ZHCU458J March 2018 – February 2025 TMS320F28P550SG , TMS320F28P550SJ , TMS320F28P559SG-Q1 , TMS320F28P559SJ-Q1
本设计中的被测器件 (DUT) 的设置和运行涉及以下几个部分:
对本设计进行供电和评估所需的测试设备如下:
该设计遵循高速边缘卡 (HSEC) 概念。本设计可通过兼容的 HSEC 控制卡在 C2000™ MCU 产品系列的多个器件之间进行扩展。表 3-1 中列出了用于控制 MCU 功率级的重要资源。