ZHCAB22A November   2017  – November 2020 TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1

 

  1.   商标
  2. 引言和范围
  3. SRAM 位阵列
  4. SRAM 故障来源
    1. 3.1 制造缺陷
      1. 3.1.1 时间零点故障
      2. 3.1.2 潜在故障
    2. 3.2 电路随使用次数的增加发生漂移
    3. 3.3 电路过应力
    4. 3.4 软错误
      1. 3.4.1 放射性事件
      2. 3.4.2 动态电压事件
      3. 3.4.3 错误来源总结
  5. 用于管理电子系统中存储器故障的方法
    1. 4.1 启动测试
    2. 4.2 系统内测试
    3. 4.3 奇偶检测
    4. 4.4 检错与纠错 (EDAC)
    5. 4.5 冗余
  6. 比较和结论
  7. C2000 存储器类型示例
    1. 6.1 TMS320F2837xD
  8. 存储器类型
    1. 7.1 专用 RAM(Mx 和 Dx RAM)
    2. 7.2 本地共享 RAM (LSx RAM)
    3. 7.3 全局共享 RAM (GSx RAM)
    4. 7.4 CPU 消息 RAM (CPU MSGRAM)
    5. 7.5 CLA 消息 RAM (CLA MSGRAM)
  9. 总结
  10. 参考文献
  11. 10修订历史记录

用于管理电子系统中存储器故障的方法

本节介绍了多种可用于管理电子系统中存储器故障的方法。虽然本节的内容专门针对 SRAM,但大部分信息也适用于其他存储器,例如 ROM 和闪存。本节的内容是从系统设计人员或集成商的角度出发进行描述的,但也考虑了先前进行的与集成电路器件相关的讨论。

即使在安全注意事项的范畴内,针对存储器故障管理也存在不同的看待角度。

  • 安全状态:当发现错误时,使系统进入安全状态。
  • 系统可用性:在某些情况下,当发现错误时继续运行。
  • 失效防护:即使已发现错误,系统也正常运行。

以上每一种角度都会增加系统成本。根据市场的要求,可以很容易证明额外的成本是合理的。或者,这些额外成本在其他目标市场中可能会令人望而却步。