ZHCT435A October   2023  – June 2024 TMS320F280021 , TMS320F280021-Q1 , TMS320F280023 , TMS320F280023-Q1 , TMS320F280023C , TMS320F280025 , TMS320F280025-Q1 , TMS320F280025C , TMS320F280025C-Q1 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4.   引言
  5.   IEC 60730 和 UL 1998 分级概述
    1.     C2000 各器件系列的功能
  6.   C2000 安全配套资料
    1.     入门
    2.     功能安全手册
    3.     软件配套资料
  7.   在 C2000 实时 MCU 上实施可接受措施
    1.     实施步骤
    2.     映射示例
    3.     其他最佳实践
  8.   将可接受控制措施映射到 C2000 唯一标识符
    1.     唯一标识符参考
    2.     CPU 相关故障
    3.     中断相关故障
    4.     时钟相关故障
    5.     存储器相关故障
    6.     内部数据路径故障
    7.     输入/输出相关故障
    8.     通信、监控器件和定制芯片故障
  9.   术语表
  10.   参考资料

唯一标识符参考

表 8 是本节中引用的唯一 ID 的汇总。更多详细信息，请参阅器件特定的功能安全手册。

注：
  • 表 8 中的 ID 可能并不适用于所有 C2000 器件系列。要确定 ID 是否适用于您的器件，请参阅映射表和功能安全手册。
  • 如果映射表引用的 ID 未在此处列出，可能是疏忽导致。更多信息，请参阅器件特定的功能安全手册。
表 8 引用的 C2000 唯一 ID 汇总
唯一 ID 简短描述 注释/软件支持
ADC2 DAC 至 ADC 环回检查
ADC8 ADC 输入信号完整性检查
ADC10 硬件冗余
CAN3 SRAM 奇偶校验
CLA1 软件相互比较
CLA2 CPU 软件测试 CLA_STL
CLA3 对于非法操作和非法结果的处理
CLK2 使用 CPU 计时器实现完整性 SDL 模块：STL_OSC_CT
CLK3 使用 HRPWM 实现完整性 SDL 模块：STL_OSC_HR
CLK4 双时钟比较器（DCC 类型 0）
CLK16 双时钟比较器（DCC 类型 1） 注：DCC 类型 1 与类型 2 相同。
CLK17 双时钟比较器（DCC 类型 2）
CPU1 软件相互比较
CPU2 CPU 硬件内置测试 SDL 模块：STL_HWBIST
CPU3 CPU 软件测试 C28X_STL
CPU7 对于非法操作、非法结果和指令陷入的处理
DCSM2 链路指针的多数表决和错误检测
ECAT6 SRAM 奇偶校验
EFUSE2 EFUSE ECC（仅数据）
FLASH1 闪存 ECC（数据 + 地址）
FLASH2 存储器的 VCU CRC 校验 SDL 模块：STL_CRC
FLASH6 ECC 逻辑的软件测试 SDL 模块：sdl_ex_ram_ecc_parity_test 和 sdl_ex_flash_ecc_test
GPIO4 使用 I/O 环回的功能软件测试
GPIO5 硬件冗余
INC1 包括错误测试在内的功能软件测试
INC8 传输冗余
INC9 硬件冗余
MCAN8 SRAM ECC（数据 + 地址）
PIE1 PIE 双 SDRAM 硬件比较
PIE2 SRAM 软件测试
PIE3 包括错误测试在内的 ePIE 软件测试
PIE6 PIE 双 SRAM 比较检查 SDL 模块：STL_PIE_RAM
PIE8 在线监测中断和事件
PIE13 使用锁步比较的硬件冗余
ROM1 存储器的 VCU CRC 校验 SDL 模块：STL_CRC
ROM9 CLA 程序 ROM 的背景 CRC
ROM10 存储器开机自检 (MPOST)
ROM15 ROM 奇偶校验
SRAM1 SRAM ECC（数据 + 地址）
SRAM2 SRAM 奇偶校验
SRAM3 SRAM 软件测试 SDL 模块：STL_March
SRAM8 存储器的 VCU CRC 校验 SDL 模块：STL_CRC
SRAM14 奇偶校验逻辑的软件测试 SDL 模块：sdl_ex_ram_ecc_parity_test
STL_CPU_REG 诊断库中的 CPU 寄存器测试示例 对于不包含 HWBIST 的器件，可以对 CPU 寄存器执行定期测试。STL_CPU_REG 不直接映射到 C2000 唯一 ID。STL_CPU_REG 是指诊断库中的一个 CPU 寄存器测试示例。如果需要，也为其他器件提供此示例。请参阅诊断库文档。