ZHCACF7A june   2021  – march 2023 TMS320F2800132 , TMS320F2800133 , TMS320F2800135 , TMS320F2800137 , TMS320F2800152-Q1 , TMS320F2800153-Q1 , TMS320F2800154-Q1 , TMS320F2800155 , TMS320F2800155-Q1 , TMS320F2800156-Q1 , TMS320F2800157 , TMS320F2800157-Q1 , TMS320F280021 , TMS320F280021-Q1 , TMS320F280023 , TMS320F280023-Q1 , TMS320F280023C , TMS320F280025 , TMS320F280025-Q1 , TMS320F280025C , TMS320F280025C-Q1 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DK-Q1

 

  1.   摘要
  2.   商标
  3. 1引言
    1. 1.1 存储器串扰挑战
    2. 1.2 信号调节电路设计资源
      1. 1.2.1 TI 精密实验室 - SAR ADC 输入驱动器设计系列
      2. 1.2.2 模拟工程师计算器
      3. 1.2.3 相关应用报告
      4. 1.2.4 TINA-TI 基于 SPICE 的模拟仿真程序
      5. 1.2.5 PSPICE for TI
      6. 1.2.6 C2000 MCU 的 ADC 输入电路评估
      7. 1.2.7 C2000 ADC 的电荷共享驱动电路
  4. 2ADC 输入趋稳综述
    1. 2.1 ADC 输入趋稳的机制
    2. 2.2 稳定不足的症状
      1. 2.2.1 失真
      2. 2.2.2 存储器串扰
      3. 2.2.3 精度
    3. 2.3 C2000 ADC 架构
  5. 3问题说明
    1. 3.1 示例系统
    2. 3.2 S+H 趋稳分析
    3. 3.3 电荷共享分析
    4. 3.4 问题总结
  6. 4专用 ADC 采样
    1. 4.1 专用 ADC 概念
    2. 4.2 专用 ADC 的趋稳机制
    3. 4.3 专用 ADC 的设计流程
    4. 4.4 专用 ADC 电路的稳定性能仿真
  7. 5预采样 VREFLO
    1. 5.1 VREFLO 采样概念
    2. 5.2 VREFLO 采样方法误差的属性
    3. 5.3 增益误差补偿
      1. 5.3.1 确定补偿系数的方法
    4. 5.4 VREFLO 采样设计流程
    5. 5.5 讨论 VREFLO 采样序列
  8. 6总结
  9. 7参考文献
  10. 8修订历史记录

2.2.1 失真

在 ADC 对同一信号重复采样的情况下，建立误差通常表现为输入信号失真。在 S+H 电压开始接近上一次采样电压的架构中，输入信号的缓慢移动部分比快速移动部分的建立效果更佳。图 2-2 展示了一种架构，其中序列采样从上一次转换中采样和保持的电压开始建立。

GUID-ED09342D-06C1-485E-AEC5-0569368BDBF6-low.png图 2-2 两次转换之间保持 CH 的采样序列

对于 S+H 电容器在放电状态下开始每个采集阶段的架构，较高输入电压的建立性能较差，从而导致信号调节失真。图 2-3 展示了一种架构，其中序列采样总是从接近零标度的地方开始建立。

GUID-8689D9F8-B7BF-413C-8FC6-C6CBB7A2B2E1-low.png图 2-3 两次转换之间 CH 放电的采样序列