ZHDA276 August   2026 AM2432 , AM620-Q1 , AM623 , AM625 , AM625-Q1 , AM62A1-Q1 , AM62A3 , AM62A3-Q1 , AM62A7 , AM62A7-Q1 , AM62D-Q1 , AM62L , AM62P , AM62P-Q1 , DRA821U , DRA821U-Q1 , DRA829V-Q1 , TDA4AEN-Q1 , TDA4AH-Q1 , TDA4AL-Q1 , TDA4AP-Q1 , TDA4APE-Q1 , TDA4VE-Q1 , TDA4VEN-Q1 , TDA4VH-Q1 , TDA4VL-Q1 , TDA4VP-Q1 , TDA4VPE-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2详细说明
    1. 2.1  为什么需要 ECC 错误注入测试
    2. 2.2  DDR 内联 ECC 保护机制
      1. 2.2.1 多相位 ECC 保护
    3. 2.3  离线错误注入
    4. 2.4  在线错误注入
      1. 2.4.1 方法 1：ESM 故障注入
      2. 2.4.2 方法 2：预留 DDR 验证区域
    5. 2.5  单比特错误验证
    6. 2.6  双比特错误验证
    7. 2.7  多相位 ECC 验证
    8. 2.8  使用 ECC 错误日志进行验证
    9. 2.9  使用 ESM 进行验证
    10. 2.10 建议的验证策略
      1. 2.10.1 汽车系统
      2. 2.10.2 工业系统
  6. 3总结
  7. 4参考资料

2.2.1 多相位 ECC 保护

DDR 访问以包含多个相位的突发事务形式进行。

传统的 SECDED 实现仅保护单独的数据字。DDR 内联 ECC 实现多相位 ECC 保护，可将覆盖率扩展到超出单独的相位。

这种机制可针对以下故障提供额外保护：

  • 地址故障
  • 命令故障
  • 地址别名使用
  • 突发损坏
  • 大规模存储器损坏

因此，与传统的仅 SECDED 实现相比，DDR 内联 ECC 提高了诊断覆盖率。