工业应用

测试和测量

TI 的高性能模拟产品和嵌入式处理器产品系列实现了前沿系统解决方案,可用于实验室仪表、记录和测量设备以及自动测试设备。TI 广泛的参考设计和技术资源还有助于客户设计出高精度的测试和测量解决方案。TI 通过创新不断突破精密测试和测量解决方案的性能极限。

<Horizontal Rule - not authored>
<Horizontal Rule - not authored>

精选内容

Clock Solution for GSPS ADCs Design Guide

德州仪器 (TI) 的最新 ADC 为千兆采样 ADC 的时钟解决方案提供了一个示例。

Power Management Guide 2016 (Rev. Q)

TI 提供包含全系列高性能产品的整套电源解决方案。此选择指南中包括设计因数、特色产品、产品系列的图形展示以及各种参数表。

The Best of Baker's Best – Amplifiers eBook

阅读 Bonnie Baker 有关 SAR 模数转换器 (ADC)、Δ-Σ ADC 和精密放大器的最佳短文以了解详细信息。

<Horizontal Rule - not authored>
<Horizontal Rule - not authored>
<Horizontal Rule - not authored>
BLOG

最新博客文章

我们领先的系统专家可为您提供专业意见和设计技巧,从而帮助您设计出最精确的测试


<Horizontal Rule - not authored>