基于短路电压的保护方案通常使用栅极驱动器中的 DESAT 功能来实现。OC 检测方法有时也用于基于电压的保护方案。因此，有以下两种选择：

• 使用 DESAT 引脚检测 FET 上的 V_SC 电压
• 使用 OC 引脚检测 FET 上的 V_SC 电压

选项 1：使用 DESAT 引脚检测 FET 上的 V_SC 电压：

电源模块中的典型电压检测方法是使用 DESAT 节点，如图 4-4 所示。高压漏极节点通过 1 个或 2 个高压二极管和一个限流电阻器 (R_LIM) 连接到 DESAT 引脚。DESAT 引脚上还连接了一个消隐电容器 (C_BLK)。DESAT 节点具有一个内部电流源，该电流源在内部连接到 VDD BIAS（次级隔离式偏置）。当 INP 为高电平时，内部电流源将通过 DESAT 引脚提供 (I_CHG) 电流。当 INP 为低电平时，电流源路径处于不活动状态。

在正常运行期间，电源模块上的电压较低，因此高压二极管 (D_{HV 1, 2}) 正向偏置，电流流过二极管和电源模块。但是，在短路事件期间，电源模块上的电压较高，这会导致 D_{HV1, 2} 反向偏置；因此，DESAT 电流路径断开。因此，I_CHG 为 C_BLK 电容器充电。当 DESAT 引脚上的电压超过检测阈值时，会触发 DESAT 故障并关闭栅极驱动器输出，以保护系统。关闭操作将在单独一节中讨论，因为 SC/OC 事件期间涉及高 di/dt，因此关闭操作需要特别考虑。

栅极驱动器的内部电流源通常约为 500μA 至 2mA。为了实现更快的保护，可通过使用一个电阻器将 DESAT 节点连接到 VDD/OUTH 来规划外部电流源路径。这一概念也可用于 OC 引脚。

选项 2：使用 OC 引脚检测 FET 上的 V_SC 电压

OC 引脚通常用于检测电流，如“基于电流的保护方法”部分所述。但是，OC 引脚也可通过从 VDD/OUT 提供电流源来实现基于 V_SC 的电压检测，如图 4-5 所示。与 DESAT 概念类似，在正常运行期间，VDD/OUT 充电电流路径通过电源模块，而在 OC/SC 事件期间，电流路径通过 C_FLT 电容器并会触发 OC 事件。

这里使用 DESAT 或 OC 引脚说明了基于 V_SC 和 I_SC 的保护方法。基于 I_SC 的保护方法更快，但如果使用 R_shunt，则会导致功率损耗增加，或者需要使用具有检测引脚的电源模块来实现 R_sense 方法。由于这些原因，SiC 和 IGBT 模块中都常常使用基于 DESAT 的方法。在本应用手册中，数据是基于 DESAT 和 OC 引脚的 V_SC 方法收集的。