ZHCAB22A November 2017 – November 2020 TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1
由于生产测试中的特殊算法导向和广泛的裕度,在器件集成到系统中之前就涵盖了时间零点缺陷机制。在成熟的半导体工艺中,大多数缺陷 (>98%) 是通过常规 March 算法(例如 March13n)捕获的。在更先进的工艺节点 (<65nm) 中,需要使用更先进的算法才能实现这一点。