ZHCADE7 November   2023 CDCE6214 , CDCE6214-Q1 , CDCE6214Q1TM , LMK00301 , LMK00304 , LMK00306 , LMK00308 , LMK00334 , LMK00334-Q1 , LMK00338 , LMK03318 , LMK03328 , LMK3H0102 , LMK6C , LMK6H , LMKDB1108 , LMKDB1120

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2PCIe 简介
    1. 2.1 PCIe 链路
  6. 3PCIe 时钟架构
    1. 3.1 通用时钟架构
    2. 3.2 独立参考架构
    3. 3.3 扩频时钟
    4. 3.4 PCIe REFCLK 拓扑
    5. 3.5 噪声折叠
  7. 4PCIe 时钟规格
    1. 4.1 REFCLK 输出格式
    2. 4.2 PCIe 抖动要求
    3. 4.3 PCIe 时域要求
  8. 5REFCLK 测量技术
    1. 5.1 时钟发生器测量结果
      1. 5.1.1 不带 SSC 的 PNA 测量结果
      2. 5.1.2 不带 SSC 的 PCIe 滤波的 PNA 结果
      3. 5.1.3 带 SSC 的 PNA 测量结果
      4. 5.1.4 带 SSC 的 PCIe 滤波的 PNA 结果
      5. 5.1.5 时域 PCIe 测量结果
    2. 5.2 时钟缓冲器测量结果
      1. 5.2.1 PNA 测量结果
      2. 5.2.2 PCIe 滤波的 PNA 结果
      3. 5.2.3 时域 PCIe 测量结果
  9. 6符合 PCIe 标准的德州仪器 (TI) 产品
  10. 7总结
  11. 8参考资料

5 REFCLK 测量技术

为了测量 REFCLK 的性能，可以使用相位噪声分析仪 (PNA) 来测量抖动的频域，即相位噪声。可以将输出布线输出到文本文件，然后可以通过 PCIe 处理工具进行后处理。较新的 PNA（例如本文中使用的 R&S® FWSP）能够支持 SSC 和非 SSC 相位噪声数据收集，从而允许对展频时钟进行后处理。图 5-1 展示了 PNA 测量的测试设置。表 5-1 列出了 REFCLK 测量中使用的设备和器件。

GUID-20231120-SS0I-SPCX-PNNW-0PSVFMG9GTT9-low.svg图 5-1 PNA 测量的测试设置
表 5-1 REFCLK 测量中使用的设备
低噪声源 受测器件 (DUT) 平衡-非平衡变压器 测量设备

R&S® SMA100B

Agilent E5052B

LMK3H0102

LMKDB1120(1)

 Mini-Circuits® ADTL2-18 R&S® FSWP(2)

Agilent DSO80804B(3)
(1) LMKDB1120 器件使用 R&S® SMA100B 作为 PCIe 测量的低噪声时钟源。使用低噪声源对于准确测量抖动至关重要。
(2) R&S® FSWP 用于频域测量。
(3) Agilent DSO80804B 用于时域测量。