ZHCAEV0 December   2024 ISO5451 , ISO5451-Q1 , ISO5452 , ISO5452-Q1 , ISO5851 , ISO5851-Q1 , ISO5852S , ISO5852S-EP , ISO5852S-Q1 , UCC21710 , UCC21710-Q1 , UCC21717-Q1 , UCC21732 , UCC21732-Q1 , UCC21736-Q1 , UCC21737-Q1 , UCC21738-Q1 , UCC21739-Q1 , UCC21750 , UCC21750-Q1 , UCC21755-Q1 , UCC21756-Q1 , UCC21759-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1 引言
  5. 2 SiC 和 IGBT 特性
  6. 3 失效模式
  7. 4 短路保护方法
    1. 4.1 基于短路电流的保护实现方案
    2. 4.2 基于短路电压的保护实现方案
  8. 5 DESAT 电路设计
    1. 5.1 DESAT 电路元件选型
    2. 5.2 寄生元件的影响
    3. 5.3 Rlim 对 DESAT 噪声的影响
  9. 6 安全关断
    1. 6.1 安全关断机制
    2. 6.2 安全关断注意事项
  10. 7 短路测试设置和数据
    1. 7.1 短路工作台测量设置
    2. 7.2 用于数据收集的 SC 板设置
    3. 7.3 用于 SC 测试的不同电路配置
    4. 7.4 工作台测量结果
    5. 7.5 SiC 与 IGBT 电源模块短路观察的总体摘要
  11. 8 设计 SC 保护电路的关键注意事项
  12. 9 总结
  13. 10参考资料

7.1 短路工作台测量设置

为了模拟短路事件，我们使用了半桥栅极驱动器板 UCC21710QDWEVM-054。该半桥板能够进行双脉冲或 SC 测试。在 SC 测试中，高侧驱动器输入永久设置为高电平，同时低侧栅极驱动器将在高侧开关导通时开启。

高压电源和大容量电容用作 HV 电源。图 7-1 显示了 SC 测试的原理图。

UCC21750Q1 半桥 SC 原理图表示图 7-1 半桥 SC 原理图表示

IGBT (FF800R12KE7) 和 SiC (CAB450M12XM3) 电源模块用于收集 SC 事件的数据。基于 VSC 的保护方法用于为支持 DESAT 和 OC 的栅极驱动器捕获 SC 事件。

表 7-1 展示了电源开关的关键参数。

表 7-1 电源模块的关键参数
SiC CAB450M12XM3 IGBT FF800R12KE7
VCE/VDS (V) IC/ID (A) 1200V
450A		 1200V
800A
Qg 1330nC (Vds=800V) 12.8uC (Vcc=600V) (10x)
Cies/Ciss、
Cres/Crss		 38nF、90pF 122nF (3x)、0.6nF (6x)