ZHCY154B September   2021  – April 2023 BQ25125 , LM5123-Q1 , LMR43610 , LMR43610-Q1 , LMR43620 , LMR43620-Q1 , TPS22916 , TPS3840 , TPS62840 , TPS63900 , TPS7A02

 

  1.   1
  2.   概述
  3.   内容概览
  4.   IQ 的影响因素
  5.   为何低 IQ 会带来新的挑战
    1.     瞬态响应
    2.     纹波
    3.     噪声
    4.     芯片尺寸和解决方案面积
    5.     泄漏和亚阈值操作
  6.   如何打破低 IQ障碍
    1.     解决瞬态响应问题
    2.     解决开关噪声问题
    3.     解决其他噪声问题
    4.     解决芯片尺寸和解决方案面积问题
    5.     解决泄漏和亚阈值操作问题
  7.   电气特性
    1.     18
    2.     避免低 IQ 设计中潜在的系统缺陷
    3.     实现低 IQ，但不失去灵活性
    4.     减少外部元件数量，从而降低汽车应用中的 IQ
    5.     支持系统级低 IQ 的智能开启或启用功能
  8.   结语
  9.   低 IQ 的主要产品类别

避免低 IQ 设计中潜在的系统缺陷

外部电容器泄漏是一个问题。任何稳压器的输入和输出电容器都会使 IQ 增大。图 19描述了一种评估外部电容器泄漏的好方法，其中针对不同电容器绝缘电阻 (Rp) 规格测量了电容器的压降与时间的关系。撇开数据表的规格来测量电容器的泄漏也不愧是个好主意。将电容器充电至已知电压并监测压降随时间的变化可以很好地量化和比较不同的电容器选项。具有最大绝缘电阻的电容器随时间变化产生的压降最小。

GUID-20210902-SS0I-CDJX-W6XN-NG3141MSRGWR-low.gif图 19 不同绝缘电阻的压降与时间的关系。

除电容器泄漏之外，电压表的输入阻抗在低 IQ 测量设置中也能起到重要的作用，并且可能导致错误的结果。在电源或输出电压为 5V 的情况下，典型的 10MΩ 阻抗电压表放置在电源稳压器的输入端或输出端，可产生 500nA 的电流。该外部泄漏比 TPS7A02 LDO 的内部自消耗 IQ (25nA IQ) 多出 20 倍。

正确的测量方法以及电压表和电流表的正确放置可以避免测量误差。 图 20 显示了不同测试设置对效率的影响，在低于 0.1mA 负载时，这种影响已非常显著。有关避免超低 IQ 测量设置问题的技巧，请参阅模拟设计期刊文章精确测量超低 IQ 器件的效率。

GUID-20210902-SS0I-BDM5-17R3-4M1ZWJ8SWRSJ-low.gif图 20 不同的效率测量结果取决于设置。