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源测量单元 (SMU)

Test & measurement Source Measurement Unit (SMU) integrated circuits and reference designs

设计注意事项

我们的集成电路和参考设计有助于创建高精度源测量单元 (SMU)，从而对半导体或其他器件进行精确测试和表征。

新一代源测量单元需要：

高电压、电流源和测量功能。
宽动态范围的高精度力测量功能。
直观的界面，以便调整参数并监测试剂使用情况。
支持脉冲模式以消除器件自热问题。

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技术文档

应用手册和用户指南

应用手册 (5)

标题	类型	大小 (KB)	日期	下载最新英文版本
	PDF	593 KB	08 Feb 2022
	PDF	476 KB	28 Jan 2021
	PDF	2.75 MB	30 Sep 2020
Improving Resolution of SAR ADC	PDF	78 KB	14 Jun 2017
Principles of Data Acquisition and Conversion (Rev. A)	PDF	132 KB	16 Apr 2015

产品公告和白皮书

白皮书 (5)

标题	类型	大小 (MB)	日期	下载最新英文版本
	PDF	688 KB	01 Feb 2018
	PDF	1.57 MB	10 Feb 2017
Enabling Faster, Smarter and Robust Solutions for TI SAR ADCs With multiSPI	PDF	149 KB	08 Nov 2016
Voltage-reference impact on total harmonic distortion	PDF	3.07 MB	01 Aug 2016
Minimum Power Specifications for High-Performance ADC Power-Supply Designs	PDF	2.13 MB	31 Mar 2016

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