ZHCAFX6 October 2025 HDC3020
问题说明
客户在 PCB 上部署了 HDC3020,并在组装后评估期间观察到器件子集与基准相比存在正 RH 偏移。两个受影响的器件在从电路板上拆焊后,已退回 TI 进行分析。
调查阶段
初始步骤是在受控 RH 室中的各种湿度水平下测试退回的器件。与已知良好的控制单元相比,返回的器件显示出一致的 RH 偏移,但没有增益误差。由于误差仅限于偏移,因此调查重点关注暂时性吸湿性,而非化学污染。这种 RH 偏移如图 7-1 所示。
由于只是 RH 偏移而非 RH 增益,因此调查重点关注过度吸湿作为潜在原因,而非化学污染。为了缓解疑似由湿度引起的误差,在 100°C 下将传感器烘烤 2 小时并重新测试。烘烤成功恢复了 RH 精度。如果这种方法失败,则考虑在 100°C 下进行 10 小时二次烘烤。如果偏移仍然存在,则表明由于环境应力或可能的化学污染而造成永久性损坏。
烘烤 HDC3020 后,传感器能够消除 RH 偏移。客户退回的 RH 传感器的 RH 精度提高,如图 7-2 所示。
为了找出根本原因,用户需要找到表现出这种偏移的 HDC3020 与无偏移的器件之间的差异化信息或采取的步骤。排除批次差异或应用差异后,用户发现所有正偏移的传感器都由一家特定制造商组装。该 PCBA 制造商可能在组装或存储期间持续将 HDC3020 暴露于高 RH 条件 (>70%),因而导致了正 RH 偏移。
结论