ZHCSXL5 December   2024 AFE5401-EP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
    1.     引脚功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性
    6. 5.6  数字特性
    7. 5.7  时序要求：输出接口
    8. 5.8  时序要求：复位
    9. 5.9  时序要求：串行接口运行
    10. 5.10 典型特性
  7. 6 参数测量信息
    1. 6.1 时序要求：在输出串行化模式下
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 低噪声放大器 (LNA)
      2. 7.3.2 可编程增益放大器 (PGA)
      3. 7.3.3 抗混叠滤波器
      4. 7.3.4 模数转换器 (ADC)
      5. 7.3.5 数字增益
      6. 7.3.6 输入时钟分频器
      7. 7.3.7 数据输出串行化
      8. 7.3.8 设置模拟输入的输入共模电压
        1. 7.3.8.1 主要通道
        2. 7.3.8.2 辅助通道
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 均衡器模式
      2. 7.4.2 数据输出模式
        1. 7.4.2.1 标头
        2. 7.4.2.2 测试图形模式
      3. 7.4.3 奇偶校验
      4. 7.4.4 待机模式和断电模式
      5. 7.4.5 利用数字滤波改善阻带衰减性能
        1. 7.4.5.1 2 倍抽取率模式
        2. 7.4.5.2 4 倍抽取率模式
      6. 7.4.6 诊断模式
      7. 7.4.7 信号链探头
    5. 7.5 编程
      1. 7.5.1 串行接口
      2. 7.5.2 寄存器初始化
        1. 7.5.2.1 寄存器写入模式
        2. 7.5.2.2 寄存器读取模式
      3. 7.5.3 CMOS 输出接口
        1. 7.5.3.1 同步和触发
    6. 7.6 寄存器映射
      1. 7.6.1 功能寄存器映射
      2. 7.6.2 寄存器说明
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计要求
      2. 8.2.2 详细设计过程
      3. 8.2.3 应用曲线
    3. 8.3 电源相关建议
      1. 8.3.1 电源时序控制
      2. 8.3.2 电源去耦
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 9 修订历史记录
  11. 10器件和文档支持
    1. 10.1 文档支持
      1. 10.1.1 相关文档
    2. 10.2 接收文档更新通知
    3. 10.3 社区资源
    4. 10.4 商标
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

7.4.6 诊断模式

该器件提供多种诊断模式，以在系统级别检查器件是否正常运行。可以使用 SPI 启用这些模式，这些模式的输出存储在诊断只读寄存器中。

  1. 内部基准状态检查：在此模式下，器件会验证片上带隙电压、ADC 基准和时钟生成的功能。若这些位读数为 0，则表示这些块功能正常。DIAG_MODE_EN 寄存器位必须设置为 1。此模式下的 DIG_REG 寄存器位如下：
    • 对于 ADC 基准，为 DIG_REG[0]；
    • 对于带隙，为 DIG_REG[1]；而
    • 对于时钟生成，位 DIG_REG[2]。
  2. 直流输入强制：在此模式下，可在 LNA 输入端内部强制施加直流电压，以测试整个信号链。在此测试期间，器件模拟输入端应保持悬空。此模式可通过将 DC_INP_EN 位设置为 1 并对 DC_INP_PROG[0:2] 位进行编程来置为有效。在此模式下，均衡器在内部被禁用。
  3. 方差（噪声）和均值测量：可以使用片上 STAT 模块来分析 ADC 输出的方差和平均值。应设置 STAT_EN、STAT_CALC_CYCLE 和 STAT_CH_SEL、STAT_CH_AUTO_SEL 选项，以计算方差和平均值。可使用特定于通道的只读寄存器来监测这些值。或者，也可以使用 HEADER_MODE 读取这些值。输出方差和平均值计算通过方程式 3 确定。
    方程式 3. AFE5401-EP

    STAT_CALC_CYCLE 必须设置为较大值以获得更好的精度。平均值提供 ADC 输出的平均直流值（中间代码）。选择 STAT_CH_SEL 选项后，STAT 模块积分时间由以下公式定义：tAFE_CLK × 2(STAT_CALC_CYCLE+1)。当启用 STAT_CH_AUTO_SEL 时，STAT 模块积分时间由以下公式定义：4 × tAFE_CLK × 2(STAT_CALC_CYCLE+1)。

  4. 温度传感器: 可以使用 TEMP_SENS_EN 和 TEMP_CONV_EN 来启用和监测器件结温测量。温度输出保存在诊断只读寄存器 TEMP_DATA 中。或者，也可以使用 HEADER_MODE 读取该数据。TEMP_DATA 值是以摄氏度为单位的 9 位二进制补码数据。温度数据根据方程式 4 在内部进行更新：
    方程式 4. Temperature Data Update Cycle = 1024 × TAFE_CLK × 16