ZHCSIS3E September 2018 – April 2026 DP83869HM
PRODUCTION DATA
该器件包含内部 PRBS 内置自检 (BIST) 电路,可适应电路内测试或诊断。BIST 电路可用于测试发送和接收数据路径的完整性。BIST 可以通过两个内部环回(数字或模拟)执行,也可以通过利用电缆固定装置的外部环回进行。BIST 采用真实数据包和数据包间间隙 (IPG) 格式来模拟线路上的假随机数据传输场景。BIST 可实现对数据包长度和 IPG 的完全控制。
BIST 采用独立的发送和接收路径,且发送时钟能够生成假随机序列的连续流。该器件为 BIST 生成一个 15 位假随机序列。接收到的数据将与 BIST 线性反馈移位寄存器 (LFSR) 生成的假随机数据进行比较,以确定 BIST 通过或失败状态。PRBS 校验器接收到的错误字节数存储在 PRBS_TX_CHK_CTRL register (39h)。可以从 GEN_STATUS2 寄存器 (17h) 读取状态:PRBS 校验器是否锁定到传入接收位流、PRBS 是否失去同步,以及数据包发生器是否处于繁忙状态。若要识别适当数据接收的起始位置,需要锁定和同步指示,而对于任何链路故障或数据损坏,最能起到指示作用的是 PRBS_TX_CHK_CTRL 寄存器 (39h) 中错误计数器的内容。接收到的字节数存储在 PRBS_TX_CHK_BYTE_CNT (3Ah) 中。
通过使用 BIST_CONTROL 寄存器 (16h),可以将 PRBS 测试置于连续模式。在连续模式下,当其中一个 PRBS 计数器达到最大值时,此计数器再次从零开始计数。PRBS 模式在桥接模式下不适用,不得使用。
BIST 配置示例: