ZHCAB60D November   2019  – August 2026 AWR6843 , AWR6843AOP , IWR1443 , IWR1642 , IWR6443 , IWR6843 , IWR6843AOP

 

  1.   1
  2.   商标
  3. 1简介
  4. 2典型的认证程序
  5. 3监管合规概述
    1. 3.1 欧盟法规：Radio Equipment Directive (RED)
      1. 3.1.1 短程雷达 (EN 305 550)
      2. 3.1.2 短程液位探测雷达 (EN 302 729)
        1. 3.1.2.1 允许的频率范围和工作带宽
        2. 3.1.2.2 天线要求
      3. 3.1.3 射频暴露限制 - EN 62311
      4. 3.1.4 电气安全 - EN 62368
      5. 3.1.5 电磁兼容性 (EMC) — EN 301 489
    2. 3.2 联邦通信委员会 (FCC)
      1. 3.2.1 终端设备和 FCC 条款
      2. 3.2.2 60GHz 雷达运行 (47 CFR § 15.255)
        1. 3.2.2.1 基波发射水平、带宽与最大占空比
        2. 3.2.2.2 杂散发射
        3. 3.2.2.3 频率稳定性
        4. 3.2.2.4 FCC 豁免及其他相关信息
      3. 3.2.3 液位探测雷达 (47 CFR § 15.256)
        1. 3.2.3.1 使用限制
        2. 3.2.3.2 基波发射带宽
        3. 3.2.3.3 天线限制
        4. 3.2.3.4 非预期发射
      4. 3.2.4 模块化认证 (47 CFR § 15.212)
      5. 3.2.5 辐射暴露要求
    3. 3.3 日本无线电法
      1. 3.3.1 带宽、指定频率和容差
      2. 3.3.2 带外和杂散发射
      3. 3.3.3 控制功能
    4. 3.4 无线规划与协调司 (WPC)
      1. 3.4.1 允许的工作频率与批准
      2. 3.4.2 设备类型授权
    5. 3.5 联邦电信研究院 (IFT)
      1. 3.5.1 基波发射水平和带宽
    6. 3.6 国家电信局 (ANATEL)
      1. 3.6.1 基波发射水平、带宽与最大占空比
      2. 3.6.2 许可证
    7. 3.7 交通和通讯部 (MTC)
    8. 3.8 国家通信管理局 (ENACOM)
  6. 4适用术语和公式
    1. 4.1 占空比因数
    2. 4.2 有效全向辐射功率 (EIRP)
    3. 4.3 Friis 公式
    4. 4.4 远场边界
  7. 5工具和设置
    1. 5.1 硬件设置
    2. 5.2 内部实验室测试环境搭建
      1. 5.2.1 近场电路探测
      2. 5.2.2 占用带宽测试
      3. 5.2.3 辐射方向图测量
    3. 5.3 MMWAVESTUDIO
      1. 5.3.1 运行 LUA 脚本
    4. 5.4 mmWave Visualizer
    5. 5.5 IWR6843ISK-ODS 测试案例
  8. 6常见问题和解决方案
    1. 6.1 峰值功率
    2. 6.2 占用带宽
    3. 6.3 杂散发射
      1. 6.3.1 14.4GHz 谐波
      2. 6.3.2 建议的解决方案
        1. 6.3.2.1 硬件测量
        2. 6.3.2.2 软件测量
          1. 6.3.2.2.1 APLL 占空比控制
          2. 6.3.2.2.2 BSS 固件中的 APLL VCO RTRIM 设置
    4. 6.4 过冲
    5. 6.5 频率稳定性
      1. 6.5.1 生成 CW 信号
      2. 6.5.2 温度和电压范围内的频率稳定性
    6. 6.6 EIRP 尖峰与频谱分析仪带宽
  9. 7参考资料
  10. 8修订历史记录

5.2.1 近场电路探测

如果检测到发射，有时可能难以找到发射源。一种可以提供辅助的技术称为近场探测。近场探测也称为“嗅探”，是指使用特定尺寸的探测天线来追踪辐射发射源。通常会使用以下设备：

  • 探测天线
    • 天线必须经过调谐或调整尺寸，以检测特定的频率范围，特别是目标频率范围
  • 线缆
  • 频谱分析仪
    • 分析仪的频率范围必须大于目标信号的频率范围
  • 屏蔽室或暗室
    • 选择以防止其他外部信号干扰测量

过程通常如下：

  • EUT、SA、天线和配套设备均已装入测试室。除 EUT 和 SA 外的电子设备均留在测试室之外，以防止污染测量数据。
  • 将 SA 的迹线设置为最大保持模式，与峰值检波器配合使用。这会导致 SA 保持在其屏幕上检测到的最高功率尖峰。
  • 然后，将探测天线缓慢地、系统性地穿过整个 EUT，不接触元器件或载物台，而是保持在元器件上方约 1 至 2 厘米处。
  • 发现尖峰后，可以清除并重置屏幕以确认发射位置

找到发射源后，就可以根据辐射位置及其频率直观推断出其来源。这可以通过考虑迹线的长度或已组装金属元件的尺寸来实现。当其尺寸接近发射波长的四分之一时，便会开始有效地充当天线。

虽然这项技术有助于找到发射，但必须认识到，并非所有近场发射都会导致远场发射。因此，并非所有近场发射都存在 EMC 问题。出于此原因，该技术通常最适合作为反应性或调试性措施使用。虽然本节讨论了手动测量技术，但也有一些自动化测试解决方案可供使用，只是需要一定的成本。