我们的集成电路和参考设计有助于创建高精度源测量单元,从而对半导体或其他器件进行精确测试和表征。
新一代源测量单元需要:
标题 | 类型 | 大小 (KB) | 日期 | 下载最新英文版本 |
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448 KB | 2021年 1月 28日 | |||
518 KB | 2020年 12月 17日 | |||
2.69 MB | 2020年 9月 30日 | |||
272 KB | 2019年 6月 27日 | 下载最新的英文版本 (Rev.C) | ||
381 KB | 2019年 6月 27日 | 下载最新的英文版本 (Rev.B) | ||
78 KB | 2017年 6月 14日 | |||
132 KB | 2015年 4月 16日 |
标题 | 类型 | 大小 (MB) | 日期 | 下载最新英文版本 |
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688 KB | 2018年 2月 1日 | |||
1.57 MB | 2017年 2月 10日 | |||
149 KB | 2016年 11月 8日 | |||
3.07 MB | 2016年 8月 1日 | |||
2.13 MB | 2016年 3月 31日 |
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