ZHCSOF1A July 2023 – September 2023 LM74912-Q1
PRODUCTION DATA
LV124 标准中规定的 E-10 测试可检查电子模块对于因接触问题或继电器反弹而导致的电源输入短时中断问题是否具有抗扰能力。该测试(案例 2)过程中会对输入施加微短路,持续时间短至 10µs 至几 ms。为了达到功能通过状态 A,电子模块需要在 E-10 测试(案例 2)期间以 100µs 的持续时间不间断运行。与单栅极驱动控制器相比,LM74912-Q1 的双栅极驱动架构(DGATE 和 HGATE)能够达到功能通过状态 A,并在输出端提供最佳保持电容。当输入微短路持续 100µs 时,LM74912-Q1 通过将 DGATE 短接至阳极(MOSFET 的源极)在 0.5µs 内快速关断 MOSFET Q1 以防止输出放电,而 HGATE 保持导通状态以使 MOSFET Q2 保持导通状态,从而在输入短路条件消失后实现快速恢复。
在 E10 输入电源中断测试案例 2 期间 LM74912-Q1 的性能如图 9-4 所示。输入短路条件消失后,输入电压恢复,MOSFET Q1 在 130μs 内重新导通。请注意,双栅极驱动拓扑允许 MOSFET Q2 在测试期间保持导通状态,并有助于更快地恢复输入功率。在整个持续时间内,输出电压保持不受干扰,从而达到功能状态 A。