C2000™ MCU JTAG 连接调试
- ZHCAC06C May 2018 – August 2024 TMS320C28341 , TMS320C28342 , TMS320C28343 , TMS320C28343-Q1 , TMS320C28344 , TMS320C28345 , TMS320C28346 , TMS320C28346-Q1 , TMS320F280021 , TMS320F280021-Q1 , TMS320F280023 , TMS320F280023-Q1 , TMS320F280023C , TMS320F280025 , TMS320F280025-Q1 , TMS320F280025C , TMS320F280025C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F2802-Q1 , TMS320F28020 , TMS320F28021 , TMS320F28022 , TMS320F28022-Q1 , TMS320F28023 , TMS320F28023-Q1 , TMS320F28026 , TMS320F28026-Q1 , TMS320F28026F , TMS320F28027 , TMS320F28027-Q1 , TMS320F28027F , TMS320F28027F-Q1 , TMS320F28030 , TMS320F28030-Q1 , TMS320F28031 , TMS320F28031-Q1 , TMS320F28032 , TMS320F28032-Q1 , TMS320F28033 , TMS320F28033-Q1 , TMS320F28034 , TMS320F28034-Q1 , TMS320F28035 , TMS320F28035-Q1 , TMS320F28050 , TMS320F28051 , TMS320F28052 , TMS320F28052-Q1 , TMS320F28052F , TMS320F28052F-Q1 , TMS320F28052M , TMS320F28052M-Q1 , TMS320F28053 , TMS320F28054 , TMS320F28054-Q1 , TMS320F28054F , TMS320F28054F-Q1 , TMS320F28054M , TMS320F28054M-Q1 , TMS320F28055 , TMS320F2806-Q1 , TMS320F28062 , TMS320F28062-Q1 , TMS320F28062F , TMS320F28062F-Q1 , TMS320F28063 , TMS320F28064 , TMS320F28065 , TMS320F28066 , TMS320F28066-Q1 , TMS320F28067 , TMS320F28067-Q1 , TMS320F28068F , TMS320F28068M , TMS320F28069 , TMS320F28069-Q1 , TMS320F28069F , TMS320F28069F-Q1 , TMS320F28069M , TMS320F28069M-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28232 , TMS320F28232-Q1 , TMS320F28234 , TMS320F28234-Q1 , TMS320F28235 , TMS320F28235-Q1 , TMS320F28332 , TMS320F28333 , TMS320F28334 , TMS320F28335 , TMS320F28335-Q1 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S

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Application Note

C2000™ MCU JTAG 连接调试

摘要

联合测试行动组 (JTAG) 协议是在产品开发、仿真和应用调试期间与微控制器 (MCU) 进行通信的主要方式。所有德州仪器 (TI) C2000™ 器件均支持 JTAG 仿真，而且 C2000 评估产品（如 controlCARD 和 LaunchPad™ 开发套件）包含板载 JTAG 仿真。本应用报告简要概述 JTAG 的实现，并介绍在使用 Code Composer Studio™ 软件时用于解决常见 JTAG 连接错误的步骤。

如果您在使用 JTAG 与 C2000™ 器件进行通信时遇到问题，TI 强烈建议用户在通过 TI 的 E2E™ 论坛等平台寻求帮助之前遵循本调试指南。作为筛选，TI 支持人员会询问您对本指南的使用情况。

商标

C2000™, LaunchPad™, Code Composer Studio™, E2E™, BoosterPack™, and Piccolo™are TMs ofTI corporate name.

Microsoft® and Windows®are reg TMs ofMicrosoft Corporation.

Other TMs

1 什么是 JTAG？

JTAG 是一个组织的简称，为印刷电路板 (PCB) 边界扫描测试制定行业标准。后来，JTAG 工作的成果被编入电气电子工程师协会 (IEEE) 标准：IEEE 标准 1149.1。在推出后不久，该标准便得到了广泛应用，随即产生了几个额外的标准，包括片上测试接入端口 (TAP) 的实现。这使得 JTAG 成为最适合嵌入式系统开发、调试和测试的方式。JTAG 在大多数系统中实施 5 个引脚：

测试数据输入 (TDI)
测试数据输出 (TDO)
测试时钟 (TCK)
测试模式选择 (TMS)
测试复位 (TRSTn)

器件特定数据表或 TI 参考设计中介绍了定制电路板设计中这些引脚的必要偏置。

2 常见的 JTAG 调试探针

表 2-1 列出了 C2000 生态系统的一些常见调试探针。

表 2-1 与 C2000™ MCU 一起使用的常见 JTAG 调试探针

	XDS100v1 和 XDS100v2	XDS110	XDS200	XDS560
价格/速度	+	+	++	+++
特性	USB 接口闪存编程许多 C2000 EVM 上的内置调试探针	USB 接口闪存编程用于许多全新 TI C2000 EVM 的内置调试探针	USB 接口闪存编程	USB 接口闪存编程代码跟踪选项
制造商	德州仪器 (TI) Blackhawk	德州仪器 (TI)	Blackhawk	德州仪器 (TI) Blackhawk

另请参阅 C2000™ 实时微控制器设计和开发。

3 LaunchPad™ 开发套件和 controlCARD 的调试步骤

尽管所有 LaunchPad™ 开发套件和 controlCARD 都略有不同，但当用户无法连接到 LaunchPad 或 controlCARD 时，仍有一些常见问题需要检查。

3.1 LaunchPad™ 开发套件

用户无法连接到 LaunchPad 的常见原因有几种。要确定其中的哪些步骤与之相关，请按照如何使用 CCS 测试 JTAG 连接 中的说明测试与 LaunchPad 的连接。在执行以下步骤之前，请从 LaunchPad 上断开任何 BoosterPack™ 插件模块或其他外部硬件。

如果 Test Connection 日志指示 Test Connection 无法与调试探针通信，请尝试执行以下步骤：
1. 更换 USB 电缆，并确保在 Target Configuration 文件中选择了正确的调试探针。
2. 检查 LaunchPad 上的硬件开关和跳线，查看是否有开关和跳线可能禁用 JTAG 连接。此信息包含在 LaunchPad 用户指南中，TI.com 的 LaunchPad 存储页面上提供了该指南的链接。
3. 如果 Test Connection 日志仍然显示 Test Connection 无法与调试探针通信，则 LaunchPad 可能已损坏。如果 PC 的设备管理器中未显示调试探针，则尤其可能出现这种情况。
如果 Test Connection 日志提到 Test Connection 无法循环位或 IR 或 DR 路径已损坏，请尝试执行以下步骤：
1. 检查 LaunchPad 上的硬件开关，查看是否有开关禁用 JTAG 连接。此信息包含在 LaunchPad 用户指南中，TI.com 的 LaunchPad 存储页面上提供了该指南的链接。
2. 一些 LaunchPad 设计为仅与 2 引脚 cJTAG 配合使用或仅与 4 引脚 JTAG 配合使用。这在目标配置的 Advanced 选项卡中设置。确保正确对其进行设置。
3. 如果 Test Connection 日志仍然指示 Test Connection 无法循环位，则 LaunchPad 可能已损坏。
如果 Test Connection 日志指示已通过测试，但代码仍然无法加载到器件中，请尝试执行以下步骤：
1. 使用 LaunchPad 上的开关将器件置于等待引导模式。如果随后可以按照手动启动 步骤进行连接，则很可能是先前刷写的某些代码阻止了连接。
2. 如果仍无法建立连接，或者如果连接有效但无法加载代码，则器件可能已被锁定。

3.2 controlCARD

与 LaunchPad 开发套件类似，这里提供了几种无法连接到 controlCARD 的常见原因。要确定涉及其中的哪些步骤，请参阅如何使用 CCS 测试 JTAG 连接 链接以查看 Test Connection 说明。在执行以下步骤之前，请从 controlCARD 上断开任何外部硬件。

如果 Test Connection 日志提到主机 PC 无法与调试探针通信，请在使用板载调试探针时尝试以下步骤：
1. 尝试更换 USB 电缆，并确保在 Target Configuration 文件中选择了正确的调试探针。
2. 检查 controlCARD 上用于选择 JTAG 信号是来自板载调试探针还是扩展坞的硬件开关。此信息包含在 controlCARD 用户指南中，TI.com 的 controlCARD 存储页面上提供了该指南的链接。
3. 如果 Test Connection 日志仍指示未建立与调试探针的通信，则 controlCARD 可能已损坏。
如果 Test Connection 日志指示仍然未建立与调试探针的通信，请在使用独立调试探针时尝试执行以下步骤：
1. 尝试更换连接到调试探针的 USB 电缆。
2. 如果 Test Connection 日志仍指示未建立与调试探针的通信，则调试探针可能已损坏。
如果 Test Connection 日志指示调试探针无法循环位或 IR 或 DR 路径已损坏，请尝试执行以下步骤：
1. 检查 controlCARD 上的硬件开关，查看是否有开关禁用 JTAG 连接。此信息包含在 controlCARD 用户指南中，TI.com 的 controlCARD 存储页面上提供了该指南的链接。
2. 如果 Test Connection 日志仍指示调试探针无法循环位，则 controlCARD 可能已损坏。
如果 Test Connection 日志指示已通过测试，但代码无法加载到器件中，请尝试执行以下步骤：
1. 使用 controlCARD 上的开关将器件置于等待引导模式。如果按照手动启动 说明成功连接，则错误很可能是所刷写的某些代码阻止了连接。
2. 如果仍无法建立连接，或者如果连接成功但无法加载代码，则器件可能已被锁定。

4 常见错误代码

本节列出了 Code Composer Studio 在 Test Connection 操作、尝试连接或尝试将代码加载到器件期间出现的几个常见错误代码。如果相应的调试步骤未解决问题，请在 TI 的 E2E™ 论坛中搜索具有相同错误代码的任何其他主题。

