ZHCAAA0A February   2016  – May 2021 TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S

 

  1.   商标
  2. 1 引言
  3. 2 永磁电机
  4. 3 同步电机运行
  5. 4 磁场定向控制 (FOC)
    1. 4.1 引言
    2. 4.2 FOC 主要原理
    3. 4.3 技术背景
    4. 4.4 空间矢量定义和设计
    5. 4.5 (a，b，c) → (α，β) 设计（Clarke 变换）
    6. 4.6 (α，β) → (d，q) 设计（Park 转换）
  6. 5 FOC 的基本系统配置
    1. 5.1 转子磁通位置
  7. 6 32 位 C2000 控制器在数字电机控制 (DMC)方面 的优势
  8. 7 TI 文献和数字电机控制 (DMC) 库
    1. 7.1 一个典型的 DMC 宏定义
    2. 7.2 系统概述
  9. 8 硬件配置 (IDDK)
    1. 8.1 运行 HVPM_Sensored 项目的软件设置指令
  10. 9 递增系统构建
    1. 9.1  1 级 - 递增构建
    2. 9.2  1A 级 - SVGEN_MACRO 测试
    3. 9.3  1B 级 - 测试 DAC
    4. 9.4  1C 级 - PWM_MACRO 和逆变器测试
    5. 9.5  1D 级 - 调整旋转变压器环路参数
    6. 9.6  2 级 - 递增构建
    7. 9.7  2A 阶段 - 在软件中设置过流限制
    8. 9.8  2B 级 - 测试 Clarke 模块
    9. 9.9  2C 级 - 调整 PI 限值
    10. 9.10 2D 级 - 各种电流感应方法
    11. 9.11 2E 级 - 位置编码器反馈/SPEED_FR 测试
      1. 9.11.1 使用 QEP
      2. 9.11.2 使用旋转变压器
      3. 9.11.3 使用 EnDat 编码器：
      4. 9.11.4 使用 BiSS-C 编码器：
    12. 9.12 3 级 - 递增构建
    13. 9.13 4 级 - 递增构建
    14. 9.14 5 级 - 递增构建
  11. 10参考文献
  12. 11修订历史记录

9 递增系统构建

此系统被逐步构建，所以最终系统可以令人安心地运转。递增系统构建的四个阶段被设计成验证系统中使用的主要软件模块。大多数模块作为软件宏编写，其余的作为可调用函数编写。表 9-1 总结了每个递增系统构建中的模块测试和使用情况。

表 9-1 每个递增系统构建中的测试模块
软件模块 (1) 阶段 1 阶段 2 阶段 3 阶段 4 阶段 5
RC_MACRO √√ √ √ √ √
RG_MACRO √√ √ √ √ √
IPARK_MACRO √√ √ √ √ √
SVGEN_MACRO √√ √ √ √ √
PWM_MACRO √√ √ √ √ √
CLARKE_MACRO √√ √ √ √
PARK_MACRO √√ √ √ √
CurrentSensorSuite() √√ √ √ √
PosEncoderSuite() √√ √ √ √
SPEED_FR_MACRO √√ √ √ √
PI_MACRO (IQ) √√ √√ √ √
PI_MACRO (ID) √√ √√ √ √
PI_MACRO (SPD) √√ √√ √
PI_POS_MACRO (POS) √√
(1) 符号√表示这个模块正被使用，而符号√√则表示这个模块正在这个阶段中进行测试。