检测到双错误。在这种情况下,不会进行任何纠正。
表 6-11 总结了器件 EEPROM 完整性检查。
| 状态位名称 | 说明 |
|---|---|
| EECRC | 0 = 未检测到 CRC 错误。 1 = EEPROM 加载期间检测到 CRC 错误。操作存储器数据被泄露。 |
| EERDY | 0 = 正在进行 EEPROM 刻录。 1 = EEPROM 刻录完成。 |
| DED | 0 = 未检测到双位错误。 1 = 访问操作存储器中的 LUT 寄存器时检测到双位错误。错误未得到纠正。 |
| SED | 0 = 未检测到单位错误。 1 = 访问操作存储器中的 LUT 寄存器时检测单位错误。错误得到纠正。 |