10 修订历史记录
All Revision History Changes Intro HTMLSeptember 22, 2023 to January 31, 2025 (from RevisionB (SEPTEMBER 2023)to RevisionC (JANUARY 2025))
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通篇:更新了 10 个时序部分中的介绍性句子。Go
- (特性):更新了 C7x DSP L1 DCache 和 L1 ICache 存储器大小Go
- (封装信息):添加了 ANF 封装Go
- (器件比较):更新了所有 WKUP_CTRL_MMR_CFG0_JTAG_USER_ID[31:13] 值Go
- (器件比较):将 MCAN 实例数量从 2 更新为 3Go
- (AMB FCBGA 和 ANF FCCSP 引脚图):更改了图标题以包含 ANF 封装Go
- (引脚属性 - 所有 DDR 信号引脚):删除了“POWER”栏中的 1.2VGo
- (引脚属性):添加了 ANF 封装Go
- (信号说明):添加了一个新段落,其中参考了器件 TRM 中“器件配置”一章中的“焊盘配置寄存器”一节Go
- (EPWM0 信号说明):更新了 EHRPWM0_SYNCO 说明Go
- (电源信号说明):更新了几个电源轨的说明以阐明其功能Go
- (电源信号说明):更新了与 CAP_VDDSx 引脚相关的表注,以阐明电容降额的必要性并介绍其他连接选项Go
- (引脚连接要求):添加了 ANF 封装Go
- (绝对最大额定值):更新了几个电源轨的说明以阐明其功能Go
- (建议运行条件):更新了几个电源轨的说明以阐明其功能Go
- (I2C 开漏和失效防护电气特性):向“输入漏电流”参数添加了表注Go
- (I2C 开漏和失效防护电气特性):将输入漏电流测试条件分为两行Go
- (失效防护复位电气特性):向“输入漏电流”参数添加了表注Go
- (失效防护复位电气特性):将输入漏电流测试条件分为两行Go
- (高频振荡器电气特性):向“输入漏电流”参数添加了表注Go
- (高频振荡器电气特性):将输入漏电流测试条件分为两行Go
- (低频振荡器电气特性):向“输入漏电流”参数添加了表注Go
- (低频振荡器电气特性):将输入漏电流测试条件分为两行Go
- (SDIO 电气特性):向“输入漏电流”参数添加了表注Go
- (SDIO 电气特性):将输入漏电流测试条件分为两行Go
- (SDIO 电气特性):更改了 VDDSHV5 电源轨名称(如适用,这些名称用于通过引用通用电源轨名称 (VDD) 来定义 VIL/VILSS/VIH/VIHSS/VOL/VOH 参数值),并添加了相关的表注Go
- (LVCMOS 电气特性):向“输入漏电流”参数添加了表注Go
- (LVCMOS 电气特性):将输入漏电流测试条件分为两行Go
- (AMB 和 ANF 封装的热阻特性):添加了 ANF 封装的热特性信息Go
- (温度传感器特性):添加了新的一节来定义电压和温度模块 (VTM) 片上温度传感器特性Go
- (上电时序):添加了注释以阐明电源轨必须在启动新的上电序列之前衰减至 300mv 以下Go
- (下电时序):添加了注释以阐明电源轨必须在启动新的上电序列之前衰减至 300mv 以下Go
- (下电时序):更新了断电序列图以说明在器件电源管理解决方案关闭时系统电源保持开启的用例。还有一个选项允许扩展 IO 电源轨的斜降,直到最后一个内核电源轨斜降,并且可以在电源开始关闭时序控制之前将 MCU_PORz 置为有效Go
- (BOOTMODE 时序要求):更新了参数 RST23 和 RST24 的说明Go
- (输入时钟/振荡器):添加了 VOUT0_EXTPCLKINGo
- (MCU_OSC0 LVCMOS 数字时钟源):添加了其他注释和新的“MCU_OSC0 LVCMOS 数字时钟源要求”表Go
- (WKUP_LFOSC0 晶体电气特性)包括一个新参数,该参数定义了最大晶体频率稳定性和容差。Go
- (PLL):更新了 PLL 名称,以便包含 TRM 中使用的编号参考Go
- (CPSW3G RMII 时序条件):更改了两个工作电压的最大输入压摆率Go
- (CPSW3G RGMII 时序条件):向“输入压摆率”参数添加了工作电压条件以便在 1.8V 下运行时实现宽松的压摆率Go
- (CSI-2):在注释中包含了一条注释以说明端口实例名称关系,并删除了第一段,因为该段不包含与时序和开关特性相关的任何信息Go
- (GPIO 时序条件):更新了“输入压摆率”参数以包含具有宽松最小值的工作电压,并更正了在 3.3V 下运行的 I2C OD FS 缓冲器类型的最大值印刷错误。先前 0.8V/ns 的最大值应为 0.08V/ns,以便其等于“电气特性”表中为 I2C OD FS 缓冲器定义的最大值 8E+7Go
- (GPIO 时序要求):删除了“模式”列中的电压条件,并更改了最小值以适应“GPIO 时序条件”表中减小的最小输入压摆率值Go
- (I2C):将最大压摆率值从 0.8V/ns 更改为 0.08V/ns,并添加了“在 3.3V 下运行时”以阐明该例外情况不适用于 1.8V 运行情况Go
- (MMC0 - eMMC/SD/SDIO 接口):添加了 eMMC 高速 DDR 时序模式Go
- (OSPI 开关特性 – PHY 数据训练):更正了与时序参数 O5 和 O11 相关的公式Go
- (OSPI0 开关特性 – PHY SDR 模式):更正了与时序参数 O10 和 O11 相关的公式Go
- (OSPI0 开关特性 – PHY DDR 模式):更正了与时序参数 O4 和 O5 相关的公式Go
- (DDR 电路板设计和布局布线指南):更新了 LPDDR4 电路板设计和布局布线指南链接中使用的标题Go
- (USB VBUS 设计指南):将 3.5kΩ 电阻器阻值更改为 3.48kΩ,因为 3.5kΩ 不是 1% 电阻器的标准值Go
- (器件命名规则):添加了 ANF 封装Go
- (标准封装编号法):添加了 ANF 封装Go
- (器件命名约定):删除了不适用的 "ZZZ" 符号参数。已将 ANF 封装添加到 "PPP" 符号参数中。添加了与 ANF 封装相关的器件制造和 2D 条形码符号参数Go
All Revision History Changes Intro HTMLAugust 4, 2023 to September 22, 2023 (from RevisionA (AUGUST 2023)to RevisionB (SEPTEMBER 2023))
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通篇:添加了 AM62A1 和 AM62A1-Q1 GPN(新增)以及 AM62A14 和 AM62A12 器件特定信息Go
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通篇:将“修订历史记录”部分移至文档的后面Go
- (封装信息):添加了 AM62A1 和 AM62A1-Q1 GPN(新增)Go
- (AMB FCBGA-N484 引脚图):将图从底视图更改为了顶视图Go
- (未通过 AEC - Q100 认证的器件的 ESD 等级):为不符合 AEC - Q100 标准的器件添加了 ESD 表和相关脚注Go
- (符合 AEC - Q100 标准的器件的 ESD 等级):更改了表标题Go