ZHDA276 August 2026 AM2432 , AM620-Q1 , AM623 , AM625 , AM625-Q1 , AM62A1-Q1 , AM62A3 , AM62A3-Q1 , AM62A7 , AM62A7-Q1 , AM62D-Q1 , AM62L , AM62P , AM62P-Q1 , DRA821U , DRA821U-Q1 , DRA829V-Q1 , TDA4AEN-Q1 , TDA4AH-Q1 , TDA4AL-Q1 , TDA4AP-Q1 , TDA4APE-Q1 , TDA4VE-Q1 , TDA4VEN-Q1 , TDA4VH-Q1 , TDA4VL-Q1 , TDA4VP-Q1 , TDA4VPE-Q1
DDR 内联 ECC 是在 Jacinto™ 7 和 Sitara™ 处理器上实现的一种关键可靠性和安全机制。虽然 ECC 功能在硬件中实现,但仅启用 ECC 无法证明能够正确检测、报告和处理存储器故障。错误注入测试提供了一种受控的方法,用于验证 ECC 检测、纠错、错误日志记录和诊断报告功能。
本应用手册介绍了建议的离线和在线 DDR 内联 ECC 错误注入方法。本文档说明了单比特、双比特和多相位 ECC 事件的验证程序,并演示了如何使用 ECC 错误日志和 ESM 通知来验证整个诊断链是否正常运行。这些信息适用于基于 Jacinto 7 和 Sitara 处理器开发汽车和工业系统的软件开发人员、系统架构师和功能安全工程师。