ZHCAB22A November 2017 – November 2020 TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-EP , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1
在启动时测试 SRAM 无法解决上述三个角度的问题。不过,即使在系统运行时无法进行测试,在启动时测试 SRAM 也会产生很大的附加值。
半导体行业达成共识,“在系统出现故障时,用户自行对系统进行下电已然非常糟糕,但更糟糕的是在自行下电后再对系统进行上电”。这是因为您无法完全管理系统(或系统元件)上电和下电期间的电压和电流摆动。器件在设计时已经考虑到了这个问题,但如果要发生破坏性电源事件,在上电/下电期间发生的概率更大。因此,在上电时测试 SRAM 可以解决最有可能损坏电路的问题。
此外,SRAM 在启动时更容易测试,因为系统上下文尚未加载,因此没有要保存和恢复的上下文。嵌入式 CPU 执行的 SRAM 测试需要大量的 CPU 周期,并且在与系统操作共享 CPU 资源的情况下无法轻松或有效地完成。