ZHDA276 August   2026 AM2432 , AM620-Q1 , AM623 , AM625 , AM625-Q1 , AM62A1-Q1 , AM62A3 , AM62A3-Q1 , AM62A7 , AM62A7-Q1 , AM62D-Q1 , AM62L , AM62P , AM62P-Q1 , DRA821U , DRA821U-Q1 , DRA829V-Q1 , TDA4AEN-Q1 , TDA4AH-Q1 , TDA4AL-Q1 , TDA4AP-Q1 , TDA4APE-Q1 , TDA4VE-Q1 , TDA4VEN-Q1 , TDA4VH-Q1 , TDA4VL-Q1 , TDA4VP-Q1 , TDA4VPE-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2详细说明
    1. 2.1  为什么需要 ECC 错误注入测试
    2. 2.2  DDR 内联 ECC 保护机制
      1. 2.2.1 多相位 ECC 保护
    3. 2.3  离线错误注入
    4. 2.4  在线错误注入
      1. 2.4.1 方法 1：ESM 故障注入
      2. 2.4.2 方法 2：预留 DDR 验证区域
    5. 2.5  单比特错误验证
    6. 2.6  双比特错误验证
    7. 2.7  多相位 ECC 验证
    8. 2.8  使用 ECC 错误日志进行验证
    9. 2.9  使用 ESM 进行验证
    10. 2.10 建议的验证策略
      1. 2.10.1 汽车系统
      2. 2.10.2 工业系统
  6. 3总结
  7. 4参考资料

2.2 DDR 内联 ECC 保护机制

DDR 内联 ECC 将 ECC 校验特征码与 DDR 数据存储在一起，并在存储器读取期间执行自动检查。

  • SECDED 保护

ECC 引擎提供：

  • 单比特纠错 (SEC)
  • 双比特检错 (DED)

对于单比特损坏事件：


单比特损坏事件

图 2-2 单比特损坏事件

对于双比特损坏事件：


双比特损坏事件

图 2-3 双比特损坏事件