ZHCSZ33 October 2025 DRV8311-Q1
PRODUCTION DATA
功率耗散
DRV8311-Q1 中的功率损耗包括待机功率损耗、LDO 功率损耗、FET 导通和开关损耗以及二极管损耗。FET 导通损耗在 DRV8311-Q1 的总功率耗散中占主导地位。在启动和故障情况下,输出电流远大于正常电流;务必将这些峰值电流及持续时间考虑在内。总器件耗散是三个半桥中每个半桥耗散的总功率。器件可耗散的最大功率取决于环境温度和散热。请注意,RDS,ON 随温度升高而增加,因此随着器件发热,功率耗散也会增大。在设计 PCB 和散热时,应考虑这一点。
表 9-3 列出了梯形控制和场定向控制的每个损耗计算公式的摘要。
| 损耗类型 | 梯形控制 | 场定向控制 |
|---|---|---|
| 待机功耗 | Pstandby = VVM x IVM_TA | |
| LDO(来自 VM) | PLDO = (VVIN_AVDD - VAVDD) x IAVDD | |
| FET 导通 | PCON = 2 x (IPK(trap))2 x RDS,ON(TA) | PCON = 3 x (IRMS(FOC))2 x RDS,ON(TA) |
| FET 开关 | PSW = IPK(trap) x VPK(trap) x trise/fall x fPWM | PSW = 3 x IRMS(FOC) x VPK(FOC) x trise/fall x fPWM |
| 二极管(死区时间) | Pdiode = 2 x IPK(trap) x VF(diode) x tDEAD x fPWM | Pdiode = 6 x IRMS(FOC) x VF(diode) x tDEAD x fPWM |
结温估算
要根据功率损耗计算芯片的结温,请使用方程式 17。请注意,热阻 RθJA 取决于 PCB 配置,例如环境温度、PCB 层数、覆铜厚度以及 PCB 尺寸。
请参阅 BLDC 集成 MOSFET 热计算器估算不同用例中的近似器件功率耗散和结温。