测试和测量
借助我们的模拟和嵌入式处理产品以及专业知识，实现更高密度的测试、更短的测试时间和更高的精度
借助我们的高性能信号链、电源和处理器产品，打造与众不同的创新型仪表和电子测试设备。通过提供行业先进的产品和应用特定参考设计资源，我们可以帮助解决您面临的主要设计挑战并缩短产品上市时间。我们还在电池化成和半导体 ATE 等应用中实现了可扩展性和高性能。
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为何选择 TI 用于测试与测量应用？
实现极低噪声的设计
借助我们的高性能信号链、低噪声电源产品和参考设计，实现更高 SNR 性能，从而缩短产品上市时间。
更大限度提高通道密度
利用我们用于设计集成的创新封装技术和产品，减小信号链和电源解决方案的尺寸。
实现高精度
借助全新的精密 ADC 和放大器满足您的性能需求并提高性价比。
打造新一代测试和测量应用
对 IC 的需求不断增长，这推动了测试通道密度的增大以及 VI 仪器所需支持的电压和电流的增加。我们的功率放大器、开关和电源模块可减小解决方案尺寸，从而增大测试通道密度。
应用手册
Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE
本应用手册讨论了一个复合放大器环路，该环路使用精密放大器和高输出电流缓冲器来满足关键系统要求。
应用手册
如何为半导体测试仪选择精密放大器 (Rev. A)
随着半导体产业的不断发展，半导体测试设备发挥着重要作用。由于半导体和集成电路的不断发展以及对电子产品的越发严刻的要求，测试设备必须不断改进。
工程师在为时钟、数据转换器或放大器等测试、测量应用的噪声敏感型系统设计电源时，经常遇到的一个问题是如何更大限度地降低噪声。鉴于不同的人对术语“噪声”有不同的理解，我们将噪声定义为电路中电阻器和晶体管所产生的低频热噪声。
您通常可将噪声频谱密度曲线（以微伏/平方根赫兹为单位）中100Hz至100kHz带宽内的噪声视为集成输出噪声（以均方根毫伏为单位）。我们提供的产品和参考设计可帮助缓解可能影响信号链中器件性能的潜在噪声耦合。
模拟设计期刊
Designing a modern power supply for RF sampling converters
了解如何解决系统功耗问题，该解决方案采用新型直接射频采样架构，可简化接收器信号链并降低系统功耗。
更多文献资料
Low-noise and low-ripple techniques for a supply without an LDO PPT
电源设计研讨会：详细汇总了适用于无 LDO 电源的低噪声和低纹波技术
设计和开发资源
参考设计
适用于 50A、100A 和 200A 应用的模块化电池测试仪参考设计
该参考设计提供了模块化电池测试解决方案，使用户能够使用一种设计在不同的电流水平下灵活地进行电池测试。该设计利用了 TIDA-01041 参考设计，通过提供两个可独立工作或并联的 100A 电池测试仪，将最大电流输出从 100A 提高至 200A。该设计说明了此解决方案的设计原理、器件选择和优化。
参考设计
Digital control cost-optimized 10-A battery formation and test reference design
本参考设计为电池化成和测试应用提供了一种具有成本效益的解决方案。此设计将 C2000™ 实时控制 MCU 用于高分辨率脉宽调制 (PWM) 生成，以及恒定电流 (CC) 和恒定电压 (CV)
控制环路。它可高效利用 MCU，不需要精密数模转换器，使物料清单的费用节省超过 30%。软件中电流和电压环路的灵活性使用户可通过一种设计实现多级电流和电压输出。
控制环路。它可高效利用 MCU，不需要精密数模转换器，使物料清单的费用节省超过 30%。软件中电流和电压环路的灵活性使用户可通过一种设计实现多级电流和电压输出。