测试和测量
借助我们的模拟和嵌入式处理产品以及专业知识，实现更高密度的测试、更短的测试时间和更高的精度
特色应用
借助我们的高性能信号链，在宽带宽范围内和各种应用中设计精确的 DAQ
为何选择 TI 用于测试与测量应用？
实现极低噪声的设计
借助我们的高性能信号链、低噪声电源产品和参考设计，实现更高 SNR 性能，从而缩短产品上市时间。
更大限度提高通道密度
利用我们用于设计集成的创新封装技术和产品，减小信号链和电源解决方案的尺寸。
实现高精度
借助全新的精密 ADC 和放大器满足您的性能需求并提高性价比。
打造新一代测试和测量应用
对 IC 的需求不断增长，这推动了测试通道密度的增大以及 VI 仪器所需支持的电压和电流的增加。我们的功率放大器、开关和电源模块可减小解决方案尺寸，从而增大测试通道密度。
Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE
如何为半导体测试仪选择精密放大器 (Rev. A)
实现测试通道密度的特色产品
工程师在为时钟、数据转换器或放大器等测试、测量应用的噪声敏感型系统设计电源时，经常遇到的一个问题是如何更大限度地降低噪声。鉴于不同的人对术语“噪声”有不同的理解，我们将噪声定义为电路中电阻器和晶体管所产生的低频热噪声。
您通常可将噪声频谱密度曲线（以微伏/平方根赫兹为单位）中100Hz至100kHz带宽内的噪声视为集成输出噪声（以均方根毫伏为单位）。我们提供的产品和参考设计可帮助缓解可能影响信号链中器件性能的潜在噪声耦合。
What is a low noise inverting buck converter?
Low-noise and low-ripple techniques for a supply without an LDO PPT
凭借数十年的创新，我们提供专为测试和测量应用量身打造的高性能解决方案。我们先进的模数转换器 (ADC)、数模转换器 (DAC)、时钟和射频 (RF) 放大器可提供高速、高性能和高可靠性。我们的元件具有长期可用性和专家支持，使您能够构建下一代系统来突破测量精度和效率的界限。
设计和开发资源
4 通道 50A 数字控制电池测试仪参考设计
数字控制成本优化型 10A 电池化成和测试参考设计
控制环路。它可高效利用 MCU，不需要精密数模转换器，使物料清单的费用节省超过 30%。软件中电流和电压环路的灵活性使用户可通过一种设计实现多级电流和电压输出。
用于数字万用表的精密信号链参考设计
此参考设计介绍了高性能直流测量信号链的原理、设计方法及测试过程。其主要目标应用是数字万用表 (DMM)，但该设计也同样适用于数据采集 (DAQ) 和状态监控等其他应用。此设计使用高性能 24 位模数转换器 ADS127L21 和低噪声可编程增益放大器 PGA855 实现了高直流精度，其典型非线性误差仅为 ±2.4ppm，且温漂低。这些器件高度集成，从而简化了整个信号链设计。