我们的集成电路和参考设计有助于创建高精度源测量单元，从而对半导体或其他器件进行精确测试和表征。
新一代源测量单元需要：
| 标题 | 类型 | 大小 (KB) | 日期 | 下载最新英文版本 |
|---|---|---|---|---|
| 272 KB | 2019年 6月 27日 | 下载英文版本 (Rev.B) | ||
| 381 KB | 2019年 6月 27日 | 下载英文版本 (Rev.A) | ||
| 78 KB | 2017年 6月 14日 | |||
| 132 KB | 2015年 4月 16日 |
| 标题 | 类型 | 大小 (MB) | 日期 | 下载最新英文版本 |
|---|---|---|---|---|
| 688 KB | 2018年 2月 1日 | |||
| 1.57 MB | 2017年 2月 10日 | |||
| 149 KB | 2016年 11月 8日 | |||
| 3.07 MB | 2016年 8月 1日 | |||
| 2.13 MB | 2016年 3月 31日 |
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