ZHCT435 October   2023 TMS320F280021 , TMS320F280021-Q1 , TMS320F280023 , TMS320F280023-Q1 , TMS320F280023C , TMS320F280025 , TMS320F280025-Q1 , TMS320F280025C , TMS320F280025C-Q1 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言
  5. 2IEC 60730 和 UL 1998 分级概述
    1. 2.1 C2000 各器件系列的功能
  6. 3C2000 安全配套资料
    1. 3.1 使用入门
    2. 3.2 功能安全手册
    3. 3.3 软件配套资料
  7. 4在 C2000 实时 MCU 上实施可接受措施
    1. 4.1 实施步骤
    2. 4.2 映射示例
    3. 4.3 其他最佳实践
  8. 5将可接受控制措施映射到 C2000 唯一标识符
    1. 5.1 唯一标识符参考
    2. 5.2 CPU 相关故障
    3. 5.3 中断相关故障
    4. 5.4 时钟相关故障
    5. 5.5 存储器相关故障
    6. 5.6 内部数据路径故障
    7. 5.7 输入/输出相关故障
    8. 5.8 通信、监控器件和定制芯片故障
  9. 6术语表
  10. 7参考文献

5.1 唯一标识符参考

表 5-2 是本节中引用的唯一 ID 的汇总。更多详细信息，请参阅器件特定的功能安全手册。

注：
  • 表 5-2 中的 ID 可能并不适用于所有 C2000 器件系列。要确定 ID 是否适用于您的器件，请参阅映射表和功能安全手册。
  • 如果映射表引用的 ID 未在此处列出，可能是疏忽导致。更多信息，请参阅器件特定的功能安全手册。
表 5-2 引用的 C2000 唯一 ID 汇总
唯一 ID 简短描述 注释/软件支持
ADC2 DAC 至 ADC 环回检查
ADC8 ADC 输入信号完整性检查
ADC10 硬件冗余
CAN3 SRAM 奇偶校验
CLA1 软件相互比较
CLA2 CPU 软件测试 CLA_STL
CLA3 对于非法操作和非法结果的处理
CLK2 使用 CPU 计时器实现完整性 SDL 模块：STL_OSC_CT
CLK3 使用 HRPWM 实现完整性 SDL 模块：STL_OSC_HR
CLK4 双时钟比较器（DCC 类型 0）
CLK16 双时钟比较器（DCC 类型 1） 注意：DCC 类型 1 与类型 2 相同。
CLK17 双时钟比较器（DCC 类型 2）
CPU1 软件相互比较
CPU2 CPU 硬件内置测试 SDL 模块：STL_HWBIST
CPU3 CPU 软件测试 C28X_STL
CPU7 对于非法操作、非法结果和指令陷入的处理
DCSM2 链路指针的多数表决和错误检测
ECAT6 SRAM 奇偶校验
EFUSE2 EFUSE ECC（仅数据）
FLASH1 闪存 ECC（数据 + 地址）
FLASH2 存储器的 VCU CRC 校验 SDL 模块：STL_CRC
FLASH6 ECC 逻辑的软件测试 SDL 模块：sdl_ex_ram_ecc_parity_test 和 sdl_ex_flash_ecc_test
GPIO4 使用 I/O 环回的功能软件测试
GPIO5 硬件冗余
INC1 包括错误测试在内的功能软件测试
INC8 传输冗余
INC9 硬件冗余
MCAN8 SRAM ECC（数据 + 地址）
PIE1 PIE 双 SDRAM 硬件比较
PIE2 SRAM 软件测试
PIE3 包括错误测试在内的 ePIE 软件测试
PIE6 PIE 双 SRAM 比较检查 SDL 模块：STL_PIE_RAM
PIE8 在线监测中断和事件
PIE13 使用锁步比较的硬件冗余
ROM1 存储器的 VCU CRC 校验 SDL 模块：STL_CRC
ROM9 CLA 程序 ROM 的背景 CRC
ROM10 存储器开机自检 (MPOST)
ROM15 ROM 奇偶校验
SRAM1 SRAM ECC（数据 + 地址）
SRAM2 SRAM 奇偶校验
SRAM3 SRAM 软件测试 SDL 模块：STL_March
SRAM8 存储器的 VCU CRC 校验 SDL 模块：STL_CRC
SRAM14 奇偶校验逻辑的软件测试 SDL 模块：sdl_ex_ram_ecc_parity_test
STL_CPU_REG 诊断库中的 CPU 寄存器测试示例 对于不包含 HWBIST 的器件，可以对 CPU 寄存器执行定期测试。STL_CPU_REG 不直接映射到 C2000 唯一 ID。STL_CPU_REG 是指诊断库中的一个 CPU 寄存器测试示例。如果需要，也为其他器件提供此示例。请参阅诊断库文档。