ZHCSKM7I December 2019 – August 2025 DP83826E , DP83826I
PRODUCTION DATA
DP83826 包含内部 PRBS 内置自检 (BIST) 电路，可适应电路内测试和诊断。BIST 电路可用于测试发送和接收数据路径的完整性。BIST 可以通过两个内部环回（数字或模拟）执行，也可以通过利用电缆固定装置的外部环回进行。BIST 采用真实数据包和数据包间间隙 (IPG) 格式来模拟线路上的假随机数据传输场景。BIST 可实现对数据包长度和 IPG 的完全控制。
BIST 数据包长度由 BIST 控制和状态寄存器 2（BICSR2，地址 0x001C）中的位 [10:0] 进行控制。BIST IPG 长度由 BIST 控制和状态寄存器 1（BICSR1，地址 0x001B）中的位 [7:0] 进行控制。
BIST 采用独立的发送和接收路径，且发送时钟能够生成假随机序列的连续流。该器件为 BIST 生成一个 15 位假随机序列。接收到的数据将与生成的假随机数据进行比较以确定通过/失败状态。PRBS 校验器接收到的错误字节数存储在 BICSR1 的位 [15:8] 中。可以从 BIST 控制寄存器（BISCR，地址 0x0016）读取 PRBS 锁定状态和同步。
使用 BISCR 中的位 [14] 可以将 PRBS 测试置于连续模式。在连续模式下，当 BIST 错误计数器达到最大值时，此计数器再次从零开始计数。要读取 BIST 错误计数，必须将 BICSR1 中的位 [15] 设置为“1”。该设置锁定 BIST 错误的当前值，以供读取。设置第 [15] 位会清除 BIST 错误计数器。