请参阅如何使用 CCS 测试 JTAG 连接 链接以查看 Test Connection 说明，并且另请参阅手动启动 说明以手动连接到器件和加载代码。

调试错误代码时，请使用以下流程：

运行 Test Connection 以验证 JTAG 信号是否正确连接
按照前面的说明连接到器件以进行手动启动
将代码加载到器件中

4.1 常见错误代码

表 4-1 列出了常见错误代码和相关的调试步骤。

表 4-1 常见错误代码表

错误消息调试步骤

错误消息	调试步骤
`This error is generated by TI's USCIF driver or utilities. The value is '-233' (0xffffff17). The title is 'SC_ERR_PATH_BROKEN'. The explanation is: The JTAG IR and DR scan-paths cannot circulate bits, they may be broken. An attempt to scan the JTAG scan-path has failed. The target's JTAG scan-path appears to be broken with a stuck-at-ones or stuck-at-zero fault.`	通常在未正确连接 JTAG 信号时报告此错误，但此错误也可能是由信号质量不佳引起的。当 TDI 和 TDO 在运行时用作通用输入/输出 (GPIO) 时，如果调试探针使用 4 引脚 JTAG，也会发生这种情况。如果上拉或下拉电阻器对信号线影响太大，也会发生这种情况，因此请在调试时尝试将其移除。如果器件无法正常引导，则有时会出现此错误。使用示波器观察电源轨和 XRSn，以确保器件正常引导并且 XRSn 变为高电平。由于看门狗的影响，预计 XRSn 会在未编程的器件上定期重新引导。请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。
`Error connecting to the target: (Error -1015 @ 0x0) Device is not responding to the request. Device may be locked, or the debug probe connection may be unreliable. Unlock the device if possible (e.g. use wait in reset mode, and power-cycle the board.) If error persists, confirm configuration and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).`	1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。 2.将器件设置为等待引导模式。 3.按照手动启动说明进行操作，连接到器件。 4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。 5.重试以对器件进行编程。 6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？
`Error connecting to the target: (Error -151 @ 0x0) One of the FTDI driver functions used during the connect returned bad status or an error. The cause may be one or more of: no XDS100 is plugged in, invalid XDS100 serial number, blank XDS100 EEPROM, missing FTDI drivers, faulty USB cable.` `Use the xds100serial command-line utility in the 'common/uscif' folder to verify the XDS100 can be located.` `(Emulation package 8.0.903.2)`	1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。 2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。 3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。
`Trouble Reading Register PC: (Error -1156 @ 0x0) Device may be operating in low-power mode. Do you want to bring it out of this mode? Choose 'Yes' to force the device to wake up and retry the operation. Choose 'No' to retry the operation without waking the device.`	1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。 2.将器件设置为等待引导模式。 3.按照手动启动说明进行操作，连接到器件。 4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。 5.重试以对器件进行编程。 6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？
`C28xx_CPU1: Error: (Error -1044 @ 0x0) The debug probe reported an error. Confirm debug probe configuration and connections, reset the debug probe, and retry the operation.`	尝试在不对目标 MCU 进行下电上电的情况下对调试探针进行下电上电。尝试更可靠的 JTAG 设置，例如较低的时钟频率。
`The value is '-230' (0xffffff1a).` `The title is 'SC_ERR_PATH_MEASURE'.` `The explanation is: The measured lengths of the JTAG IR and DR scan-paths are invalid.` `This indicates that an error exists in the link-delay or scan-path.`	当 JTAG 信号的信号质量较差时，通常会报告此错误。尝试降低 TCK 频率并检查布线长度。请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。
`C28xx_CPU1: Trouble Setting Breakpoint with the Action "Continue or Finish Stepping" at 0x83146: (Error -1066 @ 0x83146) Unable to set/clear requested breakpoint. Verify that the breakpoint address is in valid memory. (Emulation package 9.13.0.00201) C28xx_CPU1: Breakpoint Manager: Retrying with a AET breakpoint`	对于某些器件，在通过闪存运行代码时只允许有一个断点，因为必须使用硬件断点。查看器件数据表，以了解硬件断点数量。
`Error Initializing Emulator: (Error -2083 @ 0x0) Unable to communicate with the debug probe. Confirm debug probe configuration and connections, reset the debug probe, and retry the operation.`	1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。 2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。 3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。
`Error connecting to the target: (Error -2131 @ 0x0) Unable to access the device register. Reset the device, and retry the operation. If error persists, confirm configuration, pwer-cycle the board, and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).`	1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。 2.将器件设置为等待引导模式。 3.按照手动启动说明进行操作，连接到器件。 4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。 5.重试以对器件进行编程。 6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？
`This error is generated by TI's USCIF driver or utilities.` `The value is '-242' (0xffffff0e).` `The title is 'SC_ERR_ROUTER_ACCESS_SUBPATH'.` `The explanation is: A router subpath could not be accessed.` `The board configuration file is probably incorrect.`	1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。 2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。 3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。
`Error connecting to the target: (Error -267 @ 0x0) The controller could not detect valid target supply. JTAG connection and/or connection setting specifying voltage level.`	仅当调试探针上的 VTREF 引脚未连接到 3.3V 时才会出现该错误消息。确保目标板已通电。
`C28xx: Failed CPU Reset: (Error -1137 @ 0x0) Device is held in reset. Take the device out of reset, and retry the operation.`	1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。 2.将器件设置为等待引导模式。 3.按照手动启动说明进行操作，连接到器件。 4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。 5.重试以对器件进行编程。 6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？
`The JTAG IR Integrity scan-test has failed.` `The JTAG DR Integrity scan-test has failed.`	当 JTAG 信号的信号质量较差时，会报告此错误。尝试降低 TCK 频率并检查布线长度。请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。

This error is generated by TI's USCIF driver or utilities.
The value is '-233' (0xffffff17).
The title is 'SC_ERR_PATH_BROKEN'.
The explanation is: The JTAG IR and DR scan-paths cannot circulate bits, they may be broken.
An attempt to scan the JTAG scan-path has failed.
The target's JTAG scan-path appears to be broken with a stuck-at-ones or stuck-at-zero fault.

