LMG3522R030
- 具有集成栅极驱动器的 650V GaN-on-Si FET
- 集成高精度栅极偏置电压
- 200V/ns FET 释抑
- 23.6MHz 开关频率
- 20V/ns 至 150V/ns 压摆率,用于优化开关性能和缓解 EMI
- 在 7.5V 至 18V 电源下工作
- 强大的保护
- 响应时间少于 100ns 的逐周期过流和锁存短路保护
- 硬开关时可承受 720V 浪涌
- 针对内部过热和 UVLO 监控的自我保护
- 高级电源管理
- 数字温度 PWM 输出
- 顶部冷却 12mm × 12mm VQFN 封装将电气路径和散热路径分开,可实现更低的电源环路电感
LMG3522R030 GaN FET 具有集成式驱动器和保护功能,适用于开关模式电源转换器,可让设计人员实现更高水平的功率密度和效率。
LMG3522R030 集成了一个硅驱动器,可实现高达 150V/ns 的开关速度。与分立式硅栅极驱动器相比,TI 的集成式精密栅极偏置可实现更高的开关 SOA。这种集成特性与 TI 的低电感封装技术相结合,可在硬开关电源拓扑中提供干净的开关和超小的振铃。可调栅极驱动强度允许将压摆率控制在 20V/ns 至 150V/ns 之间,这可用于主动控制 EMI 并优化开关性能。
高级电源管理功能包括数字温度报告和故障检测。GaN FET 的温度通过可变占空比 PWM 输出进行报告,这可简化器件加载管理。报告的故障包括过热、过流和 UVLO 监控。
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Zero-voltage switching detection feature
技术文档
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* | 数据表 | LMG3522R030 650V 30mΩ 具有集成驱动器、保护和温度报告功能的 GaN FET 数据表 | PDF | HTML | 下载英文版本 | PDF | HTML | 2022年 4月 25日 |
技术文章 | The benefits of GaN for battery test systems | 2022年 10月 7日 |
设计和开发
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子卡
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LMG3422R0x0 LMG3425R0x0 LMG3522R030 and LMG3522R030-Q1 PLECS Simulation Model
SNOM768.ZIP (340 KB)
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测试报告: PDF
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VQFN (RQS) | 52 | 了解详情 |
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