ZHCSXL5 December 2024 AFE5401-EP
PRODUCTION DATA
为了检查 AFE 和接收器系统之间的接口,可以直接在 CMOS 输出上对测试图形进行编程。如表 7-19 所示,可以通过设置 TST_PAT_MODE 寄存器来选择不同的测试图形。
| TST_PAT_MODE | 说明 |
|---|---|
| 0 | 正常 ADC 输出数据 |
| 1 | SYNC 图形 (D[11:0] = 111111000000) |
| 2 | 校正图形 (D[11:0] = 010101010101) |
| 3 | 由 CUSTOM_PATTERN[11:0] 寄存器位确定的自定义图形 |
| 4 | 所有 1s |
| 5 | 切换数据(输出在全 0 和全 1 之间切换) |
| 6 | 所有 0s |
| 7 | 满量程斜坡数据 |