通常在未正确连接 JTAG 信号时报告此错误，但此错误也可能是由信号质量不佳引起的。

当 TDI 和 TDO 在运行时用作通用输入/输出 (GPIO) 时，如果调试探针使用 4 引脚 JTAG，也会发生这种情况。

如果上拉或下拉电阻器对信号线影响太大，也会发生这种情况，因此请在调试时尝试将其移除。

如果器件无法正常引导，则有时会出现此错误。使用示波器观察电源轨和 XRSn，以确保器件正常引导并且 XRSn 变为高电平。由于看门狗的影响，预计 XRSn 会在未编程的器件上定期重新引导。

请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。

Error connecting to the target: (Error -1015 @ 0x0) Device is not responding to the request. Device may be locked, or the debug probe connection may be unreliable. Unlock the device if possible (e.g. use wait in reset mode, and power-cycle the board.) If error persists, confirm configuration and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).

1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。

2.将器件设置为等待引导模式。

3.按照手动启动 说明进行操作，连接到器件。

4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。

5.重试以对器件进行编程。

6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？

Error connecting to the target: (Error -151 @ 0x0) One of the FTDI driver functions used during the connect returned bad status or an error. The cause may be one or more of: no XDS100 is plugged in, invalid XDS100 serial number, blank XDS100 EEPROM, missing FTDI drivers, faulty USB cable.

Use the xds100serial command-line utility in the 'common/uscif' folder to verify the XDS100 can be located.

(Emulation package 8.0.903.2)

1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。

2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。

3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。

Trouble Reading Register PC: (Error -1156 @ 0x0) Device may be operating in low-power mode. Do you want to bring it out of this mode? Choose 'Yes' to force the device to wake up and retry the operation. Choose 'No' to retry the operation without waking the device.

1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。

2.将器件设置为等待引导模式。

3.按照手动启动 说明进行操作，连接到器件。

4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。

5.重试以对器件进行编程。

6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？

C28xx_CPU1: Error: (Error -1044 @ 0x0) The debug probe reported an error. Confirm debug probe configuration and connections, reset the debug probe, and retry the operation.

尝试在不对目标 MCU 进行下电上电的情况下对调试探针进行下电上电。尝试更可靠的 JTAG 设置，例如较低的时钟频率。

The value is '-230' (0xffffff1a).

The title is 'SC_ERR_PATH_MEASURE'.

The explanation is: The measured lengths of the JTAG IR and DR scan-paths are invalid.

This indicates that an error exists in the link-delay or scan-path.

当 JTAG 信号的信号质量较差时，通常会报告此错误。尝试降低 TCK 频率并检查布线长度。

请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。

C28xx_CPU1: Trouble Setting Breakpoint with the Action "Continue or Finish Stepping" at 0x83146: (Error -1066 @ 0x83146) Unable to set/clear requested breakpoint. Verify that the breakpoint address is in valid memory. (Emulation package 9.13.0.00201) C28xx_CPU1: Breakpoint Manager: Retrying with a AET breakpoint

对于某些器件，在通过闪存运行代码时只允许有一个断点，因为必须使用硬件断点。查看器件数据表，以了解硬件断点数量。

Error Initializing Emulator: (Error -2083 @ 0x0) Unable to communicate with the debug probe. Confirm debug probe configuration and connections, reset the debug probe, and retry the operation.

1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。

2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。

3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。

Error connecting to the target: (Error -2131 @ 0x0) Unable to access the device register. Reset the device, and retry the operation. If error persists, confirm configuration, pwer-cycle the board, and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).

1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。

2.将器件设置为等待引导模式。

3.按照手动启动 说明进行操作，连接到器件。

4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。

5.重试以对器件进行编程。

6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？

This error is generated by TI's USCIF driver or utilities.

The value is '-242' (0xffffff0e).

The title is 'SC_ERR_ROUTER_ACCESS_SUBPATH'.

The explanation is: A router subpath could not be accessed.

The board configuration file is probably incorrect.

1.检查目标配置文件，确保选择了正确的调试探针。

2.检查 PC 设备管理器中是否显示了调试探针。

3.尝试更换 USB 电缆，或尝试使用其他调试探针以确保正在使用中的探针未损坏。

Error connecting to the target: (Error -267 @ 0x0) The controller could not detect valid target supply. JTAG connection and/or connection setting specifying voltage level.

仅当调试探针上的 VTREF 引脚未连接到 3.3V 时才会出现该错误消息。确保目标板已通电。

C28xx: Failed CPU Reset: (Error -1137 @ 0x0) Device is held in reset. Take the device out of reset, and retry the operation.

1.验证目标配置中的 Test Connection 是否通过。如果连接失败，请按照适用于该错误代码的步骤进行操作。

2.将器件设置为等待引导模式。

3.按照手动启动 说明进行操作，连接到器件。

4.验证您是否能够在存储器浏览器中读取 PARTID。

5.重试以对器件进行编程。

6.如果应用这些步骤仍然无法清除错误，请检查以下各项：器件上是否有密码位置？片上闪存工具设置是怎样的？是否只能对 RAM 进行编程？

The JTAG IR Integrity scan-test has failed.

The JTAG DR Integrity scan-test has failed.

当 JTAG 信号的信号质量较差时，会报告此错误。尝试降低 TCK 频率并检查布线长度。

请参阅硬件设计指南的有缓冲情况部分。

5 JTAG 链中的多个器件

JTAG 标准允许单个 JTAG 调试探针与多个器件进行菊花链连接。实际上，各种约束会限制可在链中连接的目标器件数量。XDS 类调试器都具有有限数量的指令寄存器 (IR) 位，调试探针可以在预期看到返回的位之前循环这些位。许多较旧的 C2000 器件都要求每个器件循环 38 个 IR 位，而由于具有 ICEPick JTAG 路由控制器，所有较新的器件只需循环 6 个 IR 位。在撰写本应用手册时，以下器件具有 ICEPicks：F2807x、F28M3x、F2837xD、F2837xS、F28004x、F2838x、F28002x、F28003x、F280013x、F280015x、F28P65x 和 F28p55x。要确定器件是否具有 ICEPick，请使用 Code Composer Studio 来查看目标配置的 Advanced 选项卡，如图 5-1 所示。

图 5-1 目标配置高级视图

对于没有 ICEPick 的器件，这意味着 XDS100、XDS110 和 XDS200 调试探针只能在一个链中可靠地连接最多两个器件。但是，使用 ICEPick 可以在 JTAG 链中连接多达 12 个器件。XDS560 可以在没有 ICEPick 的情况下可靠地连接到三个器件，并且可以通过 ICEPick 连接多达 18 个器件。另请参阅 TI ICEPick Module Type C 参考指南。

6 JTAG 连接调试流程

以下流程图提供了隔离和执行常见故障排除建议的分步指导，以解决 JTAG 连接问题。如果在流程结束时仍有问题，请将问题提交至 TI 工程师对工程师 C2000 支持论坛 以获得支持。

6.1 整体调试流程

如何使用这些流程图：

查看图 6-1中的步骤，并首先浏览高压隔离流程。即使隔离不是主要问题，这也很重要，因为隔离可能会影响 PCB 的仿真方面。
按照 JTAG 调试主流程图操作。完成中间步骤后，返回到主流程，如果仍有问题，则继续。
如果在使用所有流程元素后无法解决问题，请向 TI E2E 支持论坛提交问题。节 7末尾的列表提供了问题中应包含哪些内容，以能够最为高效地获得 TI 的响应。

图 6-1 整体调试流程

6.2 高压隔离检查流程

许多 C2000 应用本质上都是大功率应用。因此，在调试时，应将目标板的电源平面与主机隔离。许多 TI 制造的电路板都具有隔离仿真，或可以使用板载选项来实现它。图 6-2 显示了用于帮助确定是否存在隔离式 JTAG 的流程图，如果存在，则对这些系统中的常见问题进行故障排除。另外还有独立的调试探针也提供隔离；此流程与这些探针无关。

图 6-2 JTAG 隔离预检查