ZHCA934A August 2018 – March 2019 MSP430FR2512 , MSP430FR2522 , MSP430FR2532 , MSP430FR2533 , MSP430FR2632 , MSP430FR2633
现在已经定义了信号“S”,还必须定义噪声“N”。最高效的做法是像定义信号那样定义噪声,以便能够轻松比较这两个值(例如使用 SNR 分析)。这意味着系统中的噪声被定义为并非由真实触摸或接近事件导致电容发生的最大实测变化。同理,噪声水平“N”被定义为与真实触摸或接近事件的精确检测不相关、因此会对精确检测产生干扰的实测电容变化百分比。
电容式触控界面会受到多个噪声源的干扰,例如:
在噪声方面面临的挑战在于将所有可能的噪声源组合到一个噪声值中,以供 SNR 和设计裕度分析使用。
Figure 6 按电容变化百分比显示了触控和非触控条件下的自模式按钮测量结果。噪声被定义为系统噪声的总和导致的电容变化百分比(请参阅图中蓝色的“噪声”行)。
NOTE
在使用 CapTIvate MCU 开发的过程中测量物理电极时,可以利用 CapTIvate 设计中心的 SNR 工具视图来测量以电容变化百分比表示的噪声水平“N